一种面板测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种面板测试装置，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在定位架上、且多个测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L，其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。本发明专利技术提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。

Panel testing device

The invention discloses a panel testing device comprises a positioning frame; and a plurality of test pins, along the horizontal positioning frame is provided with a plurality of signal pins are on the positioning frame, and a plurality of test needle position to be measured and the panel on the position corresponding to any of the test needle meet: D = D = d+L, wherein, D is the test needle width; D and the test pin corresponding to the detected signal pin on the panel width; L and the corresponding test pin to the minimum distance between the signal probe signal pin on the panel with the signal of the adjacent needle. Panel test device provided by the invention increases the test needle width, the panel test device and the panel are aligned, and the test signal pin needle can better position, to avoid the signal pin and the test pin dislocation situation, so that each signal pin state is detected accurately, improve the detection the precision of the signal pin.

【技术实现步骤摘要】
一种面板测试装置
本文涉及但不限于OLED显示技术，尤指一种面板测试装置。
技术介绍
在LCD及OLED的生产过程中，经过切割后的面板需要进行测试Test，为了达到对不良的准确检出，需要用到全触点检测FullContact检测，全触点检测是将测试块Block中的每个测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin一一对应；由于目前面板的分辨率越来越高，比如55”OLED的数据信号输入侧Source侧有15360(3840*4)根金属线，对测试块Block与面板Panel电极Pad中信号针Pin一一对应的准确度要求严苛，目前在实际生产中，针错位(测试针和信号针错位)很难避免，影响了检测Test工序对信号针不良检出的准确性。1)针错位的产生原理：图1为测试块Block上的测试针Pin示意图，图2为面板Panel电极Pad中的信号Pin示意图。以目前的55”OLED为例，分辨率为3840*2160，由于采用RGBW四个亚像素组成一个像素Pixel(如图2所示)，因此数据信号输入侧Source侧有15360(3840*4)根金属线，这造成面板Panel上的信号Pin宽度很窄、间距很小，使得要保证测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置一一对应极为困难，会造成针错位。图3为测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置一致时的对位情况示意图，图4为测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin位置不一致时的针错位情况示意图，实际生产中，图4的情况经常发生，测试块Block上的测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin错位的地方会检测出不良(对信号针存在误判的问题)，影响判断的准确性。图1至图4中附图标记与部件名称之间的对应关系为：10定位架，20测试针，30面板，40信号针。
技术实现思路
为了解决上述技术问题中的至少之一，本文提供了一种面板测试装置，可以更好地对位信号针与测试针，避免信号针与测试针错位，提升检测精准性。为了达到本文目的，本专利技术提供了一种面板测试装置，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在所述定位架上、且多个所述测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L；其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。可选地，相邻所述测试针处于不同的层面上。可选地，多个所述测试针相互平行。可选地，所述面板测试装置还包括：用于抵触信号针的导电件，设置在测试针上、并与测试针电连接，测试针通过导电件与对应的信号针导通。可选地，所述导电件包括：导电单元；和绝缘单元，至少设置在所述导电单元的一组相对的侧面上。可选地，所述导电件还包括：弹性单元，所述导电单元包裹在所述弹性单元上。可选地，导电件均匀布置在测试针上，同一测试针上的各导电件均与该测试针连通。可选地，所述导电件呈球形状或柱形状。可选地，所述多个测试针位于所述定位架的一旁，所述多个测试针的临近所述定位架的一端固定在所述定位架上。可选地，所述定位架呈长条形板状且横置。与现有技术相比，本专利技术提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。本文的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本文而了解。本文的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本文技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本文的技术方案，并不构成对本文技术方案的限制。图1为相关技术中的测试块上的结构示意图；图2为相关技术中面板的结构示意图；图3为相关技术中的面板和测试块对位情况下的结构示意图；图4为相关技术中的面板和测试块错位情况下的结构示意图；图5为本专利技术所述的面板测试装置的主视结构示意图；图6为图5所示的面板测试装置的后视结构示意图；图7和图8为图6中的导电件两个实施例的剖视结构示意图；图9为本专利技术的面板测试装置与待测面板对位情况下的结构示意图；图10为本专利技术的面板测试装置与待测面板错位情况下的结构示意图。其中，图5至图10中附图标记与部件名称之间的对应关系为：1定位架，2测试针，3面板，4信号针，50导电件，5导电单元，6绝缘单元，7弹性单元。具体实施方式为使本文的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本文的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本文，但是，本文还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施，因此，本文的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。下面结合附图描述本文一些实施例的面板测试装置。本专利技术提供的面板测试装置，如图5、图9和图10所示，包括：定位架1；和多个测试针2，沿所述定位架1的横向依次设置在所述定位架1上、且多个所述测试针2的位置与待测面板3上的信号针4的位置一一对应，任一所述测试针2满足：d≤D≤d+L。其中，D为该测试针2的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针4的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针4之间的最小距离。本专利技术提供的面板测试装置，增大了测试针2的宽度，使得面板测试装置与待测面板3进行对位时，信号针4与测试针2能够更好地进行对位，避免出现信号针4与测试针2错位的状况，以使得各个信号针4的状态被准确地检测出，有效提升了信号针4的检测精准性。在面板测试装置与待测面板3对位时，由于测试针2的宽度增大，这就保证了测试针2上至少部分区域与相应地信号针4能够接触而连通，从而有效增加测试针2和信号针4的对位准确性，使得各个信号针4的状态被准确的检测出，确保信号针4的检测质量。可选地，相邻所述测试针2处于不同的层面(可以包括两层、三层、四层等，均可实现本申请的目的)上，确保相邻的测试针2之间相互独立，防止相邻的测试针2短接而影响信号针4的检测准确性。可以是定位架1上设置有不同深度的凹槽，相邻凹槽的深度不同，测试针2安装在凹槽内，这样相邻的测试针2就实现了处于不同的层面上。可选地，所述多个测试针2相互平行，与信号针4的布置方式相对应，优化测试针2的布局，更有利于检测信号针4，同时也降低了面板测试装置的制作难度。可选地，如图6至图8所示，所述面板测试装置还包括：用于抵触信号针4的导电件50，设置在测试针2上、并与测试针2连通(电连接)，测试针2通过其上设置的导电件50与对应的信号针4导通，导电件50可更好地与测试针2接触。较好地，导电件50布满在测试针2上(即：测试针2上由多个导电件50布满)，这样测试针2上布满的导电件50在与对应的信号针4对位时，至少部分导电件50会与信号针4接触连通。可选地，如图7和图8所示，所述导电件50包括：导电单元5；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板测试装置，其特征在于，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在所述定位架上、且多个所述测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L；其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。

【技术特征摘要】
1.一种面板测试装置，其特征在于，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在所述定位架上、且多个所述测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L；其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。2.根据权利要求1所述的面板测试装置，其特征在于，相邻所述测试针处于不同的层面上。3.根据权利要求2所述的面板测试装置，其特征在于，多个所述测试针相互平行。4.根据权利要求1至3中任一项所述的面板测试装置，其特征在于，还包括：用于抵触信号针的导电件，设置在测试针上、并与测试针电连接，测试针通过导电件与对应的信号针导通。...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾雨，谢学武，刘博文，孙诗，刘浩，韩坤，张阿猛，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11