异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。使检测附着于玻璃板的微小异物的精度提高。异物检测装置具备：照明部，其用于朝向玻璃板的表面照射红外光；摄像部，其用于拍摄玻璃板的被照射红外光的区域；以及判定部，其根据在由摄像部拍摄到的图像中有无具有超过阈值的亮度的像素来判定玻璃板的表面有无异物。成为红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在构成缓冲膜的粉末的粒径的分布范围内，该缓冲膜形成于玻璃板的表面。

【技术实现步骤摘要】
异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法
本专利技术涉及一种异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。
技术介绍
在利用浮法进行的玻璃板的成形中，存在如下的情况：在微小的熔融锡附着于已与熔融锡接触过的玻璃板的下表面的状态下将玻璃板从熔融锡上拉离。附着于玻璃板的下表面的熔融锡在玻璃板被从熔融锡上拉离之后成为氧化锡(浮渣)，从而成为异物。在玻璃板的制造工序中，利用了检测浮渣等异物的技术(专利文献1)。专利文献1：日本专利第5471157号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，专利文献1所记载的技术以检测大小为50μm左右的浮渣为目的，在检测大小为10μm左右的浮渣时，受到芒硝膜等的外部干扰的影响，而存在检测的精度下降或无法检测的问题。鉴于所述情形，本专利技术提供一种能够提高检测附着于玻璃板的微小异物的精度的异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。用于解决问题的方案本专利技术的一个方式是一种异物检测装置，具备：照明部，其用于朝向玻璃板的表面照射红外光；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述红外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄到的图像中有无具有超过阈值的亮度的像素来判定所述玻璃板的表面有无异物，其中，成为所述红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在构成缓冲膜的粉末的粒径的分布范围内，该缓冲膜形成于所述玻璃板的表面。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，所述摄像部被配置在不直接接收反射光的位置，该反射光是从所述照明部照射的所述红外光在所述玻璃板的表面进行了镜面反射所得到的反射光，所述具有超过阈值的亮度的像素是拍摄到所述红外光在所述异物上发生散射所得到的散射光的像素。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，所述红外光的波长被包含在800nm至1400nm范围内。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，所要检测的所述异物的大小不被包含在所述粉末的粒径的分布范围内。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，所述粉末是芒硝。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，在所述照明部中使用发光二极管照明、卤素加热器或激光器。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测装置中，所述摄像部具备使由所述照明部照射的红外线的波长透过的带通滤波器。另外，本专利技术的一个方式是一种异物检测方法，包括以下工序：照射工序，朝向玻璃板的表面照射红外光；摄像工序，拍摄所述玻璃板的被照射所述红外光的区域；以及判定工序，根据在通过所述摄像工序拍摄的图像中有无具有超过阈值的亮度的像素来判定所述玻璃板的表面有无异物，其中，成为所述红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在构成缓冲膜的粉末的粒径的分布范围内，该缓冲膜形成于所述玻璃板的表面。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测方法中，在所述摄像工序中，不直接拍摄所述红外光在所述玻璃板的表面进行了镜面反射的反射光，所述具有超过阈值的亮度的像素是拍摄到所述红外光在所述异物上发生散射所得到的散射光的像素。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测方法中，所述红外光的波长被包含在800nm至1400nm范围内。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测方法中，所要检测的所述异物的大小不被包含在所述粉末的粒径的分布范围内。另外，本专利技术的一个方式为，在所述异物检测方法中，所述粉末是芒硝。另外，本专利技术的一个方式是一种玻璃板的制造方法，包括以下工序：熔融工序，将玻璃的原材料熔融而得到熔融玻璃；成形工序，将所述熔融玻璃成形为连续的板状的玻璃带；缓冷工序，使所述玻璃带一边移动一边逐渐冷却；检查工序，检测所述玻璃带表面的异物；以及切断工序，对所述玻璃带进行切断，在该玻璃板的制造方法中，利用所述异物检测方法进行所述检查工序。专利技术的效果根据本专利技术，能够提高检测附着于玻璃板的微小异物的精度。附图说明图1是示出第一实施方式中的异物检测装置的结构的示意图。图2是从玻璃板的板宽方向观察第一实施方式中的异物检测装置的图。图3是第二实施方式中的应用了异物检测装置的玻璃板的生产线的概要说明图。图4是示出第二实施方式中的玻璃板的制造方法的工序的图。附图标记说明10：异物检测装置；11：照明装置；12：摄像装置；13：判定装置。具体实施方式以下，参照附图说明本专利技术的实施方式中的异物检测装置、异物检测方法以及玻璃板的制造方法。实施方式的异物检测装置检测附着于利用浮法形成的玻璃板的下表面或上表面的大于约10μm的异物。玻璃板的下表面是指在铅垂方向上位于下侧的面，玻璃板的上表面是在铅垂方向上位于上侧的面。以下将玻璃板的上表面和下表面统称为表面。[第一实施方式]图1是示出第一实施方式中的异物检测装置10的结构的示意图。异物检测装置10检测附着于在辊上输送的玻璃板G的表面的异物。作为检测对象的异物例如是附着于与熔融锡接触过的玻璃板G的下表面的浮渣。异物检测装置10具备照明装置11、摄像装置12以及判定装置13。在图1中，将输送玻璃板G的方向设为y轴方向，将沿着玻璃板G的表面且与y轴方向垂直的方向设为x轴方向(板宽方向)，将与玻璃板G的表面垂直的方向(板厚方向)设为z轴方向。照明装置11朝向玻璃板G的检查区域照射具有红外区域的波长的光(以下称为“红外光”。)。照明装置11向玻璃板G的表面在x轴方向上无遗漏地照射红外光。从照明装置11照射的红外光的波长根据构成形成于玻璃板G的下表面的缓冲膜的粉末的粒径来决定。在缓冲膜中使用从碱金属或碱土金属的硫酸盐、碱金属或碱土金属的氯化物、氧化物陶瓷、氮化物陶瓷以及金属硫化物中选择出的至少一种。在缓冲膜中优选使用芒硝(硫酸钠)或碳酸钙。红外光的波长是接近构成缓冲膜的粉末的粒径(以下称为“缓冲膜的粒径”。)的波长，该缓冲膜形成于玻璃板G的下表面。红外光例如是在0.8μm至1.4μm范围内具有强度的峰值的红外区域的光。在缓冲膜的粒径不均匀的情况下，根据测量得到的粒径的平均值、中央值、最频值等统计值来决定红外光的波长的峰值。例如在缓冲膜的粒径以1μm左右为峰值进行分布的情况下，在从照明装置11照射的红外光中选择处于包括波长1μm的范围内且1μm时的强度最强的红外光。优选的是，红外光的波长的分布范围根据缓冲膜的粒径的分布范围来决定。另外，红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在缓冲膜的粒径的分布范围内。作为照明装置11，例如使用LED(LightEmittingDiode：发光二极管)照明、卤素加热器、二氧化碳激光器或YAG激光器。照明装置11也可以具备棒透镜以在玻璃板G的板宽方向上无遗漏地照射红外光。在照明装置11具备棒透镜的情况下，优选使用由针对红外区域的光具有高透过率的合成石英玻璃等形成的棒透镜。另外，在使用激光器作为照明装置11的情况下，照明装置11也可以具备多面镜以在玻璃板G的板宽方向上无遗漏地照射红外光。摄像装置12将玻璃板G的被照明装置11照射红外光的检查区域设为摄像对象。摄像对象包含玻璃板G的宽度方向的两端。作为摄像装置12的摄像传感器，也可以使用针对照明装置11所照射的红外光的波长具有灵敏度的、区域传感器和行传感器中的任一个。摄像装置12配置在不直接接收反射光的位置，该反射光是从照明装置11照射的红外光在玻璃板G的表面进行了镜面反射所得到的反射光。即，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种异物检测装置，具备：照明部，其用于朝向玻璃板的表面照射红外光；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述红外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄到的图像中有无具有超过阈值的亮度的像素来判定所述玻璃板的表面有无异物，其中，成为所述红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在构成缓冲膜的粉末的粒径的分布范围内，该缓冲膜形成于所述玻璃板的表面。

【技术特征摘要】
2016.03.23 JP 2016-0588001.一种异物检测装置，具备：照明部，其用于朝向玻璃板的表面照射红外光；摄像部，其用于拍摄所述玻璃板的被照射所述红外光的区域；以及判定部，其根据在由所述摄像部拍摄到的图像中有无具有超过阈值的亮度的像素来判定所述玻璃板的表面有无异物，其中，成为所述红外光的强度分布中强度最强的波长被包含在构成缓冲膜的粉末的粒径的分布范围内，该缓冲膜形成于所述玻璃板的表面。2.根据权利要求1所述的异物检测装置，其特征在于，所述摄像部被配置在不直接接收反射光的位置，该反射光是从所述照明部照射的所述红外光在所述玻璃板的表面进行了镜面反射所得到的反射光，所述具有超过阈值的亮度的像素是拍摄到所述红外光在所述异物上发生散射所得到的散射光的像素。3.根据权利要求1或2所述的异物检测装置，其特征在于，所述红外光的波长被包含在800nm至1400nm范围内。4.根据权利要求1至3中的任一项所述的异物检测装置，其特征在于，所要检测的所述异物的大小不被包含在所述粉末的粒径的分布范围内。5.根据权利要求1至4中的任一项所述的异物检测装置，其特征在于，所述粉末是芒硝。6.根据权利要求1至5中的任一项所述的异物检测装置，其特征在于，在所述照明部中使用发光二极管照明、卤素加热器或激光器。7.根据权利要求1至6中的任一项所述的异物检测装置，其特征在于，所述摄像部具备使由所述照明部照射的红外线的波长...

【专利技术属性】
技术研发人员：北山大介，塚本徹，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP