一种推力球轴承轴承座检测系统技术方案

本发明专利技术涉及一种推力球轴承轴承座检测系统，包括：传送装置、用于将需检测轴承座传送到设定位置；推动送料装置、用于将传送装置传送来的轴承座推动到第一个工位；喷头冲洗装置、用于将轴承座冲洗干净；沟槽深度测量装置、用于测量轴承座上沟槽的深度；内径测量装置、用于测量轴承座的内圈半径；外径测量装置、用于测量轴承座的外圈半径；合格品下料翻转装置、用于将上述测量参数均合格的轴承座侧面翻转并传递到整理排序装置；整理排序装置、将合格轴承座进行整理排序；轴承座推拉传动装置，将各个装置下的轴承座依次传递到下一工位。本发明专利技术结构紧凑，测量精确、测量效率高、省时省力、适合大批量的推力球轴承轴承座的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种推力球轴承轴承座检测系统
本专利技术涉及轴承生产设备
，尤其涉及一种推力球轴承轴承座检测系统。
技术介绍
推力球轴承轴承座是推力球轴承中重要的一部分，是推力球轴承生产过程中必不可少的一部分。在推力球轴承轴承座生产完成之后需要经过冲洗和沟槽深度、内径、外径等详细的检测，目前市面上的测量系统或多或少存在一些测量项目不够系统全面，测量不够精确、测量效率低等缺陷，因此有必要对现有推力球轴承轴承座的检测系统进行改进创新。
技术实现思路
本专利技术为了克服现有技术中存在的上述缺陷，提供了一种推力球轴承轴承座检测系统。为解决上述问题，本专利技术提出的推力球轴承轴承座检测系统包括：传送装置、用于将需检测轴承座传送到设定位置；推动送料装置、用于将传送装置传送来的轴承座推动到第一个工位；喷头冲洗装置、用于将该工位下的轴承座冲洗干净；沟槽深度测量装置、用于测量轴承座上沟槽的深度；内径测量装置、用于测量轴承座的内圈半径；外径测量装置、用于测量轴承座的外圈半径；合格品下料翻转装置、用于将上述测量参数均合格的轴承座侧面翻转并传递到整理排序装置；整理排序装置、将合格品下料翻转装置传送来的合格轴承座进行整理排序；轴承座推拉传动装置，将各个装置下的轴承座依次传递到下一工位。上述技术方案中，所述推力球轴承轴承座检测系统设置有一非合格品收集装置，所述非合格品收集装置用于收集所述轴承座推拉传动装置推送出来的不合格的轴承座。上述技术方案中，所述第一工位以及喷头冲洗装置、沟槽深度测量装置、内径测量装置、外径测量装置、合格品下料翻转装置和非合格品收集装置所对应的工位均在同一条直线上，且等间距分布。上述技术方案中，所述推力球轴承轴承座检测系统设置有一控制装置，所述控制装置用于控制所述传送装置的传送速度、所述推动送料装置的推动距离、所述喷头冲洗装置的冲洗强度及喷洗时间、轴承座推拉传动装置的传动速度和设置所述沟槽深度测量装置、内径测量装置、外径测量装置的测量标准值以及计量所检测轴承座的总数量。上述技术方案中，所述沟槽深度测量装置、内径测量装置、外径测量装置均采用位移传感器实现测量。上述技术方案中，所述轴承座推拉传动装置由两组气缸分别实现左右和前后的移动。本专利技术与现有技术方案相比具有以下有益效果和优点：本专利技术提出的推力球轴承轴承座检测系统结构紧凑，测量精确、测量效率高、省时省力、适合大批量的推力球轴承轴承座的检测。附图说明图1是本专利技术提出的推力球轴承轴承座检测系统的结构示意图。图中编号说明：1、传送装置；2、推动送料装置；3、喷头冲洗装置；4、沟槽深度测量装置；5、内径测量装置；6、外径测量装置；7、合格品下料翻转装置；8、整理排序装置；9、轴承座推拉传动装置；10、非合格品收集装置；11、控制装置。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的详细描述：本实施例中，如图1所示，本专利技术提出的推力球轴承轴承座检测系统包括：传送装置1、用于将需检测轴承座传送到设定位置；推动送料装置2、用于将传送装置1传送来的轴承座推动到第一个工位；喷头冲洗装置3、用于将该工位下的轴承座冲洗干净；沟槽深度测量装置4、用于测量轴承座上沟槽的深度；内径测量装置5、用于测量轴承座的内圈半径；外径测量装置6、用于测量轴承座的外圈半径；合格品下料翻转装置7、用于将上述测量参数均合格的轴承座侧面翻转并传递到整理排序装置；整理排序装置8、用于将合格品下料翻转装置7传送来的合格轴承座进行整理排序；轴承座推拉传动装置9、用于将各个装置下的轴承座依次传递到下一工位。推力球轴承轴承座检测系统设置有一非合格品收集装置10，非合格品收集装置10用于收集轴承座推拉传动装置9推送出来的不合格的轴承座。第一工位以及喷头冲洗装置3、沟槽深度测量装置4、内径测量装置5、外径测量装置6、合格品下料翻转装置7和非合格品收集装置10所对应的工位均在同一条直线上，且等间距分布。推力球轴承轴承座检测系统设置有一控制装置11，控制装置11用于控制传送装置1的传送速度、推动送料装置2的推动距离、喷头冲洗装置3的冲洗强度及喷洗时间、轴承座推拉传动装置9的传动速度和设置沟槽深度测量装置4、内径测量装置5、外径测量装置6的测量标准值以及计量所检测轴承座的总数量。沟槽深度测量装置4、内径测量装置5、外径测量装置6均采用位移传感器实现测量。轴承座推拉传动装置9由两组气缸分别实现左右和前后的移动。最后说明的是，以上实施例仅用以说明本专利技术的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本专利技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本专利技术的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本专利技术技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本专利技术的权利要求范围中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种推力球轴承轴承座检测系统，其特征在于，包括：传送装置（1）、用于将需检测轴承座传送到设定位置；推动送料装置（2）、用于将所述传送装置（1）传送来的轴承座推动到第一个工位；喷头冲洗装置（3）、用于将该装置对应工位上的轴承座冲洗干净；沟槽深度测量装置（4）、用于测量该装置对应工位上的轴承座沟槽的深度；内径测量装置（5）、用于测量该装置对应工位上的轴承座的内圈半径；外径测量装置（6）、用于测量该装置对应工位上的轴承座的外圈半径；合格品下料翻转装置（7）、用于将上述测量参数均合格的轴承座侧面翻转并传递到整理排序装置（8）；整理排序装置（8）、用于将所述合格品下料翻转装置（7）传送来的合格轴承座进行整理排序；轴承座推拉传动装置（9）、用于将各个装置下的轴承座依次传递到下一工位。

【技术特征摘要】
1.一种推力球轴承轴承座检测系统，其特征在于，包括：传送装置（1）、用于将需检测轴承座传送到设定位置；推动送料装置（2）、用于将所述传送装置（1）传送来的轴承座推动到第一个工位；喷头冲洗装置（3）、用于将该装置对应工位上的轴承座冲洗干净；沟槽深度测量装置（4）、用于测量该装置对应工位上的轴承座沟槽的深度；内径测量装置（5）、用于测量该装置对应工位上的轴承座的内圈半径；外径测量装置（6）、用于测量该装置对应工位上的轴承座的外圈半径；合格品下料翻转装置（7）、用于将上述测量参数均合格的轴承座侧面翻转并传递到整理排序装置（8）；整理排序装置（8）、用于将所述合格品下料翻转装置（7）传送来的合格轴承座进行整理排序；轴承座推拉传动装置（9）、用于将各个装置下的轴承座依次传递到下一工位。2.根据权利要求1所述的推力球轴承轴承座检测系统，其特征在于，所述推力球轴承轴承座检测系统设置有一非合格品收集装置（10），所述非合格品收集装置（10）用于收集所述轴承座推拉传动装置（9）推送出来的不合格的轴承座。3.根据权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员：章干强，李伟君，许绪敏，苏进浩，
申请(专利权)人：浙江爱易特智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33