The present invention provides a method for determining the radiation sensitive device anti radiation performance index, the method comprises: acquiring a plurality of sample radiation devices by test failure level and calculate the logarithm of LN radiation failure level (RFAILi), logarithmic mean value and standard deviation based on unilateral sample number n, confidence C and survival probability p the confidence interval of KTL (C, N, P), and obtain the one-sided confidence interval; according to the classification criteria of formula calculator; PCC device classification criterion value, which is a radiation sensitive device anti radiation performance index. The method provided by the invention provides more accurate evaluation of the evaluation uncertainty caused by the inconsistency of the radiation response of the device, and provides the guarantee for the successful completion of the model task.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及辐射敏感器件抗辐射性能指标确定
，特别涉及一种采用器件分类判据(PCC)方法确定辐射敏感器件抗辐射性能指标RDM。
技术介绍
为保证卫星空间辐射环境的可靠性而建立空间辐射环境可靠性指标体系，其中辐射敏感器件抗辐射性能指标(RDM)是可靠性的一个重要评定指标，指器件抗辐射性能本征指标与任务要求的抗辐射性能之比，即RDM＝RMF/RSPEC，而辐射设计裕量RDM的确定可以依据理论进行相应的计算获得。目前，对于辐射敏感器件抗辐射性能指标评价方法有批允许不合格品率(LTPD)方法、参数设计裕量方法(PDM)、过试验(overtesting)方法等，现有的这些方法容易受到器件本身对辐射响应的不一致，以及批次性差异等因素的影响，指标的确定不准确。
技术实现思路
(一)所要解决的技术问题本专利技术提供一种确定RDM指标的方法——器件分类判据(PCC)方法。该方法适用于关键器件的抗辐射要求，关键器件的RDM一般在10～100之间。该方法克服了指标容易受到器件本身对辐射响应的不一致，以及批次性差异等因素的影响，使RDM的确定更准确。(二)技术方案本专利技术提供一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法，该方法包括：S1、通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平，并计算辐射失效水平的对数对数平均值和标准差S2、建立样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间KTL(c，n，p)，并获取单边置信区间值；S3、根据式子计算器件分类判据值；PCC值即为辐射敏感器件抗辐射性能指标。<...
【技术保护点】
1.一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法，其特征在于，该方法包括：S1、通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平，计算辐射失效水平的对数ln(RFILi)、对数平均值和标准差S2、建立样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间KTL(c，n，p)，并获取单边置信区间值；S3、根据式子计算器件分类判据值；PCC值即为辐射敏感器件抗辐射性能指标。
【技术特征摘要】
1.一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法，其特征在于，
该方法包括：
S1、通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平，计算辐射失效
水平的对数ln(RFILi)、对数平均值和标准差S2、建立样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间
KTL(c，n，p)，并获取单边置信区间值；
S3...
【专利技术属性】
技术研发人员：王群勇，陈冬梅，阳辉，白桦，陈宇，钟征宇，
申请(专利权)人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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