线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种线圈测试方法及磁共振成像方法，所述线圈测试方法包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：a

Coil test device, magnetic resonance system, and output correction method and apparatus

The present invention provides a method for testing coil and magnetic resonance imaging methods, including the coil test method: the test device to be connected with the coil coil test, the signal output port of the device coil test sampling, sampling data corresponding to the signal output port; the output correction function call the corresponding port, to obtain the parameters of the signal output port of the value of the corresponding output port correction function is: a

【技术实现步骤摘要】
线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置本申请是申请日为2012年12月18日、申请号为“201210552668.8”、专利技术名称为“线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及磁共振成像
，特别涉及一种线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置。
技术介绍
磁共振成像(MRI，MagneticResonanceImaging)作为核磁共振应用的重要领域，由于其对人体软组织有极好的分辨力、成像参数能提供丰富的诊断信息、对人体没有电离辐射损伤等诸多优点，磁共振成像系统已成为医学临床诊断的主要工具之一。作为磁共振系统中接收信号的核心部件，射频线圈在直接接触人体使用前，需要利用线圈测试装置对线圈进行包括诸如传输特性、线圈类型等性能测试，确保经过性能测试后的线圈正常使用。在利用线圈测试装置对线圈进行测试或利用线圈对人体进行测试时，需要测量线圈测试装置或磁共振系统输出的多路电流和电压，将测量到的电流值和电压值作为判断线圈状态是否正常的标准之一。由于元器件差异的存在，得到的电流和电压的测量值和实际值之间会存在一定差异，为了消除此种由元器件差异对电路测量结果带来的不利影响，需要对线圈测试装置的输出进行校正，即对线圈测试装置或磁共振系统输出的电流和电压进行校正。现有技术中，对线圈测试装置的输出校正方法为：测量建立校正函数所需要的参数；将所述参数写入代码中；利用写入代码的参数建立校正函数；在实际测量输出的电流和电压时，调用校正函数，得到线圈测试装置输出端口的参数值。以校正线圈测试装置输出的电流为例，首先，在需要校正的线圈测试装置的输出端口接入负载电阻和电流表，参考图1所示，串联的负载电阻11和电流表12一端接需要校正的输出端口，另一端接地。读出此状态下电流表12的电流值，此电流值为校正参考电流值i0，并得到校正参考电流值i0经过电流/电压转换和模数转换后对应的校正采样数据I0。将校正参考电流值i0和校正采样数据I0写入代码中，并建立校正函数：ix：i0＝Ix：I0，其中，ix表示输出端口的电流值，Ix表示输出端口的电流值ix对应的采样数据。对此路输出端口的电流进行测量时，得到输出端口的电流值ix对应的采样值Ix，通过调用校正函数：ix：i0＝Ix：I0，便可以得到输出端口的电流值ix。然而，利用上述方法对线圈测试装置的输出进行校正具有以下缺点：在实际校正中发现，利用上述方法对电流校正后得到的测量值准确度较低，由于元器件差异对电路测量结果仍会产生较大影响；线圈测试装置有多路电流和电压输出，对每一路的测量都要分别重复上述步骤，校正效率较低；对每一路的测量，需要将校正参考电流值i0和校正采样数据I0写入代码中，因此，需要将代码公开，降低了对需要保密的代码的安全性。更多关于磁共振系统中数据校正方法的技术方案可以参考申请号为200910254204.7、专利技术名称为用于确定失真校正数据的方法和装置的中国专利申请文件。
技术实现思路
本专利技术解决的是对线圈测试装置的输出校正产生的校正结果准确度低、校正依赖于代码和校正效率低的问题。为解决上述问题，本专利技术提供了一种线圈测试装置的输出校正方法，所述线圈测试装置的输出校正方法包括：在线圈测试装置的输出端口未接入负载时，对所述输出端口的信号进行采样，得到第一校正数据；在所述输出端口接入可调负载和测量仪表；调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为预定值，对所述输出端口的信号进行采样，得到第二校正数据；建立所述输出端口对应的校正函数：ax*(A1-A0)＝(Ax-A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示所述第一校正数据，A1表示所述第二校正数据，N表示所述预定值；在实际测量时，对所述输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值。可选的，所述可调负载为可调电阻。可选的，所述输出端口的信号为电流信号。可选的，所述测量仪表为电流表，所述电流表与所述可调负载串联。可选的，所述对所述输出端口的信号进行采样包括对所述输出端口的信号进行电流/电压转换和模数转换。可选的，所述输出端口的信号为电压信号。可选的，所述测量仪表为电压表，所述电压表与所述可调负载并联。可选的，所述对所述输出端口的信号进行采样包括对所述输出端口的信号进行模数转换。为解决上述问题，本专利技术还提供了一种线圈测试装置的输出校正装置，所述线圈测试装置的输出校正装置包括：采样单元，用于对线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；存储单元，用于存储所述输出端口对应的校正函数：ax*(A1-A0)＝(Ax-A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A1表示第二校正数据，N表示预定值；所述第一校正数据为所述输出端口未接入负载时，所述采样单元得到的所述输出端口的信号对应的采样数据；所述第二校正数据为所述输出端口接入可调负载和测量仪表后，调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为所述预定值时，所述采样单元得到的所述输出端口的信号对应的采样数据；控制单元，用于控制所述采样单元和所述存储单元的工作，并在测量时，根据所述采样单元得到的所述输出端口的信号对应的采样数据，调用所述存储单元存储的所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值。可选的，还包括：开关单元，在所述控制单元的控制下，以使所述可调负载和测量仪表接入所述输出端口或者使所述可调负载和测量仪表与所述输出端口断开连接。基于上述线圈测试装置的输出校正方法和装置，本专利技术还提供了一种线圈测试装置，所述线圈测试装置包括用于对线圈进行测试的测试单元，还包括上述线圈测试装置的输出校正装置。基于上述线圈测试装置的输出校正方法和装置，本专利技术实施例还提供了一种磁共振系统的输出校正方法，所述磁共振系统的输出校正方法包括：在磁共振系统的输出端口未接入负载时，对所述输出端口的信号进行采样，得到第一校正数据；在所述输出端口接入可调负载和测量仪表；调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为预定值，对所述输出端口的信号进行采样，得到第二校正数据；建立所述输出端口对应的校正函数：ax*(A1-A0)＝(Ax-A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示所述第一校正数据，A1表示所述第二校正数据，N表示所述预定值；在实际测量时，对所述输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值。基于上述磁共振系统的输出校正方法，本专利技术实施例还提供了一种磁共振系统的输出校正装置，所述磁共振系统的输出校正装置包括：采样单元，用于对磁共振系统的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；存储单元，用于存储所述输出端口对应的校正函数：ax*(A1-A0)＝(Ax-A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线圈测试方法，其特征在于，包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：a

【技术特征摘要】
1.一种线圈测试方法，其特征在于，包括：将待测线圈与线圈测试装置连接，对所述线圈测试装置的输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值，所述输出端口对应的校正函数为：ax*(A1-A0)＝(Ax-A0)*N，其中，ax表示所述输出端口的信号的参数值，Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A0表示第一校正数据，A1表示第二校正数据，N表示预定值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一校正数据表示在所述线圈测试装置的输出端口未接入负载时，对所述输出端口的信号进行采样，得到的采样数据。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第二校正数据表示在所述线圈输出装置的输出端口接入可调负载和测量仪表，调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为预定值N，对所述输出端口的信号进行采样，得到的采样数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述线圈测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳昭衡，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31