一种间接式X射线平板探测器及其曝光同步方法技术

本发明专利技术公开了一种间接式X射线平板探测器，当间接式X射线平板探测器接收到X射线时，会作用于光电二极管，从而直接反应于负偏压信号线的漏电流，该漏电流的反应速度远大于光电检测面阵的读取速度，可以依据该漏电流的电话作为触发信号使得处理器可以根据该触发信号实现曝光，从而实现准确的曝光同步。本发明专利技术还提供了一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法，同样具有上述有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种间接式X射线平板探测器及其曝光同步方法
本专利技术涉及X射线平板探测器
，特别是涉及一种间接式X射线平板探测器以及一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法。
技术介绍
数字X射线影像系统由X射线源和探测器组成。探测器的图像采集需要与X射线源的曝光同步。这种同步，可以由X射线源的发生器与探测器的有线连接实现，但是这种有线连接通常非常不方便，需要专业的技术人员在了解发生器和探测器的接口设计后才可以实施。有时发生器还不能提供这种连接。因此市场上出现了各种各样的自动曝光同步功能，即探测器与发生器无任何物理连接，但是探测器可以通过不同的方法检测到X射线的曝光，并在短时间内启动探测器的图像采集，实现自动曝光同步。目前市场上现有的自动曝光同步的解决方案主要是在探测器中安装独立X射线探测器来检测X射线的曝光。该方案在实际情况中由于空间和成本的限制，独立X射线探测器通常都比较小，只能检测局部的X射线。如果X射线只入射到探测器的部分区域，则有可能不会出发独立X射线探测器，从而使曝光同步失效。由于独立的X射线探测器需要安装在光电检测面阵的背后，因此X射线的信号已经被闪烁体大量吸收，因此独立X射线探测器的检测灵敏度会被限制。对于较厚的闪烁体或者是较弱的X射线，独立X射线探测器的灵敏度常常不能满足应用的需求。对于检测X射线通过闪烁体后产生的可见光的独立X射线探测器，一般需要将探测器支撑结构开窗。两者都会导致光电检测面阵的背后结构分布不均匀而有背散射现象，会造成一定程度上的图像伪影。所以如何实现准确的间接式X射线平板探测器曝光同步是本领域技术人员急需解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种间接式X射线平板探测器，可以实现准确的曝光同步；本专利技术的另一目的在于提供一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法，可以实现准确的曝光同步。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种间接式X射线平板探测器，包括光电检测面阵；所述光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；所述光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，所述负偏压信号线向对应的所述光电二极管提供预设大小的负偏压；所述负偏压信号线通过电流比较模块连接处理器，所述电流比较模块用于当所述负偏压信号线内电流大于电流阈值时，向所述处理器发送触发信号；所述处理器用于根据所述触发信号采集所述光电检测面阵生成的图像。可选的，全部所述负偏压信号线连接同一负偏压信号总线；所述负偏压信号总线通过所述电流比较模块连接所述处理器。可选的，所述电流比较模块为运算放大器，所述运算放大器的输出端连接所述处理器。可选的，所述处理器为FPGA。本专利技术还提供了一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法，应用于处理器，包括：以相等的间隔时间采集光电检测面阵生成的图像；所述光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；所述光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，所述负偏压信号线向对应的所述光电二极管提供预设大小的负偏压；获取电流比较模块发送的触发信号；所述触发信号为所述电流比较模块当所述负偏压信号线内电流大于电流阈值时所生成的信号；根据所述触发信号从所述图像中确定实际图像。可选的，所述根据所述触发信号从所述图像中确定实际图像包括：根据所述触发信号从所述图像中确定原始图像和本底图像；将所述原始图像减去所述本底图像得到所述实际图像。可选的，所述根据所述触发信号从所述图像中确定原始图像和本底图像包括：当所述触发信号的时间点对应所述间隔时间时，将所述触发信号的时间点前一采集时间所采集的图像作为本底图像，将所述触发信号的时间点后一采集时间所采集的图像作为原始图像。可选的，所述根据所述触发信号从所述图像中确定原始图像和本底图像包括：当所述触发信号的时间点对应所述采集时间时，略过当前剩余的采集时间；将所述触发信号的时间点后一采集时间所采集的图像作为原始图像；将所述触发信号的时间点对应的采集时间所采集到的图像作为本底图像中对应区域的图像；将所述触发信号的时间点前N倍间隔时间，或所述原始图像所对应采集时间后N倍间隔时间，所采集的图像中对应所述本底图像中剩余区域的图像，作为所述本底图像中剩余区域的图像；所述N不小于2。可选的，所述将所述触发信号的时间点前N倍间隔时间，或所述原始图像所对应采集时间后N倍间隔时间，所采集的图像中对应所述本底图像中剩余区域的图像，作为所述本底图像中剩余区域的图像包括：将所述触发信号的时间点前两倍间隔时间，或所述原始图像所对应采集时间后两倍间隔时间，所采集的图像中对应所述本底图像中剩余区域的图像，作为所述本底图像中剩余区域的图像。可选的，所述略过当前剩余的采集时间所需的略过时间小于所述采集时间的5％。本专利技术所提供的一种间接式X射线平板探测器，包括光电检测面阵；光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，负偏压信号线向对应的光电二极管提供预设大小的负偏压；负偏压信号线通过电流比较模块连接处理器，电流比较模块用于当负偏压信号线内电流大于电流阈值时，向处理器发送触发信号；处理器用于根据触发信号采集光电检测面阵生成的图像。当间接式X射线平板探测器接收到X射线时，会作用于光电二极管，从而直接反应于负偏压信号线的漏电流，该漏电流的反应速度远大于光电检测面阵的读取速度，可以依据该漏电流的电话作为触发信号使得处理器可以根据该触发信号实现曝光，从而实现准确的曝光同步。本专利技术还提供了一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法，同样具有上述有益效果，在此不再进行赘述。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例所提供的一种间接式X射线平板探测器的结构示意图；图2为图1中间接式X射线平板探测器的控制电路图；图3为本专利技术实施例所提供的一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法的流程图；图4为图像采集时序图；图5为本专利技术实施例所提供的一种具体的间接式X射线平板探测器曝光同步方法的流程图；图6为间隔时间获取触发信号的时序图；图7为采集时间获取触发信号的时序图。图中：1.光电检测面阵、2.薄膜晶体管、3.光电二极管、4.负偏压信号线、5.负偏压信号总线、6.电流比较模块、7.处理器。具体实施方式本专利技术的核心是提供一种间接式X射线平板探测器。在现有技术中，通常是安装独立X射线探测器来检测X射线的曝光。该方案在实际情况中由于空间和成本的限制，独立X射线探测器通常都比较小，只能检测局部的X射线。如果X射线只入射到探测器的部分区域，则有可能不会出发独立X本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种间接式X射线平板探测器，其特征在于，包括光电检测面阵；/n所述光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；所述光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，所述负偏压信号线向对应的所述光电二极管提供预设大小的负偏压；/n所述负偏压信号线通过电流比较模块连接处理器，所述电流比较模块用于当所述负偏压信号线内电流大于电流阈值时，向所述处理器发送触发信号；/n所述处理器用于根据所述触发信号采集所述光电检测面阵生成的图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种间接式X射线平板探测器，其特征在于，包括光电检测面阵；
所述光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；所述光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，所述负偏压信号线向对应的所述光电二极管提供预设大小的负偏压；
所述负偏压信号线通过电流比较模块连接处理器，所述电流比较模块用于当所述负偏压信号线内电流大于电流阈值时，向所述处理器发送触发信号；
所述处理器用于根据所述触发信号采集所述光电检测面阵生成的图像。


2.根据权利要求1所述的间接式X射线平板探测器，其特征在于，全部所述负偏压信号线连接同一负偏压信号总线；所述负偏压信号总线通过所述电流比较模块连接所述处理器。


3.根据权利要求2所述的间接式X射线平板探测器，其特征在于，所述电流比较模块为运算放大器，所述运算放大器的输出端连接所述处理器。


4.根据权利要求3所述的间接式X射线平板探测器，其特征在于，所述处理器为FPGA。


5.一种间接式X射线平板探测器曝光同步方法，其特征在于，应用于处理器，包括：
以相等的间隔时间采集光电检测面阵生成的图像；所述光电检测面阵中各个像素均包括一薄膜晶体管以及一光电二极管；所述光电二极管均与对应的负偏压信号线连接，所述负偏压信号线向对应的所述光电二极管提供预设大小的负偏压；
获取电流比较模块发送的触发信号；所述触发信号为所述电流比较模块当所述负偏压信号线内电流大于电流阈值时所生成的信号；
根据所述触发信号从所述图像中确定实际图像。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述触发信号从所述图像中确定实际图像包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：李懿馨，
申请(专利权)人：上海品臻影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31