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本发明公开了一种用于电子产品的高加速寿命试验系统，包括一密闭室和若干待测电子产品，一振动应力测试系统，包括一设置于该密闭室内的振动台，该振动台上固定一安装有该待测电子产品的测试夹具，并在每个待测电子产品内部的印刷电路板上布置有若干个振动应力...
该专利属于上海移远通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海移远通信技术有限公司授权不得商用。

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