The invention discloses a multi axis system optical axis parallelism detection method, including: laser collimating optical element to transit through the transfer, and the main components to form the ideal optical element parallel to the optical axis of collimated light; the collimated light by the main optical elements, reflecting the focus to the main optical element, the focal point and the center of the target plane coincide; moving the transfer to each sub element above the optical element to be measured, the laser emits the collimated light after the transfer element and the sub optical element to be measured, form a spot in the target plane; in order to determine whether the spot overlap, and the center of the target plane if not, according to the deviation from the distance between the beam and the center of the target plane adjusting the measured optical axis parallel sub optical element. To improve the accuracy of the optical axis parallelism of multi axis system and simplify the detection procedure. The invention also discloses a system for detecting the optical axis parallelism of the multi axis optical system, which has the beneficial effects.
【技术实现步骤摘要】
一种多光轴系统光轴平行度检测方法及系统
本专利技术涉及精密光机装调检测
,特别涉及一种多光轴系统光轴平行度检测方法,还涉及一种多光轴系统光轴平行度检测系统。
技术介绍
目前多光轴系统的光轴平行度的检测方法有多种,现有的检测方法中,对光轴的确立主要依靠轮廓测量的方法,轮廓测量有两种方式:干涉测量与坐标测量,其中,干涉测量需要建立基准,不论是标准的补偿镜还是计算全息图,都存在的一定误差,导致检测结果不准确;坐标测量分为直角坐标测量与球坐标测量,直角坐标测量精度依赖于平移组件的精度,而球坐标测量装置受制于角位移测量,导致检测方法步骤繁琐,因此,对于多光轴系统来说,上述方法测量的光轴平行度并不是最佳的方法。因此,如何提高多光轴系统的光轴平行度的准确性并简化检测步骤是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种多光轴系统光轴平行度检测方法,提高多光轴系统的光轴平行度的准确性并简化检测步骤。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种多光轴系统光轴平行度检测方法,包括:激光器发射准直光至中转元件,经过所述中转元件后形成与主光学元件的理想光轴平行的准直光;所述准直光经所述主光学元件后,反射至所述主光学元件的焦点处,所述焦点与靶面中心重合;移动所述中转元件至各个待测子光学元件上方,所述激光器发射所述准直光经过所述中转元件以及所述待测子光学元件之后,在所述靶面上形成光斑;依次判断所述光斑是否与靶面中心重合,若否,则根据所述光斑与所述靶面中心之间的偏离距离调节所述待测子光学元件的光轴相互平行。优选的,在上述多光轴系统光轴平行度检测方法中,激光器发射 ...
【技术保护点】
一种多光轴系统光轴平行度检测方法,其特征在于,包括:激光器发射准直光至中转元件,经过所述中转元件后形成与主光学元件的理想光轴平行的准直光;所述准直光经所述主光学元件后,反射至所述主光学元件的焦点处,所述焦点与靶面中心重合;移动所述中转元件至各个待测子光学元件上方,所述激光器发射所述准直光经过所述中转元件以及所述待测子光学元件之后,在所述靶面上形成光斑;依次判断所述光斑是否与靶面中心重合,若否,则根据所述光斑与所述靶面中心之间的偏离距离调节所述待测子光学元件的光轴相互平行。
【技术特征摘要】
1.一种多光轴系统光轴平行度检测方法,其特征在于,包括:激光器发射准直光至中转元件,经过所述中转元件后形成与主光学元件的理想光轴平行的准直光;所述准直光经所述主光学元件后,反射至所述主光学元件的焦点处,所述焦点与靶面中心重合;移动所述中转元件至各个待测子光学元件上方,所述激光器发射所述准直光经过所述中转元件以及所述待测子光学元件之后,在所述靶面上形成光斑;依次判断所述光斑是否与靶面中心重合,若否,则根据所述光斑与所述靶面中心之间的偏离距离调节所述待测子光学元件的光轴相互平行。2.如权利要求1所述的多光轴系统光轴平行度检测方法,其特征在于,激光器发射准直光至中转元件之前,还包括:移动所述中转元件至所述主光学元件的上方,并记录所述中转元件的初始位置。3.如权利要求2所述的多光轴系统光轴平行度检测方法,其特征在于,移动所述中转元件至各个待测子光学元件上方,包括:以所述初始位置为圆心,将所述中转元件沿半径方向平...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨飞,安其昌,赵宏超,姜海波,郭鹏,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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