一种测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，光源板、支承柱以及探针设置在腔体内；光源板包括分布在光源板一侧表面的多个发光体，以及与发光体连接的、用于控制发光体产生预设强度光的控制部；支承柱设置在光源板发射光一侧，由多个支承柱形成与光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；探针用于触发待测试器件，并在触发时探测到待测试器件产生感应电流时发出指示信号。本发明专利技术测试装置实现了对X射线曝光检测器件的光电感应测试，与现有测试方法相比，不需要将X射线曝光检测器件装机，再通过X射线曝光来进行测试，可简化测试流程，提高测试效率。

A test device

The invention discloses a test device used in X detection of X-ray exposure device testing, including non transparent, light source cavity plate, a supporting column and a probe light source plate, supporting column and the probe is arranged in the cavity; the light board includes distributed in a plurality of luminous body side surface light source plate, and a luminous body connection, for controlling the light emitting body control section preset intensity of light; column is provided on one side of the light emitting light plate, forming a support plane parallel to the light source plate comprises a plurality of supporting columns, for placing the devices under test; test device to be used to trigger probe, and trigger at the time of detecting devices under test induction when the current indication signal. The testing device can achieve photoelectric induction test detection device for X ray exposure, compared with the existing test methods, does not need to be X X-ray exposure detection devices installed, and then tested by X ray exposure, which can simplify the testing process, improve the efficiency of testing.

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置
本专利技术涉及光电器件
，特别是涉及一种测试装置。
技术介绍
平板探测器是数字平板X射线成像系统(DigitalRadiography，DR)的核心部件，它实现将X射线能量转换为电信号。目前，采用的平板探测器主要有两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。对于非晶硅平板探测器，其包含的非晶硅薄膜晶体管结构在没有X线照射的情况下，仍会积累暗电流因而会造成图像伪影。因此，这种平板探测器在应用时，平板探测器需随时和高压发生器沟通曝射的顺序，以保证在X线产生之前暗电流被清除干净。基于这种工作机制，使平板探测器需要通过通讯线与高压发生器保持通信，以在曝光时进行时序沟通，因此这使得一块平板探测器只能在与之连接的高压发生器上使用，无法自由移动，无法灵活应用于其它高压发生器。自动曝光检测(AutomaticExposureDetection，AED)技术的出现，解决了上述平板探测器必须要和高压发生器连接的问题，在平板探测器中设置AED模块，通过检测高压发生器曝光，而实现与高压发生器的同步功能。AED技术摆脱了平板探测器必须要和高压发生器连接的模式，实现了平板探测器和高压发生器无线同步，大大提高了平板探测器的便捷性。自动曝光检测模块(以下简称AED模块)主要由光电二极管、高速高精度运算放大器组成，在生产时需要测试AED模块在其计量范围内是否能正常感应。现有技术中，对AED模块进行测试的方法是将平板探测器装机后，通过X射线曝光来进行测试，在测试时使用剂量计校准X线剂量。然而这种测试方法需要将平板探测器装机，测试流程繁琐，不能满足高效率的测试要求。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，与现有技术相比可简化测试流程，提高测试效率。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，所述光源板、所述支承柱以及所述探针设置在所述腔体内；所述光源板包括分布在所述光源板一侧表面的多个发光体，以及与所述发光体连接的、用于控制所述发光体产生预设强度光的控制部；所述支承柱设置在所述光源板发射光一侧，由多个所述支承柱形成与所述光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；所述探针用于触发所述待测试器件，并在触发时探测到所述待测试器件产生感应电流时发出指示信号。可选地，还包括设置在所述光源板发射光一侧的、用于将所述光源板产生的光调整光强度均匀的匀光板。可选地，所述匀光板包括亚克力板和设置在所述亚克力板表面的匀光膜。可选地，所述控制部包括：与所述发光体连接的、用于向所述发光体输出电流的控制电路；与所述控制电路连接的、用于根据指令向所述控制电路输出电压的处理器。可选地，所述控制电路包括第一运算放大器、第二运算放大器、第一场效应管、第二场效应管、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；所述第一运算放大器的同相输入端作为所述控制电路的输入端，输出端与所述第一场效应管栅极连接，反相输入端与所述第一场效应管源极连接；所述第一场效应管漏极与供电端连接，源极接地，在所述第一场效应管源极与接地端之间连接有第一电阻，在所述第一场效应管漏极与供电端之间连接有第二电阻；所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一场效应管漏极连接，反相输入端与供电端连接，输出端与所述第二场效应管栅极连接；在供电端与所述第二运算放大器的反相输入端之间依次连接有第三电阻和第四电阻；所述第二场效应管源极与所述第三电阻和所述第四电阻之间线路连接，漏极与所述发光体连接。可选地，还包括：用于放置在所述支承柱形成的支承平面上，感应所述光源板产生光的光强度，并转换为电压信号反馈给所述控制部的光强度校准板；所述控制部还用于根据反馈的电压信号，调整向所述发光体输出的电流，直至所述光强度校准板感应到的光强度在设定范围内。可选地，所述光强度校准板包含的光强度检测电路包括光电二极管、第三运算放大器和第一电容；所述第三运算放大器的同相输入端接地，反相输入端与所述光电二极管负极连接，输出端作为所述光强度检测电路的输出端，所述第一电容的一端与所述第三运算放大器的反相输入端连接，另一端与所述第三运算放大器的输出端连接；所述光电二极管的正极接地。可选地，还包括与所述探针连接的、用于在所述探针探测到所述待测试器件产生感应电流时点亮的指示灯。可选地，还包括：与所述光源板连接的、用于连接外部供电设备的USB接口；与所述光源板连接的、用于在被触发时控制所述光源板开启运行或者停止运行的按钮。由上述技术方案可知，本专利技术所提供的测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，其中光源板、支承柱和探针设置在腔体内。在对待测试器件进行测试时，将待测试器件放置在支承柱形成的支承平面上，由光源板产生预设强度光，投射到待测试器件，来模拟X射线曝光，然后以探针点击触发待测试器件，在探测到待测试器件产生感应电流时会发出指示信号，如此实现对待测试器件的光电感应测试。本专利技术测试装置应用于X射线曝光检测器件测试，实现了对X射线曝光检测器件的光电感应测试，与现有测试方法相比，不需要将X射线曝光检测器件装机，再通过X射线曝光来进行测试，可简化测试流程，提高测试效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种测试装置的示意图；图2为本专利技术又一实施例提供的一种测试装置的示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种控制电路的示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种光强度检测电路的示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供的一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，所述光源板、所述支承柱以及所述探针设置在所述腔体内；所述光源板包括分布在所述光源板一侧表面的多个发光体，以及与所述发光体连接的、用于控制所述发光体产生预设强度光的控制部；所述支承柱设置在所述光源板发射光一侧，由多个所述支承柱形成与所述光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；所述探针用于触发所述待测试器件，并在触发时探测到所述待测试器件产生感应电流时发出指示信号。其中，所述腔体为非透光腔体，以避免在测试过程中外界光的干扰。在光源板一侧表面分布多个发光体，在控制部的控制下使发光体产生光，投射到待测试器件，来模拟X射线曝光，并控制产生光的强度，来模拟X射线曝光剂量。在对待测试器件进行测试时，将待测试器件放置在支承柱形成的支承平面上，由光源板产生预设强度光投射到待测试器件，模拟X射线曝光；然后以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，其特征在于，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，所述光源板、所述支承柱以及所述探针设置在所述腔体内；所述光源板包括分布在所述光源板一侧表面的多个发光体，以及与所述发光体连接的、用于控制所述发光体产生预设强度光的控制部；所述支承柱设置在所述光源板发射光一侧，由多个所述支承柱形成与所述光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；所述探针用于触发所述待测试器件，并在触发时探测到所述待测试器件产生感应电流时发出指示信号。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，应用于X射线曝光检测器件测试，其特征在于，包括非透光的腔体、光源板、支承柱和探针，所述光源板、所述支承柱以及所述探针设置在所述腔体内；所述光源板包括分布在所述光源板一侧表面的多个发光体，以及与所述发光体连接的、用于控制所述发光体产生预设强度光的控制部；所述支承柱设置在所述光源板发射光一侧，由多个所述支承柱形成与所述光源板平行的支承平面，用于放置待测试器件；所述探针用于触发所述待测试器件，并在触发时探测到所述待测试器件产生感应电流时发出指示信号。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括设置在所述光源板发射光一侧的、用于将所述光源板产生的光调整光强度均匀的匀光板。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述匀光板包括亚克力板和设置在所述亚克力板表面的匀光膜。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述控制部包括：与所述发光体连接的、用于向所述发光体输出电流的控制电路；与所述控制电路连接的、用于根据指令向所述控制电路输出电压的处理器。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述控制电路包括第一运算放大器、第二运算放大器、第一场效应管、第二场效应管、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；所述第一运算放大器的同相输入端作为所述控制电路的输入端，输出端与所述第一场效应管栅极连接，反相输入端与所述第一场效应管源极连接；所述第一场效应管漏极与供电端连接，源极接地，在所述第一场效应管源极与接地端之间连接有第一电阻，在所述第一场效应...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振，
申请(专利权)人：上海品臻影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31