用于校准和测试多个过热控制器的方法和设备技术

本发明专利技术公开了一种校准多个过热控制器的方法，包括将多个过热控制器附接至歧管组件、将歧管组件包围在环境室内，以及同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器。

Method and apparatus for calibrating and testing multiple overheating controllers

The invention discloses a method for calibrating a plurality of overheating controller, including a plurality of overheating controller attached to the manifold assembly, the manifold assembly surrounded in the indoor environment, and at the same time each calibration multiple controller in superheated pressure sensor.

【技术实现步骤摘要】
用于校准和测试多个过热控制器的方法和设备
本专利技术总体涉及过热控制器。特别地，本专利技术涉及用于同时校准和/或测试多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。
技术介绍
美国专利No.9,140,613公开了过热控制器(superheatcontroller，SHC)。该专利中公开的SHC是单一的、自成一体的(self-contained)、独立的装置，其包括所有传感器、电子器件和自动探测流体类型如制冷剂的智能，并且报告用于住宅、工业和科学应用的多个常见的流体类型的过热。美国专利No.9,140,613的全部内容通过引用并入本文。本文的图5和6示出了已知的SHC10，其与美国专利No.9,140,613公开的过热控制器类似。如图5和6所示，SHC10示出的实施例包括具有本体14的壳体12、盖16和流体入口构件18。流体入口构件18可以通过安装环19固定到壳体12。安装环19通过螺纹连接将流体入口构件18附接至壳体12部分。可替代地，可以通过任意希望的方法将安装环19附接至流体入口构件18，如通过焊接或压力装配。在图5和6示出的实施例中，流体入口构件18是黄铜配件，具有限定密封表面20的中心形成的开口。当在常规的加热、通风、空调和制冷(HVAC-R)系统(未示出)中以已知的方式使用时，SHC10的密封表面20可以接合HVAC-R系统中的连接器以限定金属对金属的密封。已知的过热控制器包括作为其完整构件的压力传感器。例如，已知的SHC10包括集成的压力和温度传感器22，压力和温度传感器22具有安装到印刷电路板(PCB)28的压力传感器部分24和温度传感器部分26。过热处理器30、数据报告或通信模块32和输入/输出(IO)模块34也安装到PCB28。IO模块34是物理硬件接口，接收输入功率并且通过可用的硬连线接口如电线或电缆36将数据报告到过热处理器30。可以通过IO模块34连接到SHC10的目标装置在图6中附图标记38处示意性地示出，并且可以包括额外的温度传感器、手提电脑和笔记本电脑、手机、存储卡，以及在线路测试设备的常规终端中或与其一起使用的任意装置。可替代地，目标装置38可以通过无线连接而连接到通信模块32。过热处理器30被安装到PCB28，并且是高分辨率、高准确性的装置，其处理分别来自集成的压力和温度传感器22的压力和温度传感器部分24和26的输入信号、探测流体类型、计算流体的过热，并且提供识别计算的过热水平的输出。过热处理器30还可以被配置为提供其它数据，如流体温度、流体压力、流体类型、保持在板载存储器中的相关历史日期(如警报和开断的历史)，以及其它所需的信息。有利地，过热处理器30在压力和温度通常的操作范围内在一次校准后保持高水平的准确性。合适的过热处理器的非限制示例包括微处理器、现场可编程门阵列(FPGA)和专用集成电路(ASIC)具有嵌入式和/或外置存储器和外围设备。在已知的SHC10中，压力传感器或换能器(transducer)如压力传感器部分24，可以在非校准状态下供给，并且因此必须校准SHC10，如在常规的环境室内。对于SHC10已知的校准程序要求使SHC10稳定在两个不同的温度。在所述两个温度的每个中，校准程序必须在两个不同的压力完成并且存储。在两个温度的每个在两个压力完成校准后，SHC10返回到验证温度，通常为室温，并且校准的准确性在多个压力点被验证，如五个压力点。通常，使SHC10稳定在两个校准温度的每个和在验证温度所需的时间为大约一个半小时(1.5小时)。虽然使SHC10稳定在两个校准温度的每个和在验证温度所需的时间将随着使用的环境室的类型和特性变化，但是时间可以在大约1.0小时到大约2.0小时的范围内。执行校准程序和将结果存储在SHC10中所需的时间可以是大约10分钟。因此，用于校准和验证所需的时间大部分用于使SHC10到达和稳定在两个校准温度和在验证温度。例如，以已知的方式单独校准和验证25个SHC10所需的时间大约为79小时。因此，希望的是，提供一种用于同时校准多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。
技术实现思路
本专利技术涉及用于同时校准和/或测试多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。在一个实施例中，校准多个过热控制器的方法包括将多个过热控制器附接至歧管组件、将歧管组件包围在环境室内、以及同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器。在第二实施例中，歧管组件被配置为校准和测试一个或多个过热控制器，并且包括歧管框架。歧管具有多个流体管道，并且被安装到歧管框架。多个过热控制器接头被安装到流体管道，每个过热控制器接头被配置为使过热控制器附接至其上。在另一实施例中，压力校准台被配置为校准和测试多个过热控制器，并且包括环境室、计算机、加压气源和电源。第一数据采集模块在其中具有压力计，并且第二数据采集模块被连接到环境室内的温度传感器。空气调节器包括过滤器，并且安装在加压气源和第一数据采集模块之间。歧管组件被配置为安装在环境室内，并且包括歧管框架和歧管，使得多个流体管道被安装到歧管框架并且连接到加压气源。气体线路连接器被附接至歧管的入口端部，并且被配置为附接至加压气源，并且压力换能器被附接至歧管的出口端部，并且被配置为检测或测量歧管的流体管道内的气压。多个过热控制器接头被安装到流体管道，并且每个过热控制器接头被配置为使过热控制器附接至其上。每个过热控制器接头是阳性接头，具有安装在其开口端部处外表面周围的O形环，并且O形环限定过热控制器接头和过热控制器的流体入口构件的密封表面之间的流体紧密密封。通过参考附图阅读优选实施例的以下详细描述，本专利技术的各个方面将对于本领域技术人员变得清楚。附图说明图1是根据本专利技术的改进的歧管组件的透视图。图2是图1中示出的歧管组件的部分的放大透视图。图3是图1和2中示出的歧管组件的部分的截面正视图，示出了附接至改进的过热控制器接头的过热控制器。图4是示出了具有两个图1所示的歧管组件的压力校准台的框图。图5是已知的普遍过热控制器的透视图。图6是图5所示的已知的普遍过热控制器的剖视图。图7是示出了根据本专利技术的改进的压力校准和验证方法的图。图8是示出了图7所示的改进的压力校准和验证方法的最终功能测试部分的图。具体实施方式现在参考附图，图1到3示出了改进的歧管组件50的基本结构，该歧管组件被配置为同时校准、验证和/或测试在多个过热控制器(SHC)10内的压力传感器或换能器。SHC10可以是任意希望的SHC，如图5和6所示的SHC10、美国专利No.9,140,613中公开的SHC的任意一个实施例、其它SHC、其它压力传感器或具有压力传感器作为其构件的其它装置。歧管组件50包括具有安装表面56的歧管框架54。歧管58被附接至安装表面56，并且包括多个流体管道60。每个流体管道60具有第一端部60a和第二端部60b，并且流体管道60通过在它们的第二端部60b处的连接流体管道62彼此连接。流体管道60通过任意希望的器件附接至安装表面56，如通过多个基本上U形的安装支架64。一个或多个电连接器65，如50针扁平带状电缆连接器，可以安装到歧管框架54。在示出的实施例中，每个歧管组件具有五个电连接器65。可替代地，每个歧管组件可以具有任意希望数量的电连接器6本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种校准多个过热控制器的方法，包括：将多个过热控制器附接至歧管组件；将歧管组件包围在环境室内；以及同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器。

【技术特征摘要】
2015.10.05 US 62/237,1551.一种校准多个过热控制器的方法，包括：将多个过热控制器附接至歧管组件；将歧管组件包围在环境室内；以及同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器。2.根据权利要求1所述的校准多个过热控制器的方法，还包括最终功能测试，所述最终功能测试包括：继同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器的步骤后，单独检查每个过热控制器的功能测试参数。3.根据权利要求2所述的校准多个过热控制器的方法，其中，所述最终功能测试还包括：在单独检查每个过热控制器的功能测试参数之前，将所述歧管组件从所述环境室去除、并且允许附接至所述歧管组件上的过热控制器稳定在室温。4.根据权利要求3所述的校准多个过热控制器的方法，其中，所述最终功能测试还包括：从正在测试的过热控制器内的过热处理器读取时间戳和标识信息。5.根据权利要求1所述的校准多个过热控制器的方法，其中，所述歧管组件包括歧管框架、具有安装到歧管框架的多个流体管道的歧管、以及安装到流体管道的多个过热控制器接头，每个过热控制器接头被配置为使得过热控制器附接至其上。6.根据权利要求5所述的校准多个过热控制器的方法，其中，每个过热控制器接头是阳性接头，所述阳性接头具有安装在其开口端部处的外表面周围的O形环。7.根据权利要求6所述的校准多个过热控制器的方法，其中，所述O形环限定所述过热控制器接头和所述过热控制器的流体入口构件的密封表面之间的流体紧密密封。8.根据权利要求5所述的校准多个过热控制器的方法，还包括：将环境室内的温度稳定在第一温度。9.根据权利要求8所述的校准多个过热控制器的方法，还包括：当环境室内的温度在第一温度时，将加压气体在第一压力引入到所述歧管组件中，并且读取所述过热控制器内的压力传感器的输出信号。10.根据权利要求9所述的校准多个过热控制器的方法，还包括：当环境室内的温度在第一温度时，将加压气体在第二压力引入到所述歧管组件中，并且读取所述过热控制器内的压力传感器的输出信号。11.根据权利要求10所述的校准多个过热控制器的方法，还包括：将环境室内的温度稳定在第二温度。12.根据权利要求11所述的校准多个过热控制器的方法，还包括：当环境室内的温度在第二温度时，将加压气体在第一压力引入到所述歧管组件中，并且读取所述过热控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：BC钟，WC朗，A拉奥，C杨，J阮，老乔A奥赫达，CB宾格尔，
申请(专利权)人：盾安美斯泰克股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US