低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置制造方法及图纸

技术编号:15543918 阅读:158 留言:0更新日期:2017-06-05 14:14
本发明专利技术提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值;获取作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值;基于辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值,计算得到输出电压漂移量;以辐照前的输出噪声电压值作为信息参数,以输出电压漂移量作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于系数向量,建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用无损筛选回归预测方程,对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。本发明专利技术能够实现在对低压差线性稳压器无损伤的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。

Nondestructive screening method and device for low voltage difference linear voltage regulator radiation resistance

The invention provides a low dropout linear regulator with anti radiation ability of nondestructive screening method and device. The method includes: obtaining the random sample as low dropout linear regulator output noise voltage pre irradiation value and the output voltage value; for as low dropout linear regulator output voltage of the random sample after irradiation after the value of the output voltage before irradiation; the value and the output voltage after irradiation is calculated based on the value of the output voltage to the output noise voltage drift; pre irradiation value as information parameters to output voltage drift as the irradiation performance parameters, establish multiple linear regression equation, and calculate the linear regression equation of the coefficient vector based on coefficient vector, nondestructive screening; regression equation is established between parameters and performance parameters of irradiation; nondestructive screening regression equation by using the same batch of. Other low dropout linear regulators are screened. The invention can realize the test and screening of the accurate and high efficiency radiation resistance of the component under the condition that the low voltage difference linear voltage regulator is not damaged.

【技术实现步骤摘要】
低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置
本专利技术涉及电子电器
,具体而言,涉及一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置。
技术介绍
低压差线性稳压器主要是由晶体管、基准二极管、比较放大器和取样电阻构成,该器件具有负载调整率低、静态电流小、噪音低、效率高等突出优点,应用于空间辐射环境中的低压差线性稳压器(LDO,LowDropoutRegulator),在空间带电粒子和各种射线的作用下,其性能会发生明显变化,其输出纹波、线性调整率、静态电流、转换效率以及噪声电压功率谱幅值等发生相应的变换;因此如何对应用于空间环境中的低压差线性稳压器进行抗辐照能力的测试,进而筛选出抗辐照能力强的脉冲宽度调试器进行使用具有十分重要的意义。现有技术中,对航天用低压差线性稳压器的抗辐照能力的测试和筛选的方式主要采用采用“辐照-退火”方法辐照-退火筛选方法具体过程如图1所示,首先对待筛选器件进行额定剂量的辐照;然后选择一种或者几种灵敏电参数,在两小时内完成测量,筛选掉不符合要求的器件;接着进行50%额定剂量的辐照;接着加压退火后再次进行电测试;最后筛选出合适的器件;这种方法具有检测成本高、检测时间长和对器件本身具有一定的破坏性的缺陷;并且由于采用大剂量率试验来等效空间低剂量率辐照环境的方法,模拟结果往往不准确。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例的目的在于提供一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置,以解决上述问题。第一方面,本专利技术实施例提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,包括:获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值;获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值;基于所述作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值,计算得到输出电压漂移量;以所述辐照前的输出噪声电压值作为信息参数,以所述输出电压漂移量作为辐照性能参数,采用线性回归法建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于所述系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用所述无损筛选回归预测方程,预测单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。结合第一方面,本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中:所述获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器的噪声电压值包括:设置低压差线性稳压器的输入电压和负载条件;采集低压差线性稳压器输出端的输出信号;对所述输出信号进行前置放大,得到前置放大信号;基于所述前置放大信号,得到噪声电压值。结合第一方面,本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中:所述利用所述无损筛选回归预测方程,测试单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批低压差线性稳压器进行筛选,包括:获取待筛选低压差线性稳压器的输出噪声电压值;基于所述输出噪声电压值,利用所述回归预测方程,得到此低压差线性稳压器的输出电压漂移量预测值;将所述输出电压漂移量预测值和此批低压差线性稳压器的输出电压漂移容限进行比较,如果所述预测值在此类低压差线性稳压器的输出电压漂移容限之内,则认为此低压差线性稳压器为合格产品;反之,如果所述预测值不在此类低压差线性稳压器的输出电压漂移容限之内,则认为此低压差线性稳压器为不合格产品。第二方面,本专利技术实施例提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选装置,包括:第一获取单元,用于获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值;第二获取单元,用于获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值;计算单元,用于基于所述作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值,计算得到输出电压漂移量;线性回归方程建立单元,用于以所述辐照前的输出噪声电压值作为信息参数,以所述输出电压漂移量作为辐照性能参数,采用线性回归法建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;无损筛选回归预测方程建立单元,用于基于所述系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;测试单元,用于利用所述无损筛选回归预测方程,预测单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。本专利技术实施例所提供的方法以及装置,能够实现在对低压差线性稳压器无损伤的前提下,进行对低压差线性稳压器抗辐照能力进行检验,进而实现准确、高效的筛选出抗辐照能力强的低压差线性稳压器元器件。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了现有技术中“辐照-退火”方法流程示意图;图2示出了本专利技术实施例所提供的一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法的方法流程示意图;图3示出了本专利技术实施例所提供的噪声电压值的测量系统的结构示意图;图4示出了本专利技术实施例所提供的一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。下面通过具体实施例进行对本专利技术技术方案的详细介绍。如图1所示,本专利技术实施例提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,包括如下步骤:S201、获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值En及输出电压值Uo;上述步骤前,首先从同一批低压差线性稳压器的“抽样母体”中按照简单随机抽样原则抽取n个“随机子样”;对于大量同一工艺制造出来的低压差线性稳压器,其参数服从一定的统计分布,子样的个体与母体具有相同的分布规律。对子样进行回归分析,从中得到的概率结论可以推广到母体。在实际应用中,随机子样的个数可视母本的样品数和要求的精度来确定子样数,一般在20~30个之间;测量这些随机子样低压差线性稳压器辐照前的噪声电压值En及输出电压值Uo,并记录测试条件;本专利技术对噪声电压值的测量采用如图3所示的噪声电压值的测量系统,该系统包括:电源、LDO器件适配器、偏置器、低噪声前置放大器、数据采集与分析系统;其中LDO器件适配器和偏置器主要是根据待测器件噪声测试的具体要求,提供偏置条件、负载条件,使之处于相应的测试状态;待测的噪声信号经过前置放大器和数据采集卡被送至微机进行数据的分析处理、存储和打印输出;数据采集卡采用DAQ2010数据采集卡,其最大采样速率为2MHz,量化精度为14bit,以实现信号实时、快速、准确的采集,并保证较大的频率范围和测试精度;进一本文档来自技高网...
低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置

【技术保护点】
一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,其特征在于,包括:获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值;获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值;基于所述作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值,计算得到输出电压漂移量;以所述辐照前的输出噪声电压值作为信息参数,以所述输出电压漂移量作为辐照性能参数,采用线性回归法建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于所述系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用所述无损筛选回归预测方程,预测单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。

【技术特征摘要】
1.一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,其特征在于,包括:获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值;获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值;基于所述作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出电压值和经过辐照后的输出电压值,计算得到输出电压漂移量;以所述辐照前的输出噪声电压值作为信息参数,以所述输出电压漂移量作为辐照性能参数,采用线性回归法建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于所述系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用所述无损筛选回归预测方程,预测单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批其他低压差线性稳压器进行筛选。2.根据权利要求1所述的一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,其特征在于,所述获取所述作为随机子样的低压差线性稳压器的噪声电压值包括:设置低压差线性稳压器的输入电压和负载条件;采集低压差线性稳压器输出端的输出信号;对所述输出信号进行前置放大,得到前置放大信号;基于所述前置放大信号,得到噪声电压值。3.根据权利要求1所述的一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法,其特征在于,所述利用所述无损筛选回归预测方程,测试单个低压差线性稳压器的抗辐照性能,对同批低压差线性稳压器进行筛选,包括:获取待筛选低压差线性稳...

【专利技术属性】
技术研发人员:石强李兆成
申请(专利权)人:深圳市量为科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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