一种Mura缺陷检出方法技术

本发明专利技术公开一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时设定检查区域大小；根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块；分割好区块后，采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；计算出上述参数后通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。本发明专利技术解决了液晶面板制造业中不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷的漏检问题，并在实际应用中检出效果明显，提升了Mura检出能力，更加有效精准。

A method for detecting Mura defects

The invention discloses a method for detection of Mura defects, which comprises the following steps: manual inspection of rectangle region of the liquid crystal panel according to the corresponding actual defect location type of defect moved to the panel, at the same time to check the setting of the size of the region; according to the actual type of defects will move good inspection area manually divided into several sub areas; the partition block after the brightness value of each CCD acquisition of each block, and then calculate the average luminance value, each block of the maximum brightness, brightness, brightness of the minimum standard deviation of these four parameters; the parameters calculated by comparing the parameters of the block after the abnormal detection, is the accurate position of the defect where. The invention solves the problems of missing such defects are dynamic, the LCD panel manufacturing in irregular Mura and unexpectedadverse Mura, and in the practical application of detection effect is obvious, to enhance the detection ability of Mura, more accurate and effective.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于液晶面板检测技术，具体涉及一种Mura缺陷检出方法。
技术介绍
Mura缺陷是TFT-LCD中一类常见的视觉缺陷，表现为低对比度、非均匀亮度区域，边缘模糊，通常大于一个像素，会给观察者带来视觉不适。同时Mura缺陷也是视觉缺陷中最为复杂和最难检测的，目前行业内通常采用经过专业训练的检测人员根据限度样本用人眼比对的方法进行检测，不可避免地引入主观认定等因素，容易产生不可靠的判定结果，且效率较低。近年来，研究人员开始研究利用机器视觉来代替人眼进行检测，多数采用的是临近区域辉度对比的方法。如图1所示，现有技术中，在检出Mura缺陷时将C区域分别与上下固定比对半径内的A&B区域进行辉度比对，从而找出差异检出缺陷。白Mura检出：黑Mura检出：但是上述现有方法只适用于规则的Mura检出，由于受比对半径的限制，该技术对不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷不能够较好的比对出差异，造成这类Mura缺陷的漏检。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术的目的在于解决现有技术中存在的不足，提供一种Mura缺陷检出方法，克服了液晶面板制造业中出现的不规则、不定形Mura以及突发不良Mura这类缺陷类型的漏检问题。技术方案：本专利技术所述的一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：(1)手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应大致缺陷位置，同时检查区域的大小根据实际需求设定，检查区域大小设定无相应规律，根据实际缺陷类型自行设定即可；(2)根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块，同时检查区域横纵方向的区块个数可随意调节，将缺陷较好地锁定在固定的区块内进行检查；(3)分割好区块后，利用相机拍摄液晶面板后采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；(4)计算出上述参数后根据实际缺陷类型，选取合适的参数进行比对，通常情况下使用标准偏差值较多，它反映了一个区块的辉度波动情况，波动越大说明辉度值不均匀，必定有缺陷存在，通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。进一步的，所述步骤(1)中，当实际缺陷为边缘弧状Mura时，则将检查区域移动到液晶面板的上半部分；当实际缺陷为角落黑点Mura时，则将检查区域移动到液晶面板的角落位置。进一步的，所述步骤(2)中，当缺陷形状为突发不良即斜线状Mura时，则将检查区域横向分成1*8区块，将该缺陷集中在最下方的一个区块内。若是其他缺陷形状，则按照实际情况而定，将检查区域等分成若干个小区块，将大致缺陷位置较好地锁定在固定的区块内进行检查。进一步的，所述步骤(3)中平均辉度值：辉度最大值：xmax＝max(x1、x2、x3、x4…xk)；辉度最小值：xmin＝min(x1、x2、x3、x4…xk)；标准偏差值：其中，为平均辉度值；x1、x2、x3、x4…xk分别指各CCD辉度值；k为区块内CCD个数，取值范围为实际区块内的个数；xmax为辉度最大值；xmin为辉度最小值；s为标准偏差值；xi是指各CCD辉度值。有益效果与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：(1)本专利技术对液晶面板制造业中出现的不规则Mura缺陷提出一种新型的检出方法，可有效针对不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷进行有效检出。(2)本专利技术中的液晶面板检查区域可根据实际缺陷类型移动到面板的任意位置，同时检查区域的大小可随意设定，使得对Mura缺陷检查更具有针对性。(3)本专利技术中的液晶面板检查区域可平均分成数区块，同时横纵方向区块数目可随意调节，保证将缺陷较好锁定在固定的区块内，再通过比较各区块间的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值将其检出。综上所述，本专利技术解决了液晶面板制造业中不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷的漏检问题，并在实际应用中检出效果明显，提升了Mura检出能力，更加有效精准。附图说明图1为
技术介绍
中缺陷检测示意图；图2为本专利技术中实际缺陷类型为边缘弧状时的检查区域图；图3为本专利技术中实际缺陷类型为角落黑点时的检查区域图；图4为本专利技术中缺陷形状为斜线状时的检查区域分区示意图；图5本专利技术中各区域辉度值示意图；图6实施例的检测流程示意图。具体实施方式下面对本专利技术技术方案进行详细说明，但是本专利技术的保护范围不局限于所述实施例。如图2至图5所示，本专利技术所述的一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：(1)手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷类型移动到面板的任意位置，同时检查区域的大小根据实际需求设定；当实际缺陷为边缘弧状Mura时，则将检查区域移动到液晶面板的上半部分；当实际缺陷为角落黑点Mura时，则将检查区域移动到液晶面板的角落位置；(2)根据缺陷的形状类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块，同时检查区域横纵方向的区块个数可随意调节，将缺陷较好地锁定在固定的区块内进行检查；当缺陷形状为突发不良即斜线状Mura时，则将检查区域横向分成1*8区块，将该缺陷集中在最下方的一个区块内；(3)分割好区块后，利用相机采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；平均辉度值：辉度最大值：xmax＝max(x1、x2、x3、x4…xk)；辉度最小值：xmin＝min(x1、x2、x3、x4…xk)；标准偏差值：其中，为平均辉度值；x1、x2、x3、x4…xk分别指各CCD辉度值；k为区块内CCD个数，取值范围为实际区块内的个数；xmax为辉度最大值；xmin为辉度最小值；s为标准偏差值；xi是指各CCD辉度值。(4)计算出上述参数后根据实际缺陷类型，选取合适的参数进行比对(参数计算出后，比较缺陷所在区块的四个参数与其他无缺陷区块的四个参数间哪些参数是存在明显差异的，从而将该1个或多个参数选定为该缺陷的设定参数，即为合适的参数)，通常情况下使用辉度标准偏差值较多，它反映了一个区块的辉度波动情况，波动越大说明辉度值不均匀，必定有缺陷存在，通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的位置。实施例1：以边缘Mura为例，针对该Mura类型将液晶面板的检查区域设定在液晶面板的上半部分，再将该检查区域等分成9个区块，从而将缺陷集中在左上角区块内，分别计算出9个区块的四个参数，通过各参数比较可以发现平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值这3个参数缺陷区域与无缺陷区域无明显差异，而辉度标准偏差值缺陷所在区块的35.39(左上角)明显大于其他8个区块，为此该缺陷可通过比较标准偏差值将其检出。标准偏差值存在差异的区块即为缺陷所在位置。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Mura缺陷检出方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时检查区域的大小根据实际需求设定；(2)根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块，同时检查区域横纵方向的区块个数可随意调节，将缺陷较好地锁定在固定的区块内进行检查；(3)分割好区块后，利用相机拍摄液晶面板后采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；(4)计算出上述参数后根据实际缺陷类型，选取合适的参数进行比对，通常情况下使用辉度标准偏差值较多，它反映了一个区块的辉度波动情况，波动越大说明辉度值不均匀，必定有缺陷存在，通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。

【技术特征摘要】
1.一种Mura缺陷检出方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时检查区域的大小根据实际需求设定；(2)根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块，同时检查区域横纵方向的区块个数可随意调节，将缺陷较好地锁定在固定的区块内进行检查；(3)分割好区块后，利用相机拍摄液晶面板后采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；(4)计算出上述参数后根据实际缺陷类型，选取合适的参数进行比对，通常情况下使用辉度标准偏差值较多，它反映了一个区块的辉度波动情况，波动越大说明辉度值不均匀，必定有缺陷存在，通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。2.根据权利要求1所述的Mura缺陷检出方法，其特征在于：所述步...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨阳，蔡扬，张梅金，
申请(专利权)人：南京华东电子信息科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32