一种颗粒粒度及浓度光散射测量方法技术

本发明专利技术公开了一种颗粒粒度光散射测量方法，包括如下步骤：步骤一：测量光强变化值为I△t∑(θ1)＝It+△t∑(θ1)‑It∑(θ1)，I△t∑(θ2)＝It+△t∑(θ2)‑It∑(θ2)；步骤二：粒径分布的测量，将两个散射角的光强变化值代入以下公式即可得到颗粒粒径尺寸分布函数

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒粒度及浓度光散射测量方法本申请为申请日为2014年12月16日提交的申请号为2014107794971，其专利技术创造名称为《一种颗粒粒度及浓度光散射测量方法》的分案申请。
本专利技术涉及一种颗粒粒度及浓度光散射测量方法，属于颗粒测量

技术介绍
颗粒测量在能源研究，环境保护，大气科学等领域都有重要的地位，正因为其重要的地位，目前得到发展的颗粒测量技术有很多种，例如机械法、电感电容法、超声波法、光学法等。近几十年来由于激光技术、计算机技术和光纤技术的发展，光学法得到迅速的发展，其中就包括光散射法。光散射测粒的基础是Mie散射理论，其是球形颗粒对电磁波散射的严格物理解。光学测量颗粒粒度和浓度的方法比较成熟的是光全散射法(又称消光法或浊度法)，由于颗粒对光的散射和吸收作用，经过测量区域的光的强度受到衰减，透射光与入射光的比值是粒径分布与颗粒浓度的函数，根据测得的透射光和入射光的比值，已知光波长，光程和被测颗粒折射率后就可以得到颗粒的尺寸分布函数及浓度。另一种颗粒粒度和浓度测量方法是结合衍射散射法和光度计法的结合，衍射散射法根据散射光强和散射角度的关系建立线性方程组求解颗粒本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒浓度光散射测量方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一：根据Bouguer定律，将一束平行光通过浑浊两相混合物，得到透射光和入射光相关的下式；D32为索太尔平均粒径，I是透射光强，I0是入射光强，Cv是粒子群的体积密度，

【技术特征摘要】
1.一种颗粒浓度光散射测量方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一：根据Bouguer定律，将一束平行光通过浑浊两相混合物，得到透射光和入射光相关的下式；D32为索太尔平均粒径，I是透射光强，I0是入射光强，Cv是粒子群的体积密度，是平均消光系数，L是测量区域光学长度；步骤二：将光强测量值ItΣ(θ)替换IΔtΣ(θ)可以得到下式：K为颗粒总数，平均粒径D30，λ为激光波长，f为收集透镜的焦距，J1为第一类一阶贝塞尔函数；步骤三：将式(2)代入(1)得到下式：

【专利技术属性】
技术研发人员：李舒，林学勇，许传龙，张宸瑜，
申请(专利权)人：南京市计量监督检测院，
类型：发明
国别省市：江苏,32