用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于电子产品的高加速寿命试验系统，包括一密闭室和若干待测电子产品，一振动应力测试系统，包括一设置于该密闭室内的振动台，该振动台上固定一安装有该待测电子产品的测试夹具，并在每个待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干个振动应力加速计；一热应力测试系统，包括一与该密闭室的上部连通的冷热源给排装置，在每个该待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干根热电偶；振动应力加速计和热电偶与一测试控制计算机电连接。本发明专利技术还公开了一种采用上述用于电子产品的高加速寿命试验系统的方法。本发明专利技术可以有效侦测出电子产品的缺陷，提升可靠性，为后期进行高加速应力筛选试验提供应力类型筛选和应力量级设定的依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子产品的可靠性设计，特别是涉及一种用于电子产品的HALT (Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)系统及其方法,适用于电子产品的PCBA (Print Circuit Board Assembly,印刷电路板)前期设计阶段的热应力和振动应力的可靠性设计。
技术介绍
电子产品在样品设计阶段进行可靠性设计是非常有必要的。可靠性测试通常采用HALT (Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)，其能够找出产品在前期设计上的缺陷，然后再改进设计，提高可靠性指标，进而降低产品在客户手上出现故障的几率。所谓高加速寿命试验(HALT)是一种发现缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加严的环境应力来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的。其最大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。对于电子产品设计样品阶段的可靠性测试设计主要以热应力测试、振动应力测试、湿度测试等为主，当然还包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于电子产品的高加速寿命试验系统，包括一密闭室和若干待测电子产品，其特征在于，所述系统还包括：一振动应力测试系统，包括一设置于所述密闭室内的振动台，所述振动台上固定一安装有所述待测电子产品的测试夹具，并在每个所述待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干个振动应力加速计；一热应力测试系统，包括一与所述密闭室的上部连通的冷热源给排装置，在每个所述待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干根热电偶；所述振动应力加速计和所述热电偶与一测试控制计算机电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雁程，
申请(专利权)人：上海移远通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：