The utility model provides an experimental system for testing LED chip cooling, mainly by the adjustable bracket, a power supply module, thermal insulation material, the measured LED chip, radiator, temperature measuring instrument, the adjustable bracket is composed of a fixing base, a supporting rod and a height adjusting rod, fixed base insulation material is arranged on the adjustable bracket on the above insulation installation test of LED chip, the radiator is installed above the LED chip to be tested. The power supply provides the working voltage for the active cooling device such as LED chip, fan, etc. the temperature measuring device is used to measure the temperature of the LED chip. The experimental system is simple in structure, easy to install and operate. The LED chip can be tested with active cooling and natural heat dissipation.
【技术实现步骤摘要】
本技术LED散热
，具体涉及一种测试LED芯片散热的实验系统。
技术介绍
在现代快速发展的LED照明中，由于LED灯的节能，长寿命和易维护等特点受到人们的青睐。LED照明越来越多的将应用于生产和生活的各个部分，但是目前的技术，还有一定的局限性，主要在LED灯具的寿命以及光效的保持方面会出现巨大的挑战。LED照明灯具的寿命取决于散热、电源技术和灯珠技术，目前得到广泛解决的是灯珠技术和电源技术，灯珠的寿命可以达到2-3万小时的寿命，电源也可以达到1.5-5万小时的寿命，灯珠的寿命直接取决于LED灯具的散热技术。由于散热装置的体积的影响，使得LED灯广泛使用受到很大的限制，因此需要对LED进行改进，以便让LED成为零售业、居住和室外照明应用的主要选择。
技术实现思路
本技术针对以上技术存在的问题，提出一种测试LED芯片散热的实验系统，通过该系统可以对LED芯片工作温度进行测量，该实验系统结构简单，安装操作方便，对LED芯片可以进行主动散热和自然
【技术保护点】
一种测试LED芯片散热的实验系统，主要由可调支架（1‑3）、隔热材料（4）、待测LED芯片（5）、散热器（6）、电源（7）、温度测量仪（8）组成；所述可调支架由固定底座（1）、支撑杆（2）和高度调节杆（3）组成，所述隔热材料（4）安装在可调支架的固定底座（1）上，隔热材料（4）的上方安装待测LED芯片（5），所述散热器（6）安装在待测LED芯片（5）的上方，电源（7）和温度测量仪（8）安装在固定底座（1）上。
【技术特征摘要】
1.一种测试LED芯片散热的实验系统，主要由可调支架（1-3）、隔热材
料（4）、待测LED芯片（5）、散热器（6）、电源（7）、温度测量仪（8）组成；
所述可调支架由固定底座（1）、支撑杆（2）和高度调节杆（3）组成，...
【专利技术属性】
技术研发人员：周良，冯兰胜，
申请(专利权)人：西安博昱新能源有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61
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