【技术实现步骤摘要】
指纹识别芯片测试设备
本专利技术属于集成电路测试领域,尤其涉及一种指纹识别芯片测试设备。
技术介绍
指纹识别芯片被应用到各种领域,比如手机上、打卡机上等。为了保证指纹识别芯片的合格率,在指纹识别芯片出厂之前需要对指纹识别芯片进行测试。传统的指纹识别芯片测试设备仅能对单工位逐颗进行测试,这种测试设备测试效率低,生产中需要大量劳动力来保证产量,因此,设计一种多工位指纹设别芯片基板测试设备来提高指纹识别芯片测试效率成为该行业亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服目前单工位指纹识别芯片测试效率低的不足,提供一种多工位指纹设别芯片基板测试设备,其能够对指纹识别芯片基板进行多工位测试。本专利技术提供了一种指纹识别芯片测试设备,该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和和指纹模拟组件,该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,该探针模组包含至少两组探针,至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机,芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片,指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与承载台上的同数量的指纹识别芯片一一 ...
【技术保护点】
一种指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和和指纹模拟组件,所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,所述探针模组包含至少两组探针,所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机,所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片,所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触,所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。
【技术特征摘要】
1.一种指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和和指纹模拟组件,所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,所述探针模组包含至少两组探针,所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机,所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片,所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触,所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。2.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述指纹模拟组件连接的第一驱动装置,所述第一驱动装置带动所述指纹模拟组件在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。3.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备还包括打点头和第二驱动装置,所述第二驱动装置与所述打点头连接,所述第二驱动装置带动所述打点头在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。4.根据权利要求3所述的指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述打点头连接的第三驱动装置,所述第三驱动装置带动所述打点头在需要打点...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘三利,王露露,张佳佳,潘杰,李文斌,
申请(专利权)人:中科芯集成电路股份有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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