The circuit pattern of the clamp of the invention comprises an end contact with the substrate, and the other end of the judgment of the circuit pattern without abnormal connection probe and guide the probe, set in the base station and the base station in the stationary state and the probe perpendicular to the direction of change position, change the position of the block unit to change the position of the probe guided into the circuit pattern to the target location, according to the pattern of the circuit substrate tolerance can be easy to change the position of the probe.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于电路图案通电检查的夹具。
技术介绍
在印刷电路板制造领域或半导体制造领域通常采用对基板进行测定、处理或检查等等。对基板表面形成的电路图案进行精密的测定、处理、检查等时，要求基板电路图案的公差最小化。然而，实际上很难完全排除治具的公差，基板材料的公差，图案的公差。由于这些公差，利用夹具对基板电路图案可能无法进行可靠的通电检查。在韩国注册专利公报第0809648号揭示维持基板的平坦对电路图案进行检查的基板夹具。但并没有揭示由于公差使电路图案检查受限的相应对策。先行技术文献专利文献韩国注册专利公报第0809648号
技术实现思路
专利技术需要解决的技术课题本专利技术的目的是提供可靠地进行电路图案通电检查的夹具。本专利技术的目的是达成如上所述的技术课题，但并不受限于所述技术课题，对没有提过的其它技术课题通过以下的记载可由在本专利技术
具有通常知识的技术人员应该明确理解。解决课题的技术方案
【技术保护点】
一种夹具，其特征是包含：一端与基板的电路图案接触，另一端与判断所述电路图案有无异常的检查部连接的探针；及导引所述探针，设置在基台上且所述基台在固定的状态下，与所述探针垂直的方向改变位置，且以所述改变位置将所述导引的所述探针位置改变成所述电路图案的目标位置的块体单位。
【技术特征摘要】
2012.11.20 KR 10-2012-01312811.一种夹具，其特征是包含：
一端与基板的电路图案接触，另一端与判断所述电路图案有无异常的检查
部连接的探针；及
导引所述探针，设置在基台上且所述基台在固定的状态下，与所述探针垂
直的方向改变位置，且以所述改变位置将所述导引的所述探针位置改变成所述
电路图案的目标位置的块体单位。
2.根据权利要求1所述的夹具，其特征在于，
所述块体单位分成复数个块体，所述各块体分别独立地改变位置。
3.根据权利要求1所述的夹具，其特征在于，
所述探针包含一端接触所述基板的第1探针，一端与所述第1探针的另一
端接触且另一端连接所述检查部的第2探针，
所述块体单位包含由所述第1探针贯穿且以垂直所述第1探针的方向能改
变位置的锁块体，收容所述第2探针且相对所述锁块体固定的底板块体。
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