测试模式设置电路和包括其的半导体器件制造技术

一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，其通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及当第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。

Test mode setting circuit and semiconductor device including the same

A test mode setting circuit may include a first test mode signal generating unit, the first supply voltage to the operation, the first test pattern signal generating unit suitable for complete set in the mode activates the first test mode signal at the first voltage level, the first test mode signal in the first test mode signal. With the corresponding test code; and second test mode signal generating unit, the second power supply voltage to operate, second test mode signal generating unit for the first test pattern signal lock has second voltage level, and the first test mode signal when the first power supply voltage will be reset when the latch for second test mode signal.

【技术实现步骤摘要】
测试模式设置电路和包括其的半导体器件相关申请的交叉引用本申请要求2015年12月11日提交的申请号为10-2015-0176812的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
本专利技术的示例性实施例涉及测试模式设置电路和包括其的半导体器件。
技术介绍
半导体器件可以包括测试模式设置电路，该测试模式设置电路用于设置测试模式，然后在多个测试操作之中选择测试操作。此外，半导体器件可以包括与多个测试操作相对应的多个测试电路。当测试操作被选中时，半导体器件可以将对应的测试电路使能，以执行选中的测试操作。测试模式可以表示为半导体器件设置的用来执行测试操作的特定操作模式。图1为图示测试模式设置电路100的框图。图2为用于图示图1的测试模式设置电路100的操作的波形图。参见图1，测试模式设置电路100可以响应于测试码TM_CODE来设置多个测试模式之中的与测试码TM_CODE相对应的测试模式。每个测试模式可以与多个测试模式信号TM1至TMn之中的测试模式信号相对应。参见图2，测试模式设置电路100可以在模式设置完成(SET1)或者设置信号MRS_SET被激活时，设置多个测试模式之中的与测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试模式设置电路，包括：第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。

【技术特征摘要】
2015.12.11 KR 10-2015-01768121.一种测试模式设置电路，包括：第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。2.根据权利要求1所述的测试模式设置电路，其中，第二测试模式信号发生单元包括：多个电平移位器，所述多个电平移位器通过第二电源电压来操作，每个电平移位器适用于在所述多个第一测试模式信号之中的对应的第一测试模式信号被激活时，通过将对应的第一测试模式信号的电平从第一电压电平移位至第二电压电平，来产生多个第二测试模式信号之中的对应的第二测试模式信号；以及多个锁存单元，所述多个锁存单元通过第二电源电压来操作，每个锁存单元适用于锁存所述多个第二测试模式信号之中的对应的第二测试模式信号。3.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，第一电源电压包括具有第一电压电平的电源电压，第二电源电压包括具有第二电压电平的电源电压，并且第二电压电平比第一电压电平高。4.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，模式设置包括模式寄存器组MRS设置。5.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，即使当第一电源电压被重置时，每个锁存单元也保持对应的第二测试模式信号的状态。6.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，当第二电源电压被去激活时，每个锁存单元将对应的第二测试模式信号去激活。7.根据权利要求2所述的测试模式设置电路，其中，当模式设置未完成时，第一测试模式信号发生单元将所有的第一测试模式信号保持在去激活状态。8.一种半导体器件，包括：模式寄存器组电路，适用于响应于命令和地址来设置和储存半导体器件的操作模式，以及在设置完成时将设置信号激活；第一测试模式信号发生单元，第一测试模式信号发生单元通过第一电源电压来操作，并且适用于在设置信号被激活的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；第二测试模式信号发生单元，第二测试模式信号发生单元通过第二电源电压来操作，适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及在第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号；以及内部电路，适用于在第二测试模式信号被激活时，执行与第二测试模式信号相对应的预定操作。9.根据权利要求8所述的半导体器件，其中，第二测试模式信号发生单元包括：多个电平移位器，所述多个电平移位器通过第二电源电压来操作，每个电平移位器适用于在所述多个第一测试模式信号之中的对应的第一测试模式信号被激活时，通过将对应的第一测试模式信号的电平从第一电压电平移位至第二电压电平来产生第二测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：李相昊，金京兑，朴宰范，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR