能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置制造方法及图纸

能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，包括绝缘底座、金属台、测试针、金属罩、升降支架、标准磁环、绝缘罩、电流互感器和电感测试仪。金属罩包括下金属环和上金属盖，上金属盖的中心设有中心孔，上金属盖下表面同轴设有金属导向套筒，金属导向套筒底部内表面同轴设有金属锥形凸台；上金属盖的正上方设有旋转盘，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接；当上金属盖下表面与下金属环上表面相接触配合时，金属锥形凸台与测试针的圆锥部的底部相接触；旋转盘能在电机的驱动作用下转动，电机与电流互感器相连接。本发明专利技术能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置
本专利技术涉及磁环电感分选装置，特别是一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置。
技术介绍
小电感金属磁环，尤其是镍锌铁氧体磁环，单匝电感量单位在nH级别，现有电感测试仪基本不能直接测试；为测试其电感并避免仪表及测试误差，需绕多圈金属导线，通常在50圈以上；测试完成后，再将绕线拆除，测试十分不便，费时费力、效率低下，且浪费了大量导线。2012年7月11日公开的第201120445738.0号中国专利技术，揭示了一种环形磁环电感分选工具；该分选工具包括绕有金属导线的环形磁环、与导线相连的电感测试仪、金属柱、金属台、环形绝缘罩、底座等。该结构基本能够完成小电感环形磁环的电感分选，但在使用中，因金属罩高度高，重量重，每次测试需将金属罩从金属柱上取下、放回操作；长时间测试后，测试者手会感觉酸痛、肿胀。另外，金属罩闭合时，会来回摩擦绕在磁环上的金属导线，使绝缘层脱落，需经常更换并重新绕制金属导线，使用不便。2013年4月25日公开的申请号为201310149474.8的中国专利技术专利申请，其专利技术创造的名称为一种小电感环形磁芯电感分选工具，包括金属底座、绕有金属导线的磁环、电感测试仪、金属柱，所述磁环为磁场源，所述金属柱、金属罩、无盖金属盒相接触，共同构成闭合磁通路；无盖金属盒与环形绝缘盖相配合，金属罩与环形绝缘盖活动配合，所述金属柱从上之下依次穿过金属罩、环形绝缘盖、磁环与无盖金属盒；无盖金属盒侧边开有孔，允许磁环上绕制的金属导线穿过。201310149474.8专利申请基本解决了201120445738.0中所存在的技术问题，然而两个专利申请，均存在如下技术问题，有待进行解决：为使金属罩能顺利套装进金属中，故金属罩上的孔洞直径大于金属柱的外径，因而，当金属罩盖合后，金属罩与金属柱之间具有间隙，因而电感测试频繁跳动，不稳定，需要人为左右晃动金属罩，使金属罩与金属柱相接触，故测试繁琐，误差大，测试精度差。另外，金属罩左右晃动过程中，会对金属柱来回多次撞击，从而金属柱磨损快，使用寿命短。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，该能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置当金属罩与金属台相盖合后，能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是：一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，包括绝缘底座、金属台、测试针、金属罩、升降支架、标准磁环、绝缘罩、电流互感器和电感测试仪。金属台放置在绝缘底座上。测试针为金属材料制成，测试针包括一体同轴设置的圆柱部和圆锥部，圆锥部位于圆柱部顶端。圆柱部底端与金属台固定连接，圆柱部从下至上依次穿过标准磁环和绝缘罩；标准磁环作为磁场源，标准磁环外周缠绕有金属线，并通过金属线与电感测试仪相连接。金属罩包括同轴设置的下金属环和上金属盖，下金属环同轴套设在绝缘罩的外周，下金属环底部与金属台固定连接。上金属盖的中心设置有中心孔，上金属盖下表面同轴设置有金属导向套筒，金属导向套筒底部内表面同轴设置有金属锥形凸台。上金属盖的正上方设置有旋转盘，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接，旋转盘顶端通过升降支架与绝缘底座固定连接，旋转盘及上金属盖能在升降支架的带动下进行升降；上金属盖在高度下降过程中，测试针的圆锥部依次从金属锥形凸台、金属导向套筒和上金属盖的中心孔穿过，当上金属盖下表面与下金属环上表面相接触配合时，金属锥形凸台与测试针的圆锥部的底部相接触。旋转盘能在电机的驱动作用下转动，电机与电流互感器相连接。所述升降支架上设置有能检测升降支架升降位移的位移传感器。所述下金属环的上表面设置有与上金属盖下表面相配合的环形凹槽。所述标准磁环与测试针的圆柱部之间设置有绝缘填充物。所述金属台上设置有能使标准磁环外周缠绕的金属线穿过的穿线孔。本专利技术采用上述结构后，当金属罩与金属台相盖合后，能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。附图说明图1显示了本专利技术一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置的结构示意图。其中有：1.绝缘底座；2.金属台；3.测试针；31.圆柱部；32.圆锥部；41.上金属盖；411.中心孔；412.金属导向套筒；413.金属锥形凸台；42.下金属环；421.环形凹槽；5.升降支架；51.升降横杆；511.位移传感器；52.水平横杆；53.连接轴；6.旋转盘；61.电机；62.电流互感器；63.绝缘连杆；7.标准磁环；71.绝缘填充物；72.金属线；8.绝缘罩；9.电感测试仪；10.待测磁环。具体实施方式下面结合附图和具体较佳实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。如图1所示，一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，包括绝缘底座1、金属台2、测试针3、金属罩、升降支架5、旋转盘6、标准磁环7、绝缘罩8、电流互感器62和电感测试仪9。金属台放置在绝缘底座上。测试针为金属材料制成，测试针包括一体同轴设置的圆柱部和圆锥部，圆锥部位于圆柱部顶端。圆柱部底端与金属台固定连接，优选为可拆卸连接，测试针可更换。圆柱部从下至上依次穿过标准磁环和绝缘罩。标准磁环作为磁场源，标准磁环外周缠绕有金属线，并通过金属线与电感测试仪相连接。进一步，上述标准磁环与测试针的圆柱部之间优选设置有绝缘填充物，因而能防止标准磁环晃动，电感测试更为准确。金属台上优选设置有能使标准磁环外周缠绕的金属线穿过的穿线孔，因而能避免金属线的磨损。金属罩包括同轴设置的下金属环和上金属盖，下金属环同轴套设在绝缘罩的外周，下金属环底部与金属台固定连接。上金属盖的中心设置有中心孔411，上金属盖下表面同轴设置有金属导向套筒412，金属导向套筒底部内表面同轴设置有金属锥形凸台413。上金属盖的正上方设置有旋转盘6，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接，旋转盘顶端通过升降支架与绝缘底座固定连接，旋转盘及上金属盖能在升降支架的带动下进行升降。旋转盘能在电机61的驱动作用下转动，电机与电流互感器相连接。上述升降支架5优选包括升降竖杆51和水平横杆53，升降竖杆的高度能够升降，升降竖杆内优选设置有能检测升降支架升降位移的位移传感器511。水平横杆的底部优选设置有连接轴53和电机。旋转盘优选通过轴承套装在连接轴53的外周，旋转盘的外周优选设置有齿轮，该齿轮与电机齿轮相啮合。上金属盖在高度下降过程中，测试针的圆锥部依次从金属锥形凸台、金属导向套筒和上金属盖的中心孔穿过，当上金属盖下表面与下金属环上表面相接触配合时，金属锥形凸台与测试针的圆锥部的底部相接触。进一步，上述下金属环的上表面优选设置有与上金属盖下表面相配合的环形凹槽，从而能对上金属盖进行限位。一种金属磁环小电感检测方法，包括以下步骤。步骤1，标准磁环电感测试：标准磁环套设在位于绝缘盖和金属台之间的测试针的圆柱部上，缠绕在标准磁环上的金属线优选从金属台中穿出后与电感测试仪相连接，上金属盖盖合在下金属环上；此时，电感测试仪显示电感读数为初始电感。步骤2，待测磁环放置：上金属盖高度上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，其特征在于：包括绝缘底座、金属台、测试针、金属罩、升降支架、标准磁环、绝缘罩、电流互感器和电感测试仪；金属台放置在绝缘底座上；测试针为金属材料制成，测试针包括一体同轴设置的圆柱部和圆锥部，圆锥部位于圆柱部顶端；圆柱部底端与金属台固定连接，圆柱部从下至上依次穿过标准磁环和绝缘罩；标准磁环作为磁场源，标准磁环外周缠绕有金属线，并通过金属线与电感测试仪相连接；金属罩包括同轴设置的下金属环和上金属盖，下金属环同轴套设在绝缘罩的外周，下金属环底部与金属台固定连接；上金属盖的中心设置有中心孔，上金属盖下表面同轴设置有金属导向套筒，金属导向套筒底部内表面同轴设置有金属锥形凸台；上金属盖的正上方设置有旋转盘，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接，旋转盘顶端通过升降支架与绝缘底座固定连接，旋转盘及上金属盖能在升降支架的带动下进行升降；上金属盖在高度下降过程中，测试针的圆锥部依次从金属锥形凸台、金属导向套筒和上金属盖的中心孔穿过，当上金属盖下表面与下金属环上表面相接触配合时，金属锥形凸台与测试针的圆锥部的底部相接触；旋转盘能在电机的驱动作用下转动，电机与电流互感器相连接。...

【技术特征摘要】
1.一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，其特征在于：包括绝缘底座、金属台、测试针、金属罩、升降支架、标准磁环、绝缘罩、电流互感器和电感测试仪；金属台放置在绝缘底座上；测试针为金属材料制成，测试针包括一体同轴设置的圆柱部和圆锥部，圆锥部位于圆柱部顶端；圆柱部底端与金属台固定连接，圆柱部从下至上依次穿过标准磁环和绝缘罩；标准磁环作为磁场源，标准磁环外周缠绕有金属线，并通过金属线与电感测试仪相连接；金属罩包括同轴设置的下金属环和上金属盖，下金属环同轴套设在绝缘罩的外周，下金属环底部与金属台固定连接；上金属盖的中心设置有中心孔，上金属盖下表面同轴设置有金属导向套筒，金属导向套筒底部内表面同轴设置有金属锥形凸台；上金属盖的正上方设置有旋转盘，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接，旋转盘顶端通过升降支架与绝缘底座固定连接，旋转盘及上金属盖能在升降支架的带动下进行升降；上金属盖在高...

【专利技术属性】
技术研发人员：马峻，薛松，
申请(专利权)人：苏州亚思科精密数控有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32