一种检测和评价光源平行性的方法技术
【技术实现步骤摘要】
一种检测和评价光源平行性的方法
本专利技术属于光学元件检测领域，具体涉及一种检测和评价光源平行性的方法。
技术介绍
在光学仪器领域，光源作为初始信号，不同的仪器对光源的要求不同，平行光源作为一种被透镜准直后的光源，提供平行光照明，用途非常广泛，很多光学仪器仪表都要求使用被准直后的平行光源，而且对平行光源平行性要求也不同，对光源平行性的检测和评价是保证系统所使用光源是否满足系统对光源平行性要求的手段。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种检测和评价光源平行性的方法，该方法通过现有的光栅得到了光源平行性的评价手段。本专利技术解决技术问题所采用的技术方案如下：一种检测和评价光源平行性的方法，该方法包括如下步骤：步骤一：将两块具有周期性的光栅相对放置，将待检测光源置于两块光栅一侧，CCD置于两块光栅另一侧；步骤二：待检光源在第一光栅表面上形成的波面半径为R1，在第二光栅表面上形成的波面半径为R2；待检光源投射到第一光栅的像透过第二光栅形成莫尔条纹，由CCD测得；步骤三：根据莫尔条纹的宽度、第一光栅在第二光栅上像的放大倍率，两个光栅之间的距离和夹角和...
【技术保护点】
一种检测和评价光源平行性的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤一：将两块具有周期性的光栅相对放置，将待检测光源置于两块光栅一侧，CCD置于两块光栅另一侧；步骤二：待检光源在第一光栅表面上形成的波面半径为R
【技术特征摘要】
1.一种检测和评价光源平行性的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤一：将两块具有周期性的光栅相对放置，将待检测光源置于两块光栅一侧，CCD置于两块光栅另一侧；步骤二：待检光源在第一光栅表面上形成的波面半径为R1，在第二光栅表面上形成的波面半径为R2；待检光源投...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雪鹏，蔺春波，孙强，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林,22
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