一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路制造技术

本实用新型专利技术涉及原子力显微镜领域，一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路，其装置主要包括具有由电源U、电阻、电流反馈系统、悬臂、针尖、样品与针尖之间的间隙处和样品组成的电流反馈电路、光电反馈系统、压电驱动器、刺状物，其中电源U正极连样品、负极依次连电阻、电流反馈系统、悬臂与针尖；当针尖逼近样品表面到一定距离时，将电源U通过电阻加到针尖，能够在样品与针尖之间的间隙处形成一个高电场；电流反馈系统能够探测针尖与样品之间的微弱电流、并将其与预先设定的电流值比较、其反馈信号输入压电驱动器、能够控制针尖与样品之间的距离，从而使得针尖前端生长出长度几百纳米的垂直于样品表面的符合实验要求的刺状物。

【技术实现步骤摘要】
一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路
本技术涉及一种纳米结构的原子力显微镜针尖的制备领域，特别是能够在常温大气条件下直接在原来的针尖上制备符合实验需求的针尖、制备方法简单有效的一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路。
技术介绍
原子力显微镜(AtomicForceMicroscope，AFM)是利用原子、分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的仪器，其基本原理为：通过将一根纳米级尺度的探针固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上，当针尖与样品非常接近时，针尖尖端的原子与样品表面原子之间的作用力会使所述微米级弹性悬臂弯曲，偏离原来的位置；同时，有一束激光照射到悬臂上，并反射到激光监测器中，弹性悬臂的弯曲导致了激光的偏向，由此得到光斑的偏移量，根据该偏移量以及其振动频率、作为反馈信号，经过特定的反馈系统输入计算机中，计算机能够以此来重建三维图像，从而获得样品表面的形貌及成分信息。原子力显微镜可以在不同模式下工作，这些模式主要有接触模式、轻敲模式、侧向力模式等。在接触模式中，针尖从样品表面划过，从悬臂的偏转可以直接分析出表面的高度图。在轻敲模式或侧向力模式中，有信号源以某个外部参考频率驱动悬本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路，制备原子力显微镜针尖的装置主要包括电阻(1)、悬臂(2)、针尖(3)、样品(4)、样品与针尖之间的间隙处(5)、刺状物(6)、电流反馈系统(7)、光电反馈系统(8)、压电驱动器(9)、电源U，其中电源U正极连样品(4)、负极依次连电阻(1)、电流反馈系统(7)、悬臂(2)与针尖(3)，所述针尖(3)固定于所述悬臂(2)下方，所述样品(4)位于所述针尖(3)下方；当所述针尖(3)逼近所述样品(4)表面到一定距离时，将所述电源U通过所述电阻(1)加到所述针尖(3)，能够在所述样品与针尖之间的间隙处(5)形成一个高电场，从而使得所述针尖(3)前端生长出长度几百...

【技术特征摘要】
1.一种制备原子力显微镜针尖的电流反馈电路，制备原子力显微镜针尖的装置主要包括电阻(1)、悬臂(2)、针尖(3)、样品(4)、样品与针尖之间的间隙处(5)、刺状物(6)、电流反馈系统(7)、光电反馈系统(8)、压电驱动器(9)、电源U，其中电源U正极连样品(4)、负极依次连电阻(1)、电流反馈系统(7)、悬臂(2)与针尖(3)，所述针尖(3)固定于所述悬臂(2)下方，所述样品(4)位于所述针尖(3)下方；当所述针尖(3)逼近所述样品(4)表面到一定距离...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘宏，贾冬玲，张向平，
申请(专利权)人：金华职业技术学院，
类型：新型
国别省市：浙江,33