用于控制膜的张力的系统以及包含该系统的用于制造偏振板的系统技术方案

根据本公开的实施方式的膜张力控制系统包括：层分离单元，其被安装在偏振板的转移路径上以从偏振膜层分离离型膜，所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一个表面上的离型膜；检查单元，其被安装在偏振膜的转移路径上以检查杂质是否存在于在所述偏振膜的一个表面上形成的粘合剂层中；张力指示单元，其被安装在离型膜的移动路径上以指示施加到所述离型膜的张力程度；再次层压单元，其将已通过所述张力指示单元的离型膜再次层压到已通过所述检查单元的偏振膜的粘合剂层上；以及张力调节单元，其被安装在再次层压的偏振板的转移路径上以调节光学膜和离型膜的张力。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于控制膜的张力的系统以及包含该系统的用于制造偏振板的系统
本公开涉及一种膜张力控制系统以及包含该系统的用于制造偏振板的系统，并且更具体地，涉及一种在从偏振膜的一个表面层分离(delaminating)离型膜后再次层压的过程中用于适当保持偏振膜和离型膜的张力的膜张力控制系统以及包含该系统的用于制造偏振板的系统。本申请要求于2014年8月14日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2014-0106156号的优先权，通过整体引用的方式将其公开内容并入本文。
技术介绍
偏振板通常可以通过如下方法制造：在聚乙烯醇(PVA)膜的两个表面上层压三醋酸纤维素(TAC)膜，将保护膜粘附到任意一个表面上的TAC膜表面来制作多结构偏振膜，以及使用粘合剂将离型膜粘附到与形成所述保护膜的表面的相对表面上。参考图1，由如上所述的层叠过程制作的多结构偏振板在通过切割过程切割成最佳长度后输送，并且在输送所述偏振板前进行检查来确定杂质是否被引入到粘合剂层中。即，杂质可能在制造偏振板的粘合剂涂敷(涂布)操作期间引入到粘合剂中，并且在此情况下，可出现点缺陷，并且为了检测所述缺陷，用同一偏振板以交叉位置测量漏光量。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种膜张力控制系统，其包括：层分离单元，其被安装在偏振板的转移路径上以从所述偏振膜层分离离型膜，所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一个表面上的所述离型膜；检查单元，其被安装在所述偏振膜的转移路径上以检查杂质是否存在于在所述偏振膜的一个表面上形成的粘合剂层中；张力指示单元，其被安装在所述离型膜的移动路径上以指示施加到所述离型膜的张力程度；再次层压单元，其将已通过所述张力指示单元的离型膜再次层压到已通过所述检查单元的偏振膜的粘合剂层上；以及张力调节单元，其被安装在再次层压的偏振板的转移路径上以调节光学膜和离型膜的张力。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.08.14 KR 10-2014-01061561.一种膜张力控制系统，其包括：层分离单元，其被安装在偏振板的转移路径上以从所述偏振膜层分离离型膜，所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一个表面上的所述离型膜；检查单元，其被安装在所述偏振膜的转移路径上以检查杂质是否存在于在所述偏振膜的一个表面上形成的粘合剂层中；张力指示单元，其被安装在所述离型膜的移动路径上以指示施加到所述离型膜的张力程度；再次层压单元，其将已通过所述张力指示单元的离型膜再次层压到已通过所述检查单元的偏振膜的粘合剂层上；以及张力调节单元，其被安装在再次层压的偏振板的转移路径上以调节光学膜和离型膜的张力。2.根据权利要求1所述的膜张力控制系统，其中，所述膜张力控制系统包括多个导辊，所述多个导辊被安装在所述偏振膜、所述离型膜和所述偏振板的转移路径上以引导各部件的转移。3.根据权利要求1所述的膜张力控制系统，其中，所述层分离单元包括一对辊，所述一对辊被设置在关于夹在所述一对辊中间的所述偏振板的相反两侧。4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：金恩帝，张应镇，申在玉，金闰洙，金泰植，朴正圭，方泳善，河义凤，黄同起，尹重植，
申请(专利权)人：LG化学株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR