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本发明提供一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法，该方法包括：通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平，并计算辐射失效水平的对数ln(RFAILi)、对数平均值和标准差建立以样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间KTL(c，n，p)，...
该专利属于北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司授权不得商用。

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