A magnetic moment measuring instrument, the measurement of resistance strain type force sensor magnet of the magnetic force of the torque generated in the magnetic field around the magnet by using one-dimensional Helmholtz coil; magnetic induction intensity gradually increased, the slope using magnetic induction intensity and magnet torque ratio, and reference standard sample slope, obtained the magnet magnetic moment. The magnetic moment measuring instrument of the present invention can directly and accurately measure the magnetic moment of 1~10 cm scale and any shape magnet, and has a breakthrough effect, and solves the problem of measuring the magnetic moment of a magnet with various shapes.
【技术实现步骤摘要】
一种磁矩测量仪及其测量方法
本专利技术涉及磁矩测量领域,更具体地涉及一种测量任意自由形状磁体的磁矩的测量仪及其测量方法,可用于人造磁体、磁性岩石的磁矩测量。
技术介绍
本文所称磁矩也称磁偶极矩,是衡量磁体整体磁化强度的宏观物理量。磁矩是磁性材料、岩石磁学中的必测项目。(1)磁性材料领域的磁矩测量磁性材料磁矩测量设备多采用“亥姆霍兹线圈+磁通计”法。其原理是小尺寸磁体可以视作一个磁偶极子,磁矩m等于磁化强度M乘以样品体积V。测量时,把磁体放在线圈的中心位置(亥姆霍兹线圈产生均匀磁场的区域),调节磁通计零点,然后把磁体移出线圈至对读数无影响处。磁体的开路磁矩:M=C·Φ式中:C——线圈常数;φ——磁通计磁通读数。该方法对设备和样品的要求如下:1)要求磁通计控制漂移优于1uWb/min。2)线圈标定:一维或者三位线圈标定,国内较高水平线圈常数准确度优于0.1%,三维线圈的正交度优于0.1°。3)通过测试磁通,换算到磁矩过程主要由以上两个步骤保证,对于不同尺寸的样品导磁系数Pc(开路工作点)的计算成为采用亥姆霍兹线圈测试磁性材料磁特性参数Br/Hcb/Bhmax的重要难点 ...
【技术保护点】
一种用于测量任意形状磁体磁矩的磁矩测量仪,所述磁矩测量仪包括:被测样品载物盘,载物盘下方中心设有第一突起细轴,所述第一突起细轴端部成尖状;细长铜片,所述铜片质心套设于所述第一突起细轴中部;两个细长力传感器,安装在磁矩测量仪的底盘上,相互平行且以第一突起细轴所在轴线为中心对称设置,所述铜片平行设于所述两个力传感器之间;悬线,悬吊所述被测样品载物盘。
【技术特征摘要】
1.一种用于测量任意形状磁体磁矩的磁矩测量仪,所述磁矩测量仪包括:被测样品载物盘,载物盘下方中心设有第一突起细轴,所述第一突起细轴端部成尖状;细长铜片,所述铜片质心套设于所述第一突起细轴中部;两个细长力传感器,安装在磁矩测量仪的底盘上,相互平行且以第一突起细轴所在轴线为中心对称设置,所述铜片平行设于所述两个力传感器之间;悬线,悬吊所述被测样品载物盘。2.根据权利要求1所述的磁矩测量仪,所述力传感器采用20g量程、0.001g精度的秤的传感器,使用原有秤的处理芯片和显示屏。3.根据权利要求1所述的磁矩测量仪,所述两个力传感器与所述铜片接触处分别安装触头,所述触头与所述力传感器及所述铜片表面垂直无间隙接触设置。4.根据权利要求1-3之一所述的磁矩测量仪,所述铜片宽度为5mm。5.根据权利要求1-3之一所述的磁矩测量仪,所述力传感器为电阻应变片式力传感器。6.根据权利要求1所述的磁矩测量仪,所述底盘上方设有第二突起细轴,所述第二突起细轴端部成尖状,与所述载物盘下方的所述第一突起细轴正对。7.根据权利要求1-3之一或6所述的磁矩测量仪,利用一维方形亥姆霍兹线圈制造...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄兴,
申请(专利权)人:中国科学院自然科学史研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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