含有环乙烯基单元的二烯高弹体及其制备工艺制造技术

技术编号:1563387 阅读:197 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及到一种含有环乙烯基单元的线型或支链二烯高弹体。如本发明专利技术所述,该线型二烯高弹体是从至少一种共轭二烯制备的,并且它所包含的环乙烯基单元的质量含量大于或等于15%,同时它的数均分子量在10,000-300,000g/mol的范围内。本发明专利技术还涉及到这样一种线型或支链二烯高弹体的制备工艺,它含有上述数量的环乙烯基单元,并且它的数均分子量在10,000-30,000g/mol的范围内,该制备工艺包括在催化体系的存在下,至少一种共轭二烯单体在一种惰性脂肪烃或脂环烃溶剂中的连续反应,该催化体系包括有机锂引发剂、含有两个或多个杂原子的极性试剂和脂肪醇或脂环醇的碱金属盐,其中:(i)极性试剂与引发剂的摩尔比大于或等于3,(ii)盐与引发剂的摩尔比在0.01-2的范围内,和(iii)盐与极性试剂的摩尔比在0.001-0.5的范围内。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到线型或支链二烯高弹体,其中含有大于或等于15%的质量含量的环乙烯基单元的质量含量,例如乙烯基环烷单元,本专利技术还涉及到通过阴离子聚合反应生产所述的二烯高弹体的的制备工艺以及用于该制备工艺的催化体系。
技术介绍
一种共轭二烯单体,例如丁二烯,可以加入到聚合物中,该聚合物是以1,4-顺式,1,4-或1,2-反式(乙烯键)的形式通过阴离子聚合反应得到的。在碳氢化合物溶剂和一种或多种共轭二烯单体的存在下,阴离子聚合反应可以容易地通过有机锂化合物的引发进行反应。通过这些反应所制备的高弹体中乙烯键的平均质量含量较低,通常在8%-15%的范围内。为了得到具有特定玻璃化转变温度(Tg)的高弹体,公知的方法是向聚合物介质中加入一种极性试剂,它可以显著地增加乙烯键的平均含量,例如,其含量可以达到90%。美国专利US-A-5,620,939,US-A-5,906,956和US-A-6,140,434的说明书详细描述了阴离子聚合反应的反应工艺,它是不连续进行的,以用来提高乙烯键在二烯弹性体中的含量,这种二烯高弹体可以是聚丁二烯、苯乙烯和丁二烯的共聚物或聚异戊二烯。这些不连续的聚合工艺是本文档来自技高网...

【技术保护点】
从至少一种共轭二烯制备的线型二烯高弹体,其特征是它所包含的环乙烯基单元的质量含量大于或等于15%,并且它的数均分子量在10,000-300,000g/mol的范围内。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:JL卡比奥奇L夸西奥克斯N达约克斯
申请(专利权)人:米其林技术公司米其林研究和技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:FR[法国]

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