控制每引脚测量单元制造技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】控制每引脚测量单元
本说明书整体涉及控制每引脚测量单元(PPMU)，该每引脚测量单元为自动测试设备(ATE)的一部分。
技术介绍
自动测试设备(ATE)是指用于测试装置(诸如半导体、电子电路和印刷电路板组件)的自动化(通常计算机驱动的)系统。由ATE测试的装置被称为受测装置(DUT)。ATE包括每引脚测量单元(PPMU)。在某些ATE中，PPMU被配置为从DUT接收模拟信号，并且将模拟信号输出到DUT，作为测试过程的一部分。
技术实现思路
示例性自动测试设备(ATE)包括：每引脚测量单元(PPMU)；被配置为运行状态机以控制PPMU的逻辑器；作为逻辑器的一部分或与逻辑器分离的存储器；以及用于命令逻辑器的控制系统；其中，响应于来自控制系统的命令，状态机被配置为以已知的间隔或以与事件同步的方式获取基于由PPMU进行的测量的输出的数据并将该数据存储在存储器中，或者以已知的间隔或以与事件同步的方式将数据从存储器输出到PPMU。示例性ATE可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。ATE可被配置为测试受测装置(DUT)，所述DUT具有多个引脚。ATE可被配置为经由PPMU...
【技术保护点】
一种自动测试设备(ATE)，包括：每引脚测量单元(PPMU)；被配置为执行状态机以控制所述PPMU的逻辑器；作为所述逻辑器的一部分或与所述逻辑器分离的存储器；以及用于命令所述逻辑器的控制系统；其中，响应于来自所述控制系统的命令，所述状态机被配置为以已知的间隔或以与事件同步的方式获取基于由所述PPMU进行的测量的输出的数据并将所述数据存储在所述存储器中，或者以已知的间隔或以与事件同步的方式将所述数据从所述存储器输出到所述PPMU。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.12.19 US 14/577,6871.一种自动测试设备(ATE)，包括：每引脚测量单元(PPMU)；被配置为执行状态机以控制所述PPMU的逻辑器；作为所述逻辑器的一部分或与所述逻辑器分离的存储器；以及用于命令所述逻辑器的控制系统；其中，响应于来自所述控制系统的命令，所述状态机被配置为以已知的间隔或以与事件同步的方式获取基于由所述PPMU进行的测量的输出的数据并将所述数据存储在所述存储器中，或者以已知的间隔或以与事件同步的方式将所述数据从所述存储器输出到所述PPMU。2.根据权利要求1所述的ATE，其中所述ATE被配置为测试受测装置(DUT)，所述DUT具有多个引脚；并且其中所述ATE被配置为经由所述PPMU获取基于所述DUT的单个引脚处的值的数据，并将所述数据存储在所述存储器中。3.根据权利要求1所述的ATE，其中所述ATE被配置为测试受测装置(DUT)，所述DUT具有多个引脚；并且其中所述ATE被配置为经由所述PPMU获取基于所述DUT的多个引脚处的值的数据，并将所述数据存储在所述存储器中。4.根据权利要求1所述的ATE，其中所述已知的间隔是可编程的。5.根据权利要求1所述的ATE，还包括：位于所述逻辑器与所述PPMU之间的模数转换器(ADC)，所述ADC服务于包括所述PPMU一个或多个PPMU；其中所述逻辑器被配置为通过从所述ADC检索所述数据来获取所述数据。6.根据权利要求1所述的ATE，其中所述ATE被配置为测试受测装置(DUT)，所述DUT具有多个引脚；其中所述ATE被配置为经由所述PPMU获取基于所述DUT的单个引脚处的值的数据，并将所述数据存储在所述存储器中；其中所述逻辑器被配置为将所述数据提供到所述控制系统；并且其中所述控制系统被配置为基于所述数据重新构造波形。7.根据权利要求1所述的ATE，其中所述ATE被配置为测试受测装置(DUT)，所述DUT具有多个引脚；其中所述ATE被配置为经由所述PPMU获取基于所述DUT的单个引脚处的值的数据，并将所述数据存储在所述存储器中；其中该数据可用于执行一个或多个操作，所述一个或多个操作包括测量信号噪声或者提取信号峰值振幅。8.根据权利要求1所述的ATE，其中所述ATE被配置为将数字模式输出到所述DUT，所述数字模式包含控制数据；并且所述ATE被配置为使用所述控制数...
【专利技术属性】
技术研发人员：马可·斯皮尔曼，约翰·J·基奥，马可·哈特纳，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：发明
国别省市：美国,US
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