一种硅片断栅检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种硅片断栅检测装置，包括托板、卡块和照明装置。托板呈倾斜设置，在其表面上用于放置硅片。托板上设置有卡块结构，当硅片放置时底端与卡块接触，能够阻挡硅片在重力的作用下向下滑动。托板的边缘位置设置照明装置，照明装置的灯光能够照射到硅片的表面。在使用时将硅片放置在托板上并由卡块限位，照明装置发射明亮的光线照射在硅板上，此时观察者与硅板呈很小的角度观察硅板表面的栅线结构，硅片的副栅线与观察者的视线垂直，以识别出副栅线是否存在断线。当硅板印刷完成后，直接放在托板上进行观察，实现在线检测的目的，若发现连续几个硅片出现同样的断栅问题，可以认定网眼被堵塞，需进行相应的调整。

Silicon chip broken gate detecting device

The utility model discloses a silicon chip broken gate detecting device, which comprises a supporting plate, a clamping block and an illuminating device. The pallet is disposed obliquely for placing silicon wafers on its surface. The supporting plate is provided with a clamping block structure, and when the silicon wafer is placed, the bottom end is contacted with the clamping block, so that the silicon chip can be prevented from sliding downward under the action of gravity. The edge of the supporting plate is provided with an illuminating device, and the light of the illuminating device can irradiate the surface of the silicon chip. When in use, will be placed on the wafer pallet by block limit, lighting device emit bright light in the silicon plate, then the observer and the silicon plate was very small angle on the gate line structure of silicon on the surface of the plate, side gate line silicon and the line of sight perpendicular to identify side is there a gate line disconnection. When the silicon plate printing is completed, directly on the board to observe, realize online detection purposes, if found several wafer broken gate the same problem can be identified, mesh is blocked, the need for the corresponding adjustment.

【技术实现步骤摘要】
一种硅片断栅检测装置
本技术涉及太阳能硅片检测
，更进一步涉及一种硅片断栅检测装置。
技术介绍
晶体硅片材料的硅晶光伏技术在很长一段时间内都将保持光伏市场的主流地位，丝网印刷是电池端重要的制备流程之一，丝网印刷的原理是通过刮条挤压丝网，发生弹性变形后将浆料漏印在需要印刷的材料上的一种印刷方式，丝网印刷是目前普遍采用的一种电池印刷工艺。受浆料和网版的影响，有时在印刷图形的部分区域会发生堵塞，造成浆料无法顺利通过网目，形成栅线断线。太阳能硅片上栅线的主要作用是收集电流，若出现断栅的情况就无法正常收集电流，降低电池效率，并且会导致外观降级，影响良品率。目前已有检测设备可筛选断栅电池片，但现有的断栅检测技术都是针对已完成的电池片进行指检测分选，若网目出现堵塞，会造成整批的硅片均出现断栅问题，降低了良品率。因此，对于本领域的技术人员来说，设计一种在印刷完成后对硅片进行断栅检测的装置，是目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
本技术提供一种硅片断栅检测装置，能够在印刷完成后对硅片进行断栅检测，提高检测效率。具体方案如下：一种硅片断栅检测装置，包括倾斜设置的、用于放置硅片的托板，所述托板上设置用于防止硅片下滑的卡块，所述托板的边缘位置设置照明装置，所述照明装置的灯光能够照射到硅片的表面。可选地，所述托板上设置取放槽，硅片的边缘能够悬浮在所述取放槽之上。可选地，所述取放槽位于所述托板的中部，并沿水平方向贯通整个所述托板。可选地，所述照明装置上设置灯罩，所述灯罩用于阻挡所述照明装置的光线直射人眼。可选地，所述照明装置包括设置于所述托板顶端的多个灯泡，所述灯罩呈弧状将多个灯泡半包围。可选地，所述托板的底端设置转轴，顶端固定连接支撑架，通过调节所述支撑架的长度能够改变所述托板倾斜的角度。可选地，所述支撑架包括相互套装的上杆与下杆，所述上杆与所述下杆上对应开设多个不同高度的通孔，通过固定柱插入不同对应位置的通孔中以调节所述支撑架的长度。可选地，所述托板的底部竖直设置旋转轴，所述托板能够绕所述旋转轴的轴线旋转。可选地，所述旋转轴处设置锁定装置，能够将所述托板锁定在特定的角度。本技术提供了一种硅片断栅检测装置，用于在生产线上检测硅片的断栅情况，包括托板，在托板上设置卡块和照明装置。托板呈倾斜设置，在其表面上用于放置硅片，硅片贴在托板的表面上也呈倾斜放置。托板上设置有卡块结构，当硅片放置时底端与卡块接触，能够阻挡硅片在重力的作用下向下滑动，对硅片起到定位的作用。托板的边缘位置设置照明装置，照明装置的灯光能够照射到硅片的表面，光线在硅片上反射。在使用时，将硅片放置在托板上，由卡块限位与托板的板面保持平行状态，照明装置发射明亮的光线照射在硅板上，此时观察者与硅板呈很小的角度观察硅板表面的栅线结构，硅片的副栅线与观察者的视线垂直，通过明亮的光线照射可以清楚地看到细小的副栅线的结构，从而方便识别出副栅线是否存在断线。当硅板印刷完成后，直接放在托板上进行观察，从而实现在线检测的目的，若发现连续几个硅片出现同样的断栅问题，可以认定网眼被堵塞，需进行相应的调整。由于托板呈一定的倾斜角度，可与观察者的视线保持近似平行的状态，观察的效果更好。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的硅片断栅检测装置的侧视图；图2为本技术提供的硅片断栅检测装置的俯视图。其中包括:托板1、取放槽11、卡块2、照明装置3、灯罩31、支撑架4、旋转轴5。具体实施方式本技术的核心在于提供一种硅片断栅检测装置，能够在印刷完成后对硅片进行断栅检测，提高检测效率。为了使本领域的技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面将结合附图及具体的实施方式，对本申请的硅片断栅检测装置进行详细的介绍说明。如图1和图2所示，分别表示本申请提供的硅片断栅检测装置的侧视图和俯视图；其中A表示硅板，B表示人眼位置。该装置包括托板1、卡块2和照明装置3等结构。托板1呈倾斜设置，其表面上用于放置硅片，硅片与托板1的表面贴合，两者的倾斜角度一致。在托板1上设置的卡块2，卡块2与硅板的底端接触，用于对硅板提供支撑力，防止硅板向下滑动。在托板1的边缘位置设置照明装置3，照明装置3的灯光能够照射到硅片的表面，硅板能够反射照明装置3所发射的光线。在使用时，将硅片放置在托板1上，由卡块2限位，与托板1的板面保持平行状态，照明装置3发射明亮的光线照射在硅板上，此时观察者视线与硅板呈很小的角度，观察硅板表面的栅线结构，硅片的副栅线与观察者的视线垂直，通过明亮的光线照射可以清楚地看到细小的副栅线的结构，从而方便识别出副栅线是否存在断线。当硅板印刷完成后，直接放在托板上进行观察，从而实现在线检测的目的，若发现连续几个硅片出现同样的断栅问题，可以认定网眼被堵塞，需进行相应的调整。由于托板1呈一定的倾斜角度设置，可与观察者的视线保持近似平行的状态，观察的效果更好，传统的检测方式是操作者一手拿硅板，另一手用照明工具照射，没有固定的结构，观察时十分不便。具体地，为了方便取放硅板，在托板1上设置取放槽11，取放槽11为设置于托板1上的凹槽结构，在将硅片放置到位时，硅片的边缘能够悬浮在取放槽11之上，凹槽能够容纳手指，在拿起硅板时手指进入凹槽内，可以更为便捷地取下硅板。若没有凹槽结构，在拿起时需要用细小的物体扣起硅板，降低了检测的效率。取放槽11的具体结构可以根据需要作相应的设定，可以为开设在托板上的通孔，也可以是板面上向下凹陷的部分，只要能够允许手指能够从下托起硅板的结构都是可以的。具体地，本技术在此提供一种优选的实施例，取放槽11位于托板1的中部，并沿水平方向贯通整个托板1。如图1所示，此取放槽11为托板1向下凹陷的一块结构，其截面呈半圆形或者其他任意形状。在整个托板1上可以设置一个取放槽11，也可以设置多个，只要有能够使硅片的一个边缘悬空即可。此实施例中，取放槽11为水平设置的一整个贯通结构，若设置为多个独立的小凹槽也是可以的，这里所说的贯通是指从一侧到另一侧没有阻碍，相互连通，在放置硅板时会形成两侧连通的通道，并非指将托板1打穿。另外，取放槽11也不仅限于水平设置，可以在板面上任意角度设置。具体地，为了防止光线对人眼直射损害视力，在照明装置3上设置灯罩31，灯罩31用于阻挡照明装置3的光线直射人眼，仅留出照射硅板的缝隙。具体地，照明装置3包括设置于托板1顶端的多个灯泡，灯罩31呈弧状将多个灯泡半包围。多个灯泡的设置方式也是一种优选结构，若为一整条灯管也是可以的，只要能够提供明亮的光线的设置方式都是可以的，而且照明装置3的位置也不仅限于托板1的顶部，设置在侧面也可以的。但此时与观察者的视线垂直，对观察造成一定的干扰。灯罩采用圆弧形的结构，将人眼所在的一侧遮挡，光线不直射眼睛。在上述任一技术方案及其相互组合的基础上，为了提高托板1的适用场景，在托板1的底端设置转轴，托板1可绕转轴转动。顶端固定连接支撑架4，通过支撑架4对托板1提供支撑力。通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硅片断栅检测装置，其特征在于，包括倾斜设置的、用于放置硅片的托板(1)，所述托板(1)上设置用于防止硅片下滑的卡块(2)，所述托板(1)的边缘位置设置照明装置(3)，所述照明装置(3)的灯光能够照射到硅片的表面。

【技术特征摘要】
1.一种硅片断栅检测装置，其特征在于，包括倾斜设置的、用于放置硅片的托板(1)，所述托板(1)上设置用于防止硅片下滑的卡块(2)，所述托板(1)的边缘位置设置照明装置(3)，所述照明装置(3)的灯光能够照射到硅片的表面。2.根据权利要求1所述的硅片断栅检测装置，其特征在于，所述托板(1)上设置取放槽(11)，硅片的边缘能够悬浮在所述取放槽(11)之上。3.根据权利要求2所述的硅片断栅检测装置，其特征在于，所述取放槽(11)位于所述托板(1)的中部，并沿水平方向贯通整个所述托板(1)。4.根据权利要求2所述的硅片断栅检测装置，其特征在于，所述照明装置(3)上设置灯罩(31)，所述灯罩(31)用于阻挡所述照明装置(3)的光线直射人眼。5.根据权利要求4所述的硅片断栅检测装置，其特征在于，所述照明装置(3)包括设置于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张范，郑霈霆，张昕宇，金浩，金井升，许佳平，孙海杰，郭瑶，
申请(专利权)人：浙江晶科能源有限公司，晶科能源有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33