轨道交通电子单板加速寿命试验方法技术

本发明专利技术公开了一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为：S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。本发明专利技术的轨道交通电子单板加速寿命试验方法具有操作简便、快速可靠等优点。

【技术实现步骤摘要】
轨道交通电子单板加速寿命试验方法
本专利技术主要涉及轨道交通
，特指一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法。
技术介绍
轨道交通电子单板加速寿命试验是在失效机理不变的基础上，通过寻找产品寿命与应力之间的关系，即加速模型，利用产品在高加速应力下的寿命特征去外推或评估正常应力水平下的寿命特征的试验技术和方法。轨道交通电子单板加速寿命试验设计依据该电子单板的可靠性强化分析结果。确定振动、温度、湿度以及综合的工作极限范围，在此限定设计应力剖面组合，对电子单板进行加速寿命试验，建立电子单板的多应力加速寿命或退化寿命试验模型，分析电子单板在正常应力下的可靠性和寿命水平。目前轨道交通电子单板寿命试验是一种传统现场数据统计，所经历的时间周期非常长，而且时效性差，效率低以及费用大。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本专利技术提供一种操作简便、快速有效的轨道交通电子单板加速寿命试验方法。为解决上述技术问题，本专利技术提出的技术方案为：一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为：S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，其特征在于，步骤为：S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。

【技术特征摘要】
1.一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，其特征在于，步骤为：S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。2.根据权利要求1所述的轨道交通电子单板加速寿命试验方法，其特征在于，在步骤S02中，不同加速退化应力下电子单板的退化轨迹方程为其中为退化轨迹模型参数，所述退化轨迹模型为其中q＝1,2,3,4，i＝1,2,3,4,5,6,7；为模型参数；在退化轨迹模型基础上，使用最小二乘法，估计输出电压在所有加速退化应力水平下的各个电子单板样本的退化轨迹模型参数3.根据权利要求1或2所述的轨道交通电子单板加速寿命试验方法，其特征在于，在步骤S02中，所述寿命加速模型为其中t为试验时间，T为高温应力，RH为湿度应力，V为振动应力，m为形状常数，α0、α1、α2、α3为常识参数。4.根据权利要求3所述的轨道交通电子单板加速寿命试验方法，其特征在于，在步骤S03中，首先依据寿命加速模...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵志和，刘敏，班立权，张球红，周溢韬，谭军祥，贺寨，王丽华，
申请(专利权)人：株洲中车时代电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43