测定用插座以及接触装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种测定用插座以及接触装置。本实用新型专利技术是将电子模块作为测定对象的测定用插座，包括：基座，具有载置电子模块的凹部；第一盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于第一盖体，用以获得与电子模块之间的导通，当在将电子模块载置于基座的状态下闭合第一盖体时，第二盖体比第一盖体先盖在电子模块上。从而能够正确地对电子模块进行定位而获得切实的导通。

Measuring socket and contact device

The utility model provides a measuring socket and a contact device. The utility model relates to the electronic module as a measuring object determined by socket, comprising a base, with a mounting recess electronic module; the first cover body can be rotatably mounted relative to the base on the base; the second cover body can be rotatably mounted relative to the base on the base; and the contact pin is arranged in the the first cover body, between the electronic module to obtain and conduction, when the electronic module is placed on a base under the state of closing the first cover, the second cover than the first cover cover in the first electronic module. Thus, the electronic module can be correctly positioned to achieve a practical turn-on.

【技术实现步骤摘要】
测定用插座以及接触装置
本技术涉及一种在对电子模块进行导通检查或特性测定等时所使用的测定用插座以及接触装置。
技术介绍
以往，作为在对集成电路(IntegratedCircuit，IC)等电子组件进行电气测定时所使用的测定用插座(以下也仅称为“插座”)，已公开了向一个方向按压电子组件来进行定位的插座。例如，专利文献1中公开了按压IC封装的表面来进行定位的半导体装置用插座。另外，专利文献2中公开了包括偏置单元的电气组件用插座，所述偏置单元随着对插座盖体的电气组件进行按压的按压动作而受到操作，分别与在收容部所收容的电气组件的定位部相反侧的角落部正交的侧面发生点接触，使电气组件相对于定位部而偏置。另外，专利文献3中公开了在插座主体中包括如下单元的电气组件用插座，所述单元在电气组件受到按压部件按压之前，向固定引导部的方向推压抵接于固定引导部的电气组件的侧面的相反侧的侧面，使电气组件抵接于固定引导部，从而将所述电气组件定位于规定的载置位置，所述固定引导部设置于载置部的周缘部的一部分。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利特开2011-023164号公报[专利文献2]日本专利特开2005-061948号公报[专利文献3]日本专利特开2004-296155号公报
技术实现思路
[技术所要解决的问题]但是，在将电子模块载置于测定用插座的基座并闭合盖体的情况下，若电子模块在基座上产生位置偏移，则在闭合盖体时，电子模块侧的连接器与盖体侧的接触引脚(contactpin)之间容易产生接触不良。特别是对于由电子组件及连接器连接于挠性基板而成的电子模块，有时会因挠性基板的弹性力、弯曲、扭曲等而浮起地配置电子组件或连接器。若在电子模块浮起的状态下闭合盖体，则会导致导通不良。近年来，连接器的端子之间的间距逐渐变窄，对于测定用插座来说，电子模块的定位精度的提高已成为获得切实导通的重要的技术要素。本技术的目的在于提供一种能够正确地对电子模块进行定位而获得切实的导通的测定用插座以及接触装置。[解决问题的技术手段]为了解决所述问题，本技术是将电子模块作为测定对象的测定用插座，包括：基座，具有载置电子模块的凹部；第一盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于第一盖体，用以获得与电子模块之间的导通，当在将电子模块载置于基座的状态下闭合第一盖体时，第二盖体比第一盖体先盖在电子模块上。根据此种结构，当在将电子模块载置于基座的状态下闭合第一盖体时，第二盖体先盖在电子模块上，然后，第一盖体盖在电子模块上。由此，载置于基座凹部的电子模块的位置受到第二盖体限制之后，盖上第一盖体，能够利用接触引脚获得与电子模块之间的导通。本技术的测定用插座也可以采用如下结构，即，第二盖体与第一盖体的转动动作联动地转动。由此，通过使第一盖体开闭，第二盖体也能够随之开闭。在本技术的测定用插座中，也可以在第一盖体与第二盖体之间设置弹簧。由此，利用弹簧来连结第一盖体与第二盖体，第二盖体也会与第一盖体的转动动作联动地转动。另外，将第二盖体盖在电子模块上之后，盖上第一盖体，由此，能够利用弹簧的施压力，从第二盖体向电子模块的方向施加按压力。本技术的测定用插座也可以还包括：铰链，设置在基座与第一盖体及第二盖体之间，并成为第一盖体及第二盖体的转动动作的支点；以及碰锁，用以将第一盖体固定于基座，利用碰锁将第一盖体固定于基座，由此，第二盖体夹在第一盖体与基座之间。由此，第一盖体及第二盖体以相同的支点为中心而进行转动动作。另外，利用碰锁将第一盖体固定于基座之后，第二盖体也成为受到固定的状态。在本技术的测定用插座中，电子模块也可以包括挠性基板、与连接于挠性基板的电子组件及连接器，闭合第二盖体后，第二盖体盖在电子组件及挠性基板中的至少任一者上，闭合第一盖体后，接触引脚与连接器接触。根据此种结构，电子组件及挠性基板中的至少任一者的位置受到第二盖体限制。而且，在利用第二盖体进行限制的状态下盖上第一盖体，由此，能够获得接触引脚与连接器之间的切实的导通。在本技术的测定用插座中，第二盖体也可以包括在闭合第二盖体时盖在电子组件上的第一按压部、与盖在挠性基板上的第二按压部。由此，在闭合第二盖体时，能够利用第一按压部及第二按压部来对电子组件及挠性基板的位置进行限制。在本技术的测定用插座中，在闭合第二盖体时，第二按压部也可以盖在挠性基板及电子组件这两者上。由此，能够利用第二按压部来对电子组件及挠性基板这两者的位置进行限制。本技术是将电子模块作为测定对象的接触装置，包括：基座，具有载置电子模块的凹部；第一盖体，盖在基座上；第二盖体，设置在基座与第一盖体之间；以及接触引脚，设置于第一盖体，用以获得与电子模块之间的导通，当在将电子模块载置于基座的状态下盖上第一盖体时，第二盖体比第一盖体先盖在电子模块上。根据此种结构，当在将电子模块载置于基座的状态下盖上第一盖体时，第二盖体先盖在电子模块上，然后，第一盖体盖在电子模块上。由此，在载置于基座凹部的电子模块的位置受到第二盖体限制之后，盖上第一盖体，能够利用接触引脚获得与电子模块之间的导通。在本技术的接触装置中，电子模块也可以包括挠性基板、与连接于挠性基板的电子组件及连接器，盖上第二盖体后，第二盖体盖在电子组件及挠性基板中的至少任一者上，盖上第一盖体后，接触引脚与连接器接触。根据此种结构，电子组件及挠性基板中的至少任一者的位置受到第二盖体限制。而且，在利用第二盖体进行限制的状态下盖上第一盖体，由此，能够获得接触引脚与连接器之间的切实的导通。[技术的效果]根据本技术，可提供能够正确地对电子模块进行定位而获得切实的导通的测定用插座。附图说明图1是对本实施方式的测定用插座进行例示的立体图。图2(a)及图2(b)是对闭合盖体的动作进行说明的立体图。图3(a)～图3(c)是对闭合盖体的动作进行说明的侧视图。图4是说明由第二盖体进行的按压的立体图。图5是对本实施方式的接触装置进行例示的立体图。图6是对本实施方式的接触装置进行例示的正视图。[符号的说明]1：测定用插座10：基座11：凹部15：支柱17：弹簧20：第一盖体25：钩30：第二盖体31：第一按压部32：第二按压部40：引导部41：接触引脚50：铰链55：轴56：弹簧60：碰锁65：弹簧100：电子模块101：电子组件102：挠性基板103：连接器500：接触装置具体实施方式以下，基于附图对本技术的实施方式进行说明。再者，在以下的说明中，对同一部件附上同一符号，并适当地省略与已说明的部件相关的说明。(测定用插座的结构)图1是对本实施方式的测定用插座进行例示的立体图。本实施方式的测定用插座1是对电子模块100进行电气测定时所使用的插座。测定用插座1搭载作为测定对象的电子模块100，获得与电子模块100之间的电接触。在本实施方式中，作为测定对象的电子模块100应用了由电子组件101及连接器103连接于挠性基板102而成的电子模块。在挠性基板102上形成有布线图案，使电子组件101与连接器103之间通电。因此，在本实施方式的测定用插座1中，通过使后述的接触引脚41与连接器103的端子接触，能够与电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定用插座，其是将电子模块作为测定对象的测定用插座，其特征在于包括：基座，具有载置所述电子模块的凹部；第一盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于所述第一盖体，用以获得与所述电子模块之间的导通，当在将所述电子模块载置于所述基座的状态下闭合所述第一盖体时，所述第二盖体比所述第一盖体先盖在所述电子模块上。

【技术特征摘要】
2016.09.07 JP 2016-1747221.一种测定用插座，其是将电子模块作为测定对象的测定用插座，其特征在于包括：基座，具有载置所述电子模块的凹部；第一盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于所述第一盖体，用以获得与所述电子模块之间的导通，当在将所述电子模块载置于所述基座的状态下闭合所述第一盖体时，所述第二盖体比所述第一盖体先盖在所述电子模块上。2.根据权利要求1所述的测定用插座，其特征在于：所述第二盖体与所述第一盖体的转动动作联动地转动。3.根据权利要求2所述的测定用插座，其特征在于：在所述第一盖体与所述第二盖体之间设置有弹簧。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定用插座，其特征在于还包括：铰链，设置在所述基座与所述第一盖体及所述第二盖体之间，并成为所述第一盖体及所述第二盖体的转动动作的支点；以及碰锁，用以将所述第一盖体固定于所述基座，利用所述碰锁将所述第一盖体固定于所述基座，由此，所述第二盖体夹在所述第一盖体与所述基座之间。5.根据权利要求1至3中任一项所述的测定用插座，其特征在于：所述电子模...

【专利技术属性】
技术研发人员：三森周治，
申请(专利权)人：株式会社SDK，
类型：新型
国别省市：日本,JP