The present invention provides a standard pattern generation method and device for data signals, which generates a standard pattern of data signals consisting of signal length, center line, upper and lower limits from a plurality of signal sets. According to an embodiment of the standard pattern of the data signal generation method, which comprises the following steps: sorting at any of a plurality of signals in the set of two signals, receiving a first data signal and the second data signal; for the first data signal and the second signal according to the determined standard pattern length, according to the data; the first signal and the second data signal standard pattern length determined by sampling; to sort samples to the first data signal and the second signal data; through the standard pattern will be sorted by the first data signal and the second signal superimposed to generate the data the first data signal and the second data signal.
【技术实现步骤摘要】
数据信号的标准图案生成方法及装置
本专利技术涉及一种数据信号的标准图案生成方法及装置。更详细而言,涉及一种生成从设备的传感器收集到的数据信号的标准图案的方法及执行该方法的标准图案生成装置。
技术介绍
在如半导体工艺那样制造工艺由多个步骤构成的制造环境的情况下,为了进行产品的质量管理,需要判断工艺的各步骤是否正常执行。因此,执行工艺的各步骤的制造设备具备用于检测设备是否正常操作的传感器。此时,工艺管理者可通过分析从传感器收集到的感测信号,判断制造设备是否正常操作。但是,在如半导体工艺那样通过大规模生产线按时间序列进行各工艺的情况下,需要迅速判断执行工艺的各步骤的制造设备是否正常操作。为了这种迅速的判断,可考虑生成收集到的感测信号的标准图案并将该标准图案用作判断基准的方法。这是因为,在存在作为判断基准的标准图案的情况下,制造工艺的管理者可通过对标准图案和判断对象信号进行比较来直观且迅速地判断制造设备是否发生异常。尽管如此,还未提供有在重复的感测信号之间产生时间延迟的情况下通过感测信号的时间补偿来生成标准图案的方法。特别是,未提供有将感测到的信号的高度值差反映到标准图案的方法。由此,产生如下问题:当感测到与标准图案具有高度值差的信号时,即使感测到的信号值在容许限度内,也判断为该制造设备发生异常。这会在具备大规模生产线的制造环境下导致频繁的运行中止及再次运行,从而产生生产力变差的问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种能够生成多个数据信号之间的标准图案的方法及装置。具体而言,本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种通过对具有时间延迟的重复图案的数 ...
【技术保护点】
一种数据信号的标准图案生成方法,包括以下步骤:接收第一数据信号和第二数据信号;针对所述第一数据信号和所述第二数据信号,分别确定标准图案长度;按确定的标准图案长度对所述第一数据信号和所述第二数据信号进行采样;对分别采样到的所述第一数据信号和所述第二数据信号进行排序;以及通过将排序后的第一数据信号和第二数据信号叠加来生成所述第一数据信号和所述第二数据信号的标准图案,生成的所述标准图案是反映了利用所述排序后的第一数据信号和第二数据信号的高度值来确定的上限值和下限值的标准图案。
【技术特征摘要】
2016.03.17 KR 10-2016-00321211.一种数据信号的标准图案生成方法,包括以下步骤:接收第一数据信号和第二数据信号;针对所述第一数据信号和所述第二数据信号,分别确定标准图案长度;按确定的标准图案长度对所述第一数据信号和所述第二数据信号进行采样;对分别采样到的所述第一数据信号和所述第二数据信号进行排序;以及通过将排序后的第一数据信号和第二数据信号叠加来生成所述第一数据信号和所述第二数据信号的标准图案,生成的所述标准图案是反映了利用所述排序后的第一数据信号和第二数据信号的高度值来确定的上限值和下限值的标准图案。2.根据权利要求1所述的数据信号的标准图案生成方法,其中,对所述第一数据信号和所述第二数据信号进行排序的步骤包括:使采样到的所述第一数据信号以预先设定的单位时间为单位移动;测量采样到的所述第二数据信号和以所述预先设定的单位时间为单位移动后的采样到的所述第一数据信号的高度值;利用测量到的高度值来确定所述第一数据信号和所述第二数据信号的图案差异;以及利用所确定的图案差异来对所述第一数据信号和所述第二数据信号进行排序。3.根据权利要求2所述的数据信号的标准图案生成方法,其中,确定所述第一数据信号和所述第二数据信号的图案差异的步骤包括:对所述测量到的高度值进行比较;计算所述第一数据信号与所述第二数据信号之间的相关系数;以及利用所述测量到的高度值的比较结果和所述相关系数来确定所述图案差异。4.根据权利要求2所述的数据信号的标准图案生成方法,其中,测量采样到的所述第二数据信号和以所述预先设定的单位时间为单位移动后的采样到的所述第一数据信号的高度值的步骤包括:在所述测量到的高度值的差具有最小值时,判断采样到的所述第一数据信号的移动次数;以及利用判断出的采样到的所述第一数据信号的移动次数来对所述第一数据信号和所述第二数据信号进行排序。5.根据权利要求2所述的数据信号的标准图案生成方法,其中,确定所述第一数据信号和所述第二数据信号的图案差异的步骤包括:在使采样到的所述第一数据信号移动之后,判断采样到的所述第一数据信号和采样到的所述第二数据信号的交叉程度;在所述交叉程度为预先设定的值以上的情况下,使采样到的所述第一数据信号进一步移动;测量采样到的所述第二数据信号和进一步移动后的采样到的所述第一数据信号的高度值;以及利用测量到的高度值来确定所述第一数据信号和所述第二数据信号的图案差异。6.根据权利要求5所述的数据信号的标准图案生成方法,其中,在使采样到的所述第一数据信号移动之后,判断采样到的所述第一数据信号和采样到的所述第二数据信号的交叉程度的步骤包括:在所述交叉程度小于预先设定的值的情况下,使采样到的所述第二数据信号以所述预先设定的单位时间为单位移动;测量采样到的所...
【专利技术属性】
技术研发人员:朴寅锡,宣相准,李升埈,安大重,
申请(专利权)人:三星SDS株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国,KR
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