电子部件测试用分选机的适配器制造技术

本发明专利技术涉及一种电子部件测试用分选机的适配器。根据本发明专利技术的电子部件测试用分选机的适配器具有能够适当地夹持具有多种制造公差、长度的电子部件，并能够适当地保持电子部件的安置状态的结构。根据本发明专利技术，在制造过程中，多种具有制造公差和长度的电子部件都能够适当地安置并夹持于适配器，同时还能够维持安置姿势，因此电子部件能够准确地电连接于测试仪，从而提高了针对分选机的可靠性。从而提高了针对分选机的可靠性。从而提高了针对分选机的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
电子部件测试用分选机的适配器


[0001]本专利技术涉及一种可在电子部件测试用分选机使用的适配器。

技术介绍

[0002]生产的电子部件(例如，半导体元件、基板、SSD等)借由测试仪而进行测试后分为良品和不良品，且只有良品出库。
[0003]电子部件只有电连接于测试仪才能进行测试，此时，通过将电子部件电连接于测试仪来支持电子部件能够进行测试的设备为电子部件测试用分选机(以下简称为“分选机”)。
[0004]分选机随着新的电子部件的开发而被提出并制作，并且为了稳定化，正在进行多种后续开发。
[0005]近来，作为搭载有多个电子元件的大型电子部件的固态驱动器(SSD：Solid State Drive)的普及正在呈扩大的趋势。
[0006]最初，由于对SSD的需求较少而仅进行少量生产时，借由手动操作将SSD直接电连接于测试仪并解除其连接，但随着需求的剧增，难以借由手动操作来支持测试。
[0007]但是，由于SSD的厚度、结构及重量等与现有的电子部件不同而无法直接应用现有的分选机，因此，开发了适合于支持诸如SSD之类的大型电子部件的测试的分选机，并在韩国公开专利10
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2019
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0050483号及10
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2019
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0061291号提出。
[0008]SSD可以根据所搭载的电子元件的种类或其专用用途等而具有多种规格，需要一种用于支持针对这种多种规格的电子元件的测试的分选机。但是，由于分选机价格高且其规模较大，因此，考虑到生产费用及设置场所等，需要一种能够在一个分选机中处理具有多种规格的电子部件的测试的技术。
[0009]并且，为了测试规格分别不同的电子部件，需要更换符合对应该电子部件的规格的部件，即使不需要更换部件，也需要用于供应新的电子部件的休止时间。据此，由于分选机和测试仪的运行率下降且产生繁杂的人力损失，因此，需要一种即使在分选机的一个周期运行或连续运行时也不需要额外的休止时间的分选机。
[0010]另外，在现有的小品种批量生产产品的半导体元件的情况下，采用如下的方式：配备可装载数百个以上的半导体元件的测试托盘，并利用多个拾取器直接夹持半导体元件并插入到测试托盘的插入件。在这种系统中，由于可以在插入件中确保半导体元件的精确位置，并且也可以在与测试仪的连接过程中确保其位置，因此即使精确度稍微降低也不会存在问题。
[0011]但是，诸如SSD之类的具有包括半导体元件的多个电子元件的电子部件对应于应用装置的多样性而呈多品种少量生产化的趋势，而且会发生需要经过多种测试的情况，由于并非所有测试仪的测试插座都存在于相同的位置，因此，需要按电子部件的种类或测试仪的种类制作高价格的测试托盘并配备与其相匹配的分选机。通过之前的研究发现，在不考虑上述问题的情况下，在用夹持器(Gripper)直接夹持电子部件的状态下将电子部件连
接到测试插座存在相当大的问题。
[0012]例如，电子部件不仅具有多种种类，还具有多种长度和宽度，由于制作的特性，即使是相同种类的电子部件也因加工误差等原因而难以将其大小制作成100％一致。然而，在不考虑这种状况而使用夹持器夹持电子部件的情况下，由于未能准确夹持电子部件而可能会丢失，或者电子部件可能由于非常强的加压力而损坏。当然，即使调整夹持器而很好地夹持电子部件，也确认到了如下缺点：根据夹持电子部件的哪个部位、其夹持的强度多少而发生电子部件在夹持的同时被扭曲或旋转等的情况，从而用夹持器夹持的电子部件难以精确地接触测试插座。为了改善这种情况，驱动部需要能够精确地控制，并需要与所有电子部件相对应，因此驱动轴也需要非常长。并且，为了防止破损或扭曲、不需要的旋转，需要使用能够按情况进行扭矩控制的高价格的马达。然而，这种问题要求设备的大型化且较高的生产成本，因此没有实效性。并且，需要进行用于设定借由夹持器的电子部件的准确的夹持位置等的自动校准来实现精确的接触，这是实际上需要巨大的费用和技术力的部分。
[0013]通常，在SSD的情况下，无论种类如何，其宽度在加工误差范围内相同，但其长度根据搭载的电子元件的数量或大小等按种类而多种多样。
[0014]因此，本专利技术的申请人先前在专利申请10
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2020
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0073725号中提出了在分选机配备适配器的专利技术(以下称为“在先申请技术”)，以便能够实现具有通用性的分选机。适配器被设计为用作将电子部件供应到测试仪的载体，并且通过使分选机能够适应多种不同大小的电子部件，从而增加了分选机的通用性。
[0015]在与适配器相关的部分中最重要的情形如下。
[0016]第一，适配器应能够适当地夹持具有由制造公差而产生的误差范围内的宽度的所有SSD的两端。
[0017]第二，应能够夹持在所谓SSD的电子部件所能具有的通常长度范围(从最短的SSD到最长的SSD为止的范围)内的所有SSD。
[0018]第三，需要一种能够在适配器上准确地安置SSD的特征结构。在此，特征结构可能是针对适配器周边的结构，但也要求针对适配器自身的结构。如果SSD的安置发生不良，则其可能会成为之后妨碍SSD和测试仪之间进行适当地电连接的原因。
[0019]第四，应准确地维持安置于适配器的SSD的姿势。通常情况下，分选机会产生各种操作冲击，而且适配器需要以具有电子部件的状态移动。然而，如果由于操作冲击或移动过程中的晃动等原因而无法维持SSD进行适当地安置，从而产生不良，则这最终会导致SSD和测试仪之间的电连接不良。
[0020]因此，需要持续地针对考虑到上述所有情形的适配器进行研究。

技术实现思路

[0021]本专利技术是出于针对如下技术的考虑而提出的：与误差范围内的制作公差或长度无关地，适配器都可以适当地夹持多种电子部件。
[0022]并且，本专利技术还是出于针对如下技术的考虑而提出的：可以准确地将电子部件安置于适配器，并在安置后能够持续适当地维持其状态。
[0023]根据本专利技术的一种电子部件测试用分选机的适配器，包括：一对夹持杆，相互对向，并沿相互之间的间隔变窄或变宽的方向进行直线移动，从而在两端夹持电子部件的后
端部位或解除夹持；设置框架，设置为使所述一对夹持杆能够直线移动；间隔操作器件，设置于所述设置框架，用于对所述一对夹持杆施加操作力使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变宽的方向移动；以及操作部件，对所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向施加压力，从而若借由所述间隔操作器件而施加于所述一对夹持杆的操作力被解除，则使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向移动，其中，在所述一对夹持杆上，在彼此面对的面上形成有用于电子部件的两端夹持及前后方向的移动引导的引导槽，所述引导槽沿前后方向细长地形成。
[0024]所述间隔操作器件以能够沿前后方向进行直线移动的方式设置于所述设置框架，所述间隔操作器件包括：操作部分，配备为两端与所述一对夹持杆接触，并且当借由外力向后方进行直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子部件测试用分选机的适配器，包括：一对夹持杆，相互对向，并沿相互之间的间隔变窄或变宽的方向进行直线移动，从而在两端夹持电子部件的后端部位或解除夹持；设置框架，设置为使所述一对夹持杆能够直线移动；间隔操作器件，设置于所述设置框架，用于对所述一对夹持杆施加使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变宽的方向移动的操作力；以及操作部件，对所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向施加压力，从而若借由所述间隔操作器件而施加于所述一对夹持杆的操作力被解除，则使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向移动，其中，在所述一对夹持杆上，在彼此面对的面上形成有用于电子部件的两端夹持及前后方向的移动引导的引导槽，所述引导槽沿前后方向细长地形成。2.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器，其中，所述间隔操作器件以能够沿前后方向进行直线移动的方式设置于所述设置框架，所述间隔操作器件包括：操作部分，配备为两端与所述一对夹持杆接触，并且当借由外力向后方进行直线移动时，沿所述一对夹持杆之间的间隔变宽的方向对所述一对夹持杆施加操作力，并且随着移除外力而向前方进行直线移动时，解除操作力。3.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机的适配器，其中，在所述一对夹持杆的彼此面对的面，在与所述操作部分接触的部位形成有操作槽，所述操作槽形成为具有凹陷的深度趋向后方而变浅的倾斜面，所述操作部分具有与所述操作槽对应的突出部位，且所述突出部位接触于所述倾斜面，从而根据所述操作部分的位置来改变所述一对夹持杆之间的间隔。4.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器，其中，所述操作部件包括：弹性...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗闰成，赵永焕，朴承吉，金索比，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：