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本发明实施例提供了一种测试存储器的方法和装置，存储器包括自测试控制器，方法包括：将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器；通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循...
该专利属于北京兆易创新科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆易创新科技股份有限公司授权不得商用。

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