The utility model provides a measuring socket and a contact device. The utility model relates to the electronic module as a measuring object determined by socket, comprising a base, with a mounting recess electronic module; the first cover body can be rotatably mounted relative to the base on the base; the second cover body can be rotatably mounted relative to the base on the base; and the contact pin is arranged in the the first cover body, between the electronic module to obtain and conduction, when the electronic module is placed on a base under the state of closing the first cover, the second cover than the first cover cover in the first electronic module. Thus, the electronic module can be correctly positioned to achieve a practical turn-on.
【技术实现步骤摘要】
测定用插座以及接触装置
本技术涉及一种在对电子模块进行导通检查或特性测定等时所使用的测定用插座以及接触装置。
技术介绍
以往,作为在对集成电路(IntegratedCircuit,IC)等电子组件进行电气测定时所使用的测定用插座(以下也仅称为“插座”),已公开了向一个方向按压电子组件来进行定位的插座。例如,专利文献1中公开了按压IC封装的表面来进行定位的半导体装置用插座。另外,专利文献2中公开了包括偏置单元的电气组件用插座,所述偏置单元随着对插座盖体的电气组件进行按压的按压动作而受到操作,分别与在收容部所收容的电气组件的定位部相反侧的角落部正交的侧面发生点接触,使电气组件相对于定位部而偏置。另外,专利文献3中公开了在插座主体中包括如下单元的电气组件用插座,所述单元在电气组件受到按压部件按压之前,向固定引导部的方向推压抵接于固定引导部的电气组件的侧面的相反侧的侧面,使电气组件抵接于固定引导部,从而将所述电气组件定位于规定的载置位置,所述固定引导部设置于载置部的周缘部的一部分。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利特开2011-023164号公报[专利文献 ...
【技术保护点】
一种测定用插座,其是将电子模块作为测定对象的测定用插座,其特征在于包括:基座,具有载置所述电子模块的凹部;第一盖体,可相对于所述基座转动地安装于所述基座;第二盖体,可相对于所述基座转动地安装于所述基座;以及接触引脚,设置于所述第一盖体,用以获得与所述电子模块之间的导通,当在将所述电子模块载置于所述基座的状态下闭合所述第一盖体时,所述第二盖体比所述第一盖体先盖在所述电子模块上。
【技术特征摘要】
2016.09.07 JP 2016-1747221.一种测定用插座,其是将电子模块作为测定对象的测定用插座,其特征在于包括:基座,具有载置所述电子模块的凹部;第一盖体,可相对于所述基座转动地安装于所述基座;第二盖体,可相对于所述基座转动地安装于所述基座;以及接触引脚,设置于所述第一盖体,用以获得与所述电子模块之间的导通,当在将所述电子模块载置于所述基座的状态下闭合所述第一盖体时,所述第二盖体比所述第一盖体先盖在所述电子模块上。2.根据权利要求1所述的测定用插座,其特征在于:所述第二盖体与所述第一盖体的转动动作联动地转动。3.根据权利要求2所述的测定用插座,其特征在于:在所述第一盖体与所述第二盖体之间设置有弹簧。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定用插座,其特征在于还包括:铰链,设置在所述基座与所述第一盖体及所述第二盖体之间,并成为所述第一盖体及所述第二盖体的转动动作的支点;以及碰锁,用以将所述第一盖体固定于所述基座,利用所述碰锁将所述第一盖体固定于所述基座,由此,所述第二盖体夹在所述第一盖体与所述基座之间。5.根据权利要求1至3中任一项所述的测定用插座,其特征在于:所述电子模...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。