低频噪声测试装置，包括：电磁屏蔽外壳及设置于所述电磁屏蔽外壳内的多个隔离设置的屏蔽腔体；组成所述测试装置的多个功能模块设置于所述屏蔽腔体中。本实用新型的一体化低频噪声测试装置有效降低了所述测试装置功能模块之间的相互辐射干扰，提高测试结果...

一体化低频噪声测试装置，包括：电磁屏蔽外壳及设置于所述电磁屏蔽外壳内的多个隔离设置的屏蔽腔体；组成所述测试装置的多个功能模块设置于所述屏蔽腔体中。本发明的一体化低频噪声测试装置有效降低了所述测试装置功能模块之间的相互辐射干扰，提高测试结...

本发明提供了一种太阳能电池抗辐照能力无损检验方法及装置，所述方法包括：获取随机子样太阳能电池辐照前短路电流J

本发明提供了一种GaN发光二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，所述方法包括：获取随机子样器件的输出光功率P

本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；计算辐照前后的电流传输比变化量；对数据进行预处理，以噪...

本发明提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值；获取作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流；以输出占空比和15Hz噪声点频值作为信...

本发明提供了一种肖特基二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取辐照前作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流、反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值；获取经过辐照后的作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流；计算辐照前后的反向漏电流退化...

本发明提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照...

本发明提供了一种低压差线性稳压器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的低压差线性稳压器辐照前的输出噪声电压值及输出电压值；获取作为随机子样的低压差线性稳压器经过辐照后的输出电压值；基于辐照前的输出电压值和经过辐照后的...