一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置及方法。装置包括二维移动平台，承载样品池以使样品池移动，样品池上设有薄膜安装孔；可垂直移动的显微镜，在样品池上方；两组图像采集系统，采集显示镜及薄膜投影图像；两组平行光源，在两组图像采集系统相对侧，对形变的被标识的薄膜及显微镜发射平行光照射，在图像采集上分别形成投影；曲面控制系统，向样品池内注入液体，使样品池上的薄膜发生形变；图像处理装置，根据投影图像输出当前液体压力下被标识的薄膜曲面上的曲线。本发明专利技术解决了测试过程中对于不同曲面曲线捕捉来更换物件的步骤繁琐以及捕捉过程中曲面变化致使实验结果不精确的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置及方法
本专利技术属于薄膜形变曲面曲线捕捉
，具体涉及一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置及方法。
技术介绍
柔性可延展电子器件为新一代半导体器件的发展提供了新方向，并且具有许多重要的和新兴的应用，包括柔性显示器、半球电子眼数码相机、传感器薄膜等。薄膜作为传感器薄膜里的一个重要内容，对传感器工作时性能有很大的影响。而柔性传感器薄膜，在工作时，薄膜会发生弯曲形变，由于传感器附于薄膜上，薄膜的形变自然会对传感器的性能造成影响。通过大量的薄膜形变检测测试，找出柔性传感器薄膜在形变时传感器性能的改变，模拟传感器工作时薄膜对传感器性能的影响，并针对这些影响对柔性传感器进行改进。由于薄膜进行曲面形变时，曲面为非规则球面，这样一来，对于薄膜形变曲面曲率与传感器性能之间的关系的测定就较为复杂。可以捕捉薄膜弯曲变形时通过中心最高点的曲线，这样不仅可以分析在此曲线上传感器工作状况，同时也可通过此曲线计算出相应点的曲率，分析曲率对该点处传感器性能的影响。但针对于曲线的捕捉也要考虑准确性及简易性等，通过点的捕捉来确定曲线需保证捕捉的点在过中心最高点的曲线上，且该曲线处于与该本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置，其特征在于，包括：二维移动平台，用于承载样品池以使样品池二维水平移动，样品池上端设有薄膜安装孔，用于安装被检测的被标识的薄膜；可垂直移动的显微镜，与图像处理装置连接，安装在样品池上方，可将薄膜图像显示在图像处理装置中，用于基于显微镜所观察的被标识的薄膜图像的清晰度，规定显微镜的镜头与被标识的薄膜之间距离；图像采集系统，与图像处理装置相连接，用于采集显示镜及形变的标识的薄膜的投影图像，包括第一微距成像系统及第二微距成像系统；平行光源，包括第一平行光源以及第二平行光源，分别设在所述第一微距成像系统以及第二微距成像系统的相对侧，第一平行光源及第一微距成像系统的中心连...

【技术特征摘要】
1.一种捕捉薄膜非规则球面曲线的装置，其特征在于，包括：二维移动平台，用于承载样品池以使样品池二维水平移动，样品池上端设有薄膜安装孔，用于安装被检测的被标识的薄膜；可垂直移动的显微镜，与图像处理装置连接，安装在样品池上方，可将薄膜图像显示在图像处理装置中，用于基于显微镜所观察的被标识的薄膜图像的清晰度，规定显微镜的镜头与被标识的薄膜之间距离；图像采集系统，与图像处理装置相连接，用于采集显示镜及形变的标识的薄膜的投影图像，包括第一微距成像系统及第二微距成像系统；平行光源，包括第一平行光源以及第二平行光源，分别设在所述第一微距成像系统以及第二微距成像系统的相对侧，第一平行光源及第一微距成像系统的中心连线与第二平行光源及第二微距成像系统的中心连线垂直，用于对形变的被标识的薄膜以及显微镜发射平行光照射，在第一微距成像系统以及第二微距成像系统上形成对应的投影；曲面控制系统，用于向样品池内注入液体，使安装在样品池上的被标识的薄膜发生相应的形变；图像处理装置，用于根据图像采集系统采集的投影图像，获得样品池的X轴或Y轴方向移动距离以及显微镜的垂直移动距离，根据该移动距离计算被标识的薄膜上多个点的坐标，再根据该点的坐标绘制输出当前液体压力下被标识的薄膜曲面上的曲线。2.根据权利要求1所述捕捉薄膜非规则球面曲线的装置，其特征在于，所述曲面控制系统包括微泵，微泵与储液池和样品池通过液体输送管相连。3.根据权利要求1所述捕捉薄膜非规则球面曲线的装置，其特征在于，所述图像处理装置为计算机。4.根据权利要求1所述捕捉薄膜非规则球面曲线的装置，其特征在于，所述第一微距成像系统及第二微距成像系统为CCD图像采集器。5.一种权利要求1-4任一项所述捕捉薄膜非规则球面曲线的装置的捕捉方法，其特征在于，包括以...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈诚，黄显，郭宁，姚遥，张雅忠，
申请(专利权)人：天津商业大学，
类型：发明
国别省市：天津,12