一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法和装置，其中，测试方法包括：将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主栅电池片的位置进行校正；上升电池片承载平台，待真空吸附电池片后，撤离校正机构；上升电池片承载平台的下探针排，使得下探针排刺入无主栅电池片的背面；下压正面测试平台，使得正面测试平台的丝网结构压入无主栅电池片的正面栅线；启动测试机构的氙灯，使得无主栅电池片光致发电，同时测量出无主栅电池片的电性能。所述晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法和装置，采用丝网结构压入电极，保证了测量的准确性，承载台吸附住电池片背面，使得上下测量时电池片保持压力平衡，从而避免电池片的破裂。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及晶硅太阳能电池片测试
，特别是涉及一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置。
技术介绍
目前常规的晶硅太阳能电池片，在正面会有3-5根银浆的主栅线，主栅线会对太阳能电池表面进行遮挡，从而影响电池片对光的吸收，进而影响其发电效率。后续新型的晶硅太阳能电池片，正面主栅线取消，但是对于测试电池片的电性能又带来新的困难。目前常规的太阳能电池片测量是采用上下两排探针排的机构测量电池片的电性能。高效的太阳能电池片(IBC,MWT技术的太阳能电池片)则是将正负电极都引入背面，从而在背面收集电性能信号进行测试。现有的无主栅太阳能电池片量测设备的探针排的缺点是：上下探针排的压力不均匀，导致晶硅太阳能电池片破裂；使用平头探针，假如太阳能电池片电极发生氧化，则探针头无法刺入电极，导致测量不准确。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置，保证测量准确性的同时，避免了电池片的破裂。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，包括：将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主栅电池片的位置进行校正；上升所述电池片承载平台，待真空吸附电池片后，撤离所述校正机构；上升所述电池片承载平台的下探针排，使得所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面；下压正面测试平台，使得所述正面测试平台的丝网结构压入所述无主栅电池片的正面栅线；启动测试机构的氙灯，使得所述无主栅电池片光致发电，同时测量出所述无主栅电池片的电性能。其中，所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面的深度为0.1mm。其中，在所述启动测试机构的氙灯，进行启动的光致发电，同时测量出所述无主栅电池片的电性能之后，还包括：在所述电池片承载平台释放真空0.5s后，下降所述电池片承载平台，使得所述无主栅电池片放置在传送皮带上，并由所述传送皮带将所述无主栅电池片传到下一工位。除此之外，本专利技术实施例还提供了一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置，包括：校正机构，所述校正机构用于对无主栅电池片的位置进行校正；测试平台，所述测试平台包括正面测试平台和电池片承载平台，所述电池片承载平台用于放置所述无主栅电池片，所述电池片承载平台的正面设置有多个真空吸附孔，用于吸附所述无主栅电池片，所述电池片承载平台设置有方向向上的下探针排，所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面；正面测试平台，所述正面测试平台的底部设置有丝网结构，用于在所述丝网结构压入所述无主栅电池片的正面栅线后，与所述电池片承载平台共同完成对所述无主栅电池片的电性能的测量。其中，所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面的深度为0.1mm。其中，所述网框结构上设置有多条与所述无主栅电池片的正面栅线相对应的金属丝线，所述金属丝线随着高度的降低宽度收窄其中，多个所述真空吸附孔组成真空吸附孔排，所述真空吸附孔排与所述下探针排平行设置。其中，所述电池片承载平台还包括用于供所述下探针排升降用的探针透出孔。其中，所述真空吸附孔排与相邻的所述真空吸附孔排或所述下探针排等间距设置，和/或相邻两排所述下探针排之间设置有两排所述真空吸附孔排。其中，所述电池片承载平台的正面设置有至少一条与所述下探针排平行的避让槽，所述避让槽用于放置用于将完成测试的所述无主栅电池片传送到下一工位的传送带。本专利技术实施例所提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法及装置，与现有技术相比，具有以下优点：本专利技术实施例提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，包括：将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主栅电池片的位置进行校正；上升所述电池片承载平台，待真空吸附电池片后，撤离所述校正机构；上升所述电池片承载平台的下探针排，使得所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面；下压正面测试平台，使得所述正面测试平台的丝网结构压入所述无主栅电池片的正面栅线；启动测试机构的氙灯，使得所述无主栅电池片光致发电，同时测量出所述无主栅电池片的电性能。本专利技术实施例提供的本专利技术实施例还提供了的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置，包括：校正机构，所述校正机构用于对无主栅电池片的位置进行校正；测试平台，所述测试平台包括正面测试平台和电池片承载平台，所述电池片承载平台用于放置所述无主栅电池片，所述电池片承载平台的正面设置有多个真空吸附孔，用于吸附所述无主栅电池片，所述电池片承载平台设置有方向向上的下探针排，所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面；正面测试平台，所述正面测试平台的底部设置有丝网结构，用于在所述丝网结构压入所述无主栅电池片的正面栅线后，与所述电池片承载平台共同完成对所述无主栅电池片的电性能的测量。所述晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法和装置，通过采用丝网结构压入电极，保证了测量的准确性，使用承载台吸附住电池片背面，使得上下测量时电池片保持压力平衡，从而避免电池片的破裂。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例所提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法的一种具体实施方式的步骤流程示意图；图2为本专利技术实施例所提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置的测试平台一种具体实施方式的正视图示意图；图3为本专利技术实施例所提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置的电池片承载平台的俯视图结构示意图；图4为本专利技术实施例所提供的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置的丝网结构的一种结构示意图。具体实施方式正如
技术介绍
部分所述，现有的无主栅太阳能电池片量测设备的探针排的缺点是：上下探针排的压力不均匀，导致晶硅太阳能电池片破裂；使用平头探针，假如太阳能电池片电极发生氧化，则探针头无法刺入电极，导致测量不准确。基于此，本专利技术实施例提供了一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，包括：将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主栅电池片的位置进行校正；上升所述电池片承载平台，待真空吸附电池本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，其特征在于，包括：将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主栅电池片的位置进行校正；上升所述电池片承载平台，待真空吸附电池片后，撤离所述校正机构；上升所述电池片承载平台的下探针排，使得所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面；下压正面测试平台，使得所述正面测试平台的丝网结构压入所述无主栅电池片的正面栅线；启动测试机构的氙灯，使得所述无主栅电池片光致发电，同时测量出所述无主栅电池片的电性能。

【技术特征摘要】
1.一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，其特征在于，包
括：
将无主栅电池片运输到电池片承载平台的上方，校正机构对无主
栅电池片的位置进行校正；
上升所述电池片承载平台，待真空吸附电池片后，撤离所述校正
机构；
上升所述电池片承载平台的下探针排，使得所述下探针排刺入所
述无主栅电池片的背面；
下压正面测试平台，使得所述正面测试平台的丝网结构压入所述
无主栅电池片的正面栅线；
启动测试机构的氙灯，使得所述无主栅电池片光致发电，同时测
量出所述无主栅电池片的电性能。
2.如权利要求1所述的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，
其特征在于，所述下探针排刺入所述无主栅电池片的背面的深度为
0.1mm。
3.如权利要求2所述的晶硅太阳能无主栅电池片IV测试方法，
其特征在于，在所述启动测试机构的氙灯，进行启动的光致发电，同
时测量出所述无主栅电池片的电性能之后，还包括：
在所述电池片承载平台释放真空0.5s后，下降所述电池片承载平
台，使得所述无主栅电池片放置在传送皮带上，并由所述传送皮带将
所述无主栅电池片传到下一工位。
4.一种晶硅太阳能无主栅电池片IV测试装置，其特征在于，包
括：
校正机构，所述校正机构用于对无主栅电池片的位置进行校正；
测试平台，所述测试平台包括正面测试平台和电池片承载平台，
所述电池片承载平台用于放置所述无主栅电池片，所述电池片承载平
台的正面设置有多个真空吸附孔，用于吸附所述无主栅电池片，所述
电池片承载平台设置有方...

【专利技术属性】
技术研发人员：卫志敏，
申请(专利权)人：浙江晶科能源有限公司，晶科能源有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33