测试分选机制造技术

本文公开了测试分选机。根据本发明专利技术的实施方式，测试分选机包括：加载装置，配置为将电子部件加载到测试盘中；测试室，包括配置为与电子器件中的每个紧密接触以对电子部件中的每个进行测试的测试器；推动装置，配置为朝向测试器推动安装在测试盘上的电子部件中的每个；以及卸载装置，配置为从测试盘上卸载在测试室中进行测试的电子部件中的每个，其中推动装置包括配置为将压力传递至电子部件的压板、设置在压板的中心部分中以在水平方向上延伸的第一轨道、具有配置为与第一轨道接触的下端部分的上匹配板、具有配置为与第一轨道接触的上端部分的下匹配板、以及设置在上匹配板和下匹配板中以与电子部件接触的多个推动器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试分选机
本专利技术涉及测试分选机。
技术介绍
测试分选机是支持对通过预定制造工艺制造的、诸如半导体装置的电子部件的测试、根据测试结果按等级分类电子部件、以及将电子部件安装在用户盘上的装置。图1和图2是示出了典型的测试分选机的立体图和平面图。参照图1和图2，测试分选机1可包括加载装置10、浸泡室20、测试室30、去浸泡室40和卸载装置50。在测试盘3a和3b中提供了可安置电子部件的多个插入件。测试盘3a和3b可通过多个传送装置(未示出)沿预定封闭路线循环。加载装置10能够在加载位置将安装在用户盘2a上的未测试的电子部件加载到测试盘3a和3b中。由于可能在不同的温度环境下使用电子部件，所以有必要确定该电子部件是否在具体温度环境下良好工作。在进行测试之前，可在浸泡室20中对安装在测试盘3a和3b上的电子部件进行预加热或预冷却。经由浸泡室20传送至测试位置并安装在测试盘3a和3b上的电子部件可在测试室30中进行测试。具体地，安装在测试盘3a和3b上的电子部件可由推动装置60朝向测试器70推动。电子部件和测试器70可通过其接触或接合彼此电连接。在该状态下，可对电子部件执行测试。推动装置60可包括与测试盘3a和3b匹配的匹配板以及用于朝测试盘3a和3b移动匹配板的配置。在匹配板的每个中都以矩阵图案设置有多个推动器。单个推动器一一对应于测试盘3a和3b的单个插入件，并且能够靠着测试器70压定位在插入件中的电子部件。同时，可为测试室30提供用于设定关于电子部件的温度环境的加热介质。为了精确的温度设定，可在单个推动器中形成加热介质流动路径。可通过加热介质流动路径将加热介质供给至单个电子部件。可将承载测试过的电子部件的测试盘3a和3b传送至去浸泡室40，在去浸泡室40中，可将电子部件加热或冷却至不引起卸载问题的温度(例如，室温)。卸载装置50可根据测试结果将电子部件按等级分类，并且可将电子部件从测试盘3a和3b卸载到空的用户盘2b中。如上所述，在测试分选机1中可设定不同的温度环境。因而，在匹配板中可产生热变形(热膨胀或热收缩)。如果在匹配板中产生热变形，则设置于匹配板中的单个推动器的位置可改变。因此，推动器可能无法正常地压安装在测试盘3a和3b上的电子部件。结果，可能不正常地执行对电子部件的检测，并且不能保障测试结果的可靠性。这可导致测试产量降低。另外，电子部件和/或测试器可变形或受到损害。专利文献1：第KR10-0709114号韩国专利
技术实现思路
本公开的实施方式提供了一种测试分选机，该测试分选机能够使得电子部件的测试能顺利执行，即使是在匹配板中产生热变形时。技术方案鉴于前述问题，本公开提供了一种测试分选机，包括：加载装置，配置为将电子部件加载到测试盘中；测试室，包括配置为与电子器件中的每个紧密接触以对电子部件中的每个进行测试的测试器；推动装置，配置为朝向测试器推动安装在测试盘上的电子部件中的每个；以及卸载装置，配置为从测试盘上卸载在测试室中测试的电子部件中的每个，其中，推动装置包括配置为将压力传递至电子部件的压板、设置在压板的中心部分中以在水平方向上延伸的第一轨道、具有配置为与第一轨道接触的下端部分的上匹配板、具有配置为与第一轨道接触的上端部分的下匹配板、以及设置在上匹配板和下匹配板中以与电子部件接触的多个推动器。另外，本公开还提供一种测试分选机，该测试分选机还包括：第二轨道，设置在压板的下端部分中，并与下匹配板的下端部分向下间隔开；以及第三轨道，设置在压板的上端部分中，并与上匹配板的上端部分向上间隔开。另外，本公开还提供一种测试分选机，其中，当电子部件以M×N矩阵形式安装在测试盘上时，上匹配板和下匹配板中的每个都与具有M/2×N矩阵形式的电子部件匹配，其中M是2或更大的偶数，并且N是1或更大的自然数。另外，本公开还提供了一种测试分选机，其中，在第一轨道中形成有接合槽，以及在下匹配板的上端部分中设置有突出部，该突出部插入接合槽中以保持下匹配板相对于第一轨道的位置。另外，本公开还提供了一种测试分选机，该测试分选机还包括：第一销，设置在压板的一侧处；第二销，设置在压板的另一侧处；第一支架，设置在下匹配板的一侧处，并配置为与第一销接合；以及第二支架，设置在下匹配板的另一侧处，并配置为与第二销接合。另外，本公开还提供了测试分选机，其中在第一支架中形成有插入第一销以支承第一支架的第一接合槽，在第二支架中形成有插入第二销以支承第二支架的第二接合槽，第一接合槽包括：第一引导部分，配置为引导下匹配板，以使得随着下匹配板的移动开始将第一销插入第一接合槽，并且使得下匹配板朝第一轨道向上移动并靠近第一轨道；以及第一安置部分，当下匹配板接触第一轨道时，第一销定位在第一安置部分中；并且第二接合槽包括：第二引导部分，配置为引导下匹配板，以使得随着下匹配板的移动开始将第二销插入第二接合槽，并且使得下匹配板朝第一轨道向上移动并靠近第一轨道；以及第二安置部分，当下匹配板接触第一轨道时，第二销定位在第二安置部分中。另外，本公开还提供了测试分选机，其中第一销向前突出超过压板，第二销没有向前突出超过压板，第一支架没有向后突出超过下匹配板，以及第二支架向后突出超过下匹配板。另外，本公开还提供了测试分选机，该测试分选机还包括：移动主体，配置为朝向测试器移动；以及多个轴，配置为使移动主体与压板互相连接，其中，轴中的一个连接至压板的中心部分，并配置为抑制压板的中心部分的热变形，并且剩余的轴连接至压板，以便相对于压板做相对移动，并配置为允许压板除中心部分以外的部分的热变形。另外，本公开还提供了测试分选机，该测试分选机还包括：至少两个球塞，配置为向前压上匹配板和下匹配板，其中球塞中的每个都包括：球，具有前部，该前部部分地插入在上匹配板的下端部分的中心处或在下匹配板的上端部分的中心处在上下方向上延伸的狭槽中；以及弹性构件，在一个端部处连接至压板并在另一端部处连接至球，并且配置为弹性地向前偏置球。有益效果根据本公开的实施方式，可提供一种测试分选机，该测试分选机能够使得对电子部件的测试能够顺利执行，即使是在匹配板中产生热变形时。附图说明图1是示出了典型的测试分选机的立体图。图2是图1所示的测试分选机的平面图。图3是示出了根据一个实施方式的测试分选机的推动装置的从前侧观察的立体图。图4是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的推动装置的从后面观察的立体图。图5是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的推动装置的分解立体图。图6是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的推动装置的主视图。图7是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的推动装置的侧视图。图8是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的推动装置的放大侧视图。图9是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的第一支架的从后侧观察的立体图。图10是根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的第二支架的从后面观察的立体图。图11A和图11B是示出了接合槽的修改的视图。图12是示出了从前侧观察的球塞的视图。图13是示意性地示出了从侧面观察的球塞的视图。图14至图16是解释根据图3所示的一个实施方式如何将下匹配板安装到测试分选机中的视图。图17是示出了根据图3所示的一个实施方式的测试分选机的压板的从前侧观察的视图。图18是本文档来自技高网...

【技术保护点】
测试分选机，包括：加载装置，配置成将电子部件加载到测试盘中；测试室，包括测试器，所述测试器配置成与所述电子器件中的每个紧密接触以对所述电子部件中的每个进行测试；推动装置，配置成朝向所述测试器推动安装在所述测试盘上的电子部件中的每个；以及卸载装置，配置成从所述测试盘上卸载在所述测试室中测试过的电子部件中的每个，其中，所述推动装置包括：压板，配置为将压力传递至所述电子部件；第一轨道，设置在所述压板的中心部分中，以在水平方向上延伸；上匹配板，具有下端部分，所述下端部分配置为与所述第一轨道接触；下匹配板，具有上端部分，所述上端部分配置为与所述第一轨道接触；以及多个推动器，设置在所述上匹配板和所述下匹配板中，以与所述电子部件接触。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.28 KR 10-2014-01686911.测试分选机，包括：加载装置，配置成将电子部件加载到测试盘中；测试室，包括测试器，所述测试器配置成与所述电子器件中的每个紧密接触以对所述电子部件中的每个进行测试；推动装置，配置成朝向所述测试器推动安装在所述测试盘上的电子部件中的每个；以及卸载装置，配置成从所述测试盘上卸载在所述测试室中测试过的电子部件中的每个，其中，所述推动装置包括：压板，配置为将压力传递至所述电子部件；第一轨道，设置在所述压板的中心部分中，以在水平方向上延伸；上匹配板，具有下端部分，所述下端部分配置为与所述第一轨道接触；下匹配板，具有上端部分，所述上端部分配置为与所述第一轨道接触；以及多个推动器，设置在所述上匹配板和所述下匹配板中，以与所述电子部件接触。2.如权利要求1所述的测试分选机，还包括：第二轨道，设置在所述压板的下端部分中，并与所述下匹配板的下端部分向下间隔开；以及第三轨道，设置在所述压板的上端部分中，并与所述上匹配板的上端部分向上间隔开。3.如权利要求1所述的测试分选机，其中，当所述电子部件以M×N矩阵形式安装在所述测试盘上时，所述上匹配板和所述下匹配板中的每个均与具有M/2×N矩阵形式的电子部件匹配，其中M是2或更大的偶数，并且N是1或更大的自然数。4.如权利要求1所述的测试分选机，其中，接合槽在所述第一轨道中形成，并且突出部设置在所述下匹配板的上端部分中，所述突出部插入所述接合槽中以保持所述下匹配板相对于所述第一轨道的位置。5.如权利要求1所述的测试分选机，还包括：第一销，设置在所述压板的一侧处；第二销，设置在所述压板的另一侧处；第一支架，设置在所述下匹配板的一侧处，并配置为与所述第一销接合；以及第二支架，设置在所述下匹配板的另一侧处，并配置为与所述第二销接合。6.如权利要求5所述的测试分...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗闰成，卢锺基，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR