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测试模式设置电路和包括其的半导体器件制造技术
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文档序号:15692569
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一种测试模式设置电路可以包括:第一测试模式信号发生单元,其通过第一电源电压来操作,第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号,所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应;以及第...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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