一种激光测距方法技术

技术编号:15432874 阅读:179 留言:0更新日期:2017-05-25 17:08
本发明专利技术公开了一种激光测距方法,针对待测物体的摆放位置发生偏移的问题,首先进行调整校正操作,即通过获取位于标准位置的参考待测物体上测量点的位置信息,并将对应的拍摄图像作为模板图像进行保存,在正式测量时,通过图像处理单元获得待测物体与参考待测物体之间的偏移信息,并根据该偏移信息和参考待测物体上测量点的位置信息计算出待测物体上实际测量点的位置信息,使激光器根据实际测量点的位置信息进行打点测距,避免受待测物体摆放位置的影响,提高了测量精度。

Laser range finding method

The invention discloses a laser ranging method for object position excursion problem, adjusting the operation first, through acquisition in the standard position of the reference measurement point position information of the object, and the corresponding image as a template image is preserved in the formal survey, obtained by the image processing unit object and reference object to offset information between, and according to the position information of the offset information and reference object to be measured on the measuring point to calculate the object position information of actual measurement point, the laser ranging based on location information RBI actual measurement points, avoid affected the object position, improve the measurement accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种激光测距方法
本专利技术涉及一种激光测距方法。
技术介绍
由于激光具有高亮度、高方向性、高单色性和高相干性等特征,能大大提高测量精确度,因此被广泛应用在测距装置上,激光测距方法具有原理简单、测量速度快、测程远的特点,然而在测距过程中,当物体发生偏移或转动时,测量的位置也随之发生偏移或转动,从而导致测量的数据不准确,最终降低了测量精度。
技术实现思路
本专利技术提供了一种激光测距方法,以解决现有技术中存在的测量精度低的问题。为了解决上述技术问题,本专利技术的技术方案是:一种激光测距方法,包括调整校正阶段和正式测量阶段,所述调整校正阶段包括以下步骤:S1:针对一个参考待测物体,在参考待测物体上设定若干测量点,将该参考待测物体移入图像采集单元的视场中,并调整为标准位置,通过图像采集单元拍摄参考待测物体,将拍摄的图像发送至图像处理单元以确定所述测量点的位置信息,并将该位置信息发送至激光器;S2:所述激光器根据接收的位置信息进行打点测距,确定打点位置正确后保存拍摄的图像,作为模板图像发送至图像处理单元;所述正式测量阶段包括以下步骤:S3:将待测物体移入图像采集单元的视场中,图像采集单元拍摄图像本文档来自技高网...
一种激光测距方法

【技术保护点】
一种激光测距方法,其特征在于,包括调整校正阶段和正式测量阶段,所述调整校正阶段包括以下步骤:S1:针对一个参考待测物体,在参考待测物体上设定若干测量点,将该参考待测物体移入图像采集单元的视场中,并调整为标准位置,通过图像采集单元拍摄参考待测物体,将拍摄的图像发送至图像处理单元以确定所述测量点的位置信息,并将该位置信息发送至激光器;S2:所述激光器根据接收的位置信息进行打点测距,确定打点位置正确后保存拍摄的图像,作为模板图像发送至图像处理单元;所述正式测量阶段包括以下步骤:S3:将待测物体移入图像采集单元的视场中,图像采集单元拍摄图像,并将获取到的图像发送至图像处理单元;S4:所述图像处理单元将...

【技术特征摘要】
1.一种激光测距方法,其特征在于,包括调整校正阶段和正式测量阶段,所述调整校正阶段包括以下步骤:S1:针对一个参考待测物体,在参考待测物体上设定若干测量点,将该参考待测物体移入图像采集单元的视场中,并调整为标准位置,通过图像采集单元拍摄参考待测物体,将拍摄的图像发送至图像处理单元以确定所述测量点的位置信息,并将该位置信息发送至激光器;S2:所述激光器根据接收的位置信息进行打点测距,确定打点位置正确后保存拍摄的图像,作为模板图像发送至图像处理单元;所述正式测量阶段包括以下步骤:S3:将待测物体移入图像采集单元的视场中,图像采集单元拍摄图像,并将获取到的图像发送至图像处理单元;S4:所述图像处理单元将步骤S3中获取的图像与模板图像进行对比,得到待测物体相对参考待测物体的偏移信息,并根据该偏移信息计算出该待测物体上实际测量点的位置信息,将该位置信息传递给激光器,所述激光器根据该位置信息进行打点测距。2.根据权利要求1所述的激光测距方法,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:靳登科鹿呈志姚光
申请(专利权)人:苏州逸美德科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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