本发明专利技术提供分析工具以及分析装置。分析工具用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置。所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液，并且测量所述测量溶液。所述光测量井包括：开口，穿过所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持穿过所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射。所述测量光是荧光或者化学发光。所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。
【技术实现步骤摘要】
分析工具以及分析装置
本文中公开的技术涉及能够通过高灵敏度检测荧光或者化学发光而高精度地分析样品中的特定成分的分析工具以及分析装置。
技术介绍
到目前为止，在利用聚光器调节成将激发光集成束之后，荧光分析装置利用滤光器照射选择的波长到样品容器中。然后，收集从样品容器发射的荧光并且利用光学透镜调节以形成束，然后利用滤光器选择光的波长以便于利用光检测器检测。然而，仅能以此方法捕获沿所有方向发射的荧光中的一部分，因而光收集不能说有效。测量化学发光或者生物发光的分析装置中出现类似问题。作为响应，例如，日本专利申请特开平10-019779与2000-241708号公报描述了用于检测从样品容器沿许多方向散射的诸如荧光之类的光的技术。日本专利申请特开平10-019779号公报描述了荧光分析装置，此荧光分析装置包括利用反射收集从样品容器散射的荧光的集光反射镜。日本专利申请特开2000-241708号公报描述了光发射分析装置，此光发射分析装置包括用于利用位于样品容器的外周的光反射面检测从光收集元件发射的光的检测器。这些装置能够捕获沿许多方向发射的光。然而，在有关技术中，在以下几点存在改进空间。在日本专利申请特开平10-019779号公报的荧光分析装置中，在考虑到由集光反射镜反射的荧光衰减以及利用透镜系统的集光效率的情况下实际集光效率不是特别高。而且，尺寸由于光学系统的结构复杂性而增大。在日本专利申请特开2000-241708号公报中，也存在大量衰减，这由于重复反射而产生。集光效率因此不是特别高。
技术实现思路
鉴于上述情况，本文中公开的技术提供通过提高集光效率而能够精确分析样品中的特定成分的分析工具以及分析装置。由本文中公开的技术的第一方面提供的分析工具是用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置的分析工具。所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液。所述光测量井包括：开口，所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持穿过所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射。所述测量光是荧光或者化学发光。所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。优选地，所述光测量井形成为总体扁平形状，该形状匹配所述测量溶液保持部的形状；并且所述光测量井包括扁平面，并且所述发射部设置在所述扁平面处。优选地，所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度定义为所述光测量井的槽长度(celllength)；并且所述槽长度是3mm或者更小。优选地，所述分析工具还包括反应管，所述反应管产生所述测量溶液。优选地，在所述测量光是荧光的情况下，将用于致使发射所述测量光的激发光从所述光测量井的除所述发射部以外的部分照射到所述测量溶液上。优选地，所述激发光的照射方向与所述测量光的所述光接收方向对准。由本文中公开的技术的第二方面提供的分析装置是采用本文中公开的技术的第一方面的分析工具的一种分析装置，所述分析装置包括检测所述测量光的检测器。优选地，所述分析装置还包括测量光波长选择滤光器，所述测量光波长选择滤光器限制所述测量光的波长。优选地，所述测量光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。优选地，所述测量光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。优选地，所述分析装置还包括集光构件以收集所述测量光。优选地，所述集光构件是导光件。优选地，在所述测量光是荧光的情况下，所述分析装置还包括：光源，所述光源照射激发光以使所述测量溶液发射荧光；以及激发光波长选择滤光器，所述激发光波长选择滤光器限制所述激发光的波长。优选地，所述激发光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。优选地，所述激发光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。优选地，所述分析工具被构造成使得所述光测量井的槽长度由所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度确定，并且能通过改变所述测量溶液的量改变所述光测量井的所述槽长度，并且所述分析装置还包括：喷嘴；以及控制器，所述控制器控制所述喷嘴以及所述检测器的操作，所述控制器被构造成在所述检测器的输出值饱和的情况下，通过将所述测量溶液抽吸到所述喷嘴中来减少所述测量溶液的量以缩短所述槽长度，然后使所述检测器重新进行测量。优选地，所述分析装置被构造成基于从利用所述检测器检测所述测量光直到所述检测器的所述输出值达到饱和状态耗费的时间来确定所述测量溶液要被减少的量。优选地，所述分析装置被构造成基于从利用所述检测器检测所述测量光直到所述检测器的所述输出值达到饱和状态耗费的时间以及在预定作为所述测量溶液的初始反应时期的预定时期内所述检测器的所述输出值的增大率，确定所述测量溶液要被减少的量。一种根据本文中公开的技术的第三方面的分析工具是用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置的分析工具。所述分析工具包括：第一基板，所述第一基板包括溶液转移开口；第二基板，所述第二基板堆叠在所述第一基板上；反应流路，所述反应流路形成在所述第一基板与所述第二基板之间，并且所述反应流路连结至所述溶液转移开口；以及光测量井，所述光测量井设置在所述反应流路处，所述光测量井产生作为测量对象的测量溶液，并且所述光测量井使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，所述测量光被致使从所述测量溶液发射。所述溶液转移开口用于通过抽吸及排出空气使所述测量溶液在所述反应流路中反复移动。所述测量光是荧光、化学发光或者投射光。所述光测量井具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。优选地，针对所述特定成分的抗体或者抗原在所述光测量井中被固相化。优选地，在所述光测量井中布置有固相化磁粒，针对所述特定成分的抗体或者抗原已固相化在所述固相化磁粒上。一种根据本文中公开的技术的第四方面的分析装置是应用本文中公开的技术的第三方面的分析工具的分析装置。所述分析装置包括检测器以检测所述测量光。一种根据本文中公开的技术的第五方面的分析装置是应用本文中公开的技术的第三方面的分析工具的分析装置，其中，在所述光测量井中布置有固相化磁粒，针对所述特定成分的抗体或者抗原已固相化在所述固相化磁粒上，并且所述分析装置包括检测器，所述检测器检测所述测量光；以及磁体，所述磁体产生磁力以将所述固相化磁粒保持在所述光测量井中，所述磁体靠近所述光测量井放置。在本文中公开的技术中，集光效率提高了，从而能够高度精确地分析样品中的特定成分。本文中公开的技术的其他特征以及优势被参照附图清楚解释在本专利技术的实施方式的以下说明中。附图说明将基于下面的附图详细描述本公开的实施方式，在附图中：图1是示出包括根据本文中公开的技术的第一实施方式的分析工具以及分析装置的分析系统的实施例的示意性构造图；图2A是示出构造图1中示出的分析系统的分析工具的实施例的立体图；图2B是示出图2A中所示的分析工具在拆开的情况下的分解立体图；图3A是沿构造图2A中所示的分析工具的反应管的横向剖切的垂直剖面图；图3B是沿构造图2A中所示的分析工具的反应管的纵向剖切的垂直剖面图；图4A是构造图2A中所示的分析工具的光测量井的立体图；图4B是沿图4A中的线IVB-IVB剖切的剖面图；图5A是示出保持在图4A中所示的光测量井中的测量溶液的最上部处本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分析工具，该分析工具被构造成安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置，所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液，所述光测量井包括：开口，所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持经由所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射，其中，所述测量光是荧光或者化学发光，并且其中，所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。
【技术特征摘要】
2016.01.31 JP 2016-016782;2017.01.23 JP 2017-009171.一种分析工具，该分析工具被构造成安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置，所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液，所述光测量井包括：开口，所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持经由所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射，其中，所述测量光是荧光或者化学发光，并且其中，所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。2.根据权利要求1所述的分析工具，其中，所述光测量井包括扁平面，并且形成为总体扁平从而匹配所述测量溶液保持部的形状；并且所述发射部设置在所述扁平面处。3.根据权利要求1或者2所述的分析工具，其中，所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度定义为所述光测量井的槽长度；并且所述槽长度是3mm或者更小。4.根据权利要求1或者2所述的分析工具，所述分析工具还包括反应管，所述反应管产生所述测量溶液。5.根据权利要求1或者2所述的分析工具，其中，在所述测量光是荧光的情况下，将待生成所述测量光的激发光从所述光测量井的除所述发射部以外的部分照射到所述测量溶液上。6.根据权利要求5所述的分析工具，其中，所述激发光的照射方向与所述测量光的所述光接收方向对准。7.一种包括权利要求1或者2所述的分析工具的分析装置，所述分析装置包括检测所述测量光的检测器。8.根据权利要求7所述的分析装置，所述分析装置还包括测量光波长选择滤光器，所述测量光波长选择滤光器限制所述测量光的波长。9.根据权利要求8所述的分析装置，其中，所述测量光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。10.根据权利要求9所述的分析装置，其中，所述测量光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。11.根据权利要求7所述的分析装置，所述分析装置还包括集光构件以收集所述测量光。12.根据权利要求11所述的分析装置，其中，所述集光构件是导光件。13.根据权利要求7所述的分析装置，在所述测量光是荧光的情况下，所述分析装置还包括：光源，所述光源照射激发光以使所述测量溶液发射荧光；以及激发光波长选择滤光器，所述激发光波长选择滤光器限制所述激发光的波长。14.根据权利要求13所述的分析装置，其中，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：松本大辅，田中贵茂，小田垣徹，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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