一种测试存储器的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种测试存储器的方法和装置，存储器包括自测试控制器，方法包括：将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器；通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。本发明专利技术实施例不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。

Method and device for testing memory

The embodiment of the invention provides a method and a device for testing a memory, the memory includes self test methods: memory controller is connected with the first test equipment, starting from the test command to the memory through the first test equipment sent by self testing to determine the controller; the memory function, and according to the function cycle test for memory, until the number of cycles is equal to the preset maximum number of tests; and second memory test equipment connected by second test equipment for full function test for memory, and when any function test fails, memory failure judgment. The embodiment of the invention not only simplifies the aging test process, improve the convenience and mass production of memory aging test the output efficiency, but also significantly reduce the aging test on the test equipment requirements, thereby reducing the cost of product aging test.

【技术实现步骤摘要】
一种测试存储器的方法和装置
本专利技术涉及存储器
，特别是涉及一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置。
技术介绍
存储器由于容量大，器件密度高，存在严重的早期失效问题，且这个问题随着存储器工艺尺寸的缩小而加剧。存储器的失效概率与使用次数之间的关系符合图1所示浴缸曲线的特性，即开始使用时存储器的失效概率高，当达到一定使用次数后存储器的失效概率就会大幅降低，直到达到存储器的使用寿命后，存储器的失效概率会继续升高。通过老化测试能够提高存储器的可靠性。老化测试即在存储器出厂之前，对存储器进行反复地擦除、写、读等操作，将早期失效的存储器个体被检测出来，这样出厂时候的产品失效概率已经处于浴缸曲线的底部，失效概率大幅降低。现有老化测试方法是使用老化测试设备，对存储器依次进行擦、写、校验以及所需的其他操作，并循环特定的次数，从而筛除早期失效的存储器个体。但是，现有老化测试方法中还存在以下缺点：在批量生产存储器的时候，需要用老化测试设备对存储器进行反复的擦除、写、读等操作，时间很长，由于老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵，因此，现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试存储器的方法，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

【技术特征摘要】
1.一种测试存储器的方法，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述通过所述第一测试设备发送启动自测试指令之前，还包括：设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述自测试控制器根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，包括：当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡洪，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11