测量装置和测量方法制造方法及图纸

技术编号:16454833 阅读:30 留言:0更新日期:2017-10-25 18:05
本发明专利技术提供了一种测量装置及测量方法,所述测量装置用以测量被测物体的高度和/或深度,其中,加速度传感器感测所述测量装置的自由落体状态,处理单元根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算所述被测物体的高度和/或深度,即只要执行松开所述测量装置的动作,即可得到被测物体的高度和/或深度,测量非常简便;同时,由于利用的是所述测量装置的部分或者全部自一被测物体处做自由落体运动,其不会受到光线、距离等因素的干扰,即高度和/或深度的测量干扰小,由此也就使得测量非常准确。

Measuring device and measuring method

The present invention provides a method and device for measuring, in order to measure the height of the object and / or depth of the measuring device, the acceleration sensor of the measuring device of free fall, the processing unit based on the acceleration sensor to the free fall state calculation of the measured the height of the object and / or depth, as long as the implementation of release by the measuring apparatus, can be measured the height of the object and / or depth measurement is very convenient; at the same time, as is the use of the measuring device of all or part of the object to be measured at a free fall, it will not be disturbed light, distance and other factors, which interfere with the measurement of height and / or depth, which also makes very accurate measurement.

【技术实现步骤摘要】
测量装置和测量方法
本专利技术涉及勘探测量
,特别涉及一种测量装置和测量方法。
技术介绍
一幢建筑物或一座山体的高度测量一直是专业勘探工程师的专业业务,需用一些笨重的设备和较多的工作人员来执行测量,非常受限。一座山洞的深度测量连专业工程人员也比较棘手。现有测量技术测量高度,主要有相似三角形测量法、激光测量法(全站仪)、红外测量法和超声波测量法。相似三角形测量法,精度最高,但测量过程繁琐且受场所限制。激光测量法(全站仪)高度测量精度差,且测量过程繁琐。红外测量法分为强度测量法和时间测量法,强度测量法外界光线和反色面的干扰大,时间测量法的最远距离也只有几米,非常受限。超声波测量距离短,几乎无法在建筑或者山体测量上应用。因此,如何提供一种测量简便且干扰小的高度测量装置成了本领域技术人员需要解决的一个问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量装置和测量方法,以解决现有技术中很难简便且干扰小的实现高度和/或深度测量的问题。基于上述目的,本专利技术提供一种测量装置,所述测量装置包括:加速度传感器和处理单元,所述处理单元与所述加速度传感器连接,所述加速度传感器用以感测所述测量装置的自本文档来自技高网...
测量装置和测量方法

【技术保护点】
一种测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:加速度传感器和处理单元,所述处理单元与所述加速度传感器连接,所述加速度传感器用以感测所述测量装置的自由落体状态,所述处理单元用以根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算被测物体的高度和/或深度。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:加速度传感器和处理单元,所述处理单元与所述加速度传感器连接,所述加速度传感器用以感测所述测量装置的自由落体状态,所述处理单元用以根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算被测物体的高度和/或深度。2.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述处理单元的数量为一个,所述处理单元用以对所述加速度传感器进行采样以获取所述自由落体状态的时长,并根据重力加速度和所述自由落体状态的时长计算所述被测物体的高度和/或深度。3.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述处理单元的数量为两个,分别为第一处理单元和第二处理单元,其中,所述第一处理单元用以对所述加速度传感器进行采样以获取所述自由落体状态的时长,所述第二处理单元用以根据重力加速度和所述自由落体状态的时长计算所述被测物体的高度和/或深度。4.如权利要求2或3所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括地理定位器,所述地理定位器与所述处理单元连接,所述地理定位器用以获取被测物体所在区域的重力加速度。5.如权利要求4所述的测量装置,其特征在于,当所述自由落体状态时长小于等于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长。6.如权利要求4所述的测量装置,其特征在于,当所述自由落体状态时长大于T时,T表示一预设时长,采用如下公式计算所述被测物体的高度和/或深度:其中,H表示被测物体的高度和/或深度,g表示所述重力加速度,t表示所述自由落体状态时长,C表示空气阻力系数,ρ表示空气密度,S表示做自由落体的测量装置的迎风面积,m表示做自由落体的测量装置的质量。7.如权利要求2或3所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括外壳,所述加速度传感器固定于所述外壳内。8.如权利要求7所述的测量装置,其特征在于,所述外壳的材料为橡胶或者硅胶。9.如权利要求2或3所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括显示单元,所述显示单元与所述处理单元连接,所述显示单元用以显示所述被测物体的高度和/或深度。10.如权利要求2或3所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括电源管理单元,所述电源管理单元与所述处理单元连接,所述电源管理单元用以向所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓登峰董建青胡铁刚
申请(专利权)人:杭州士兰微电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:浙江,33

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