【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
检出电子器件漏电失效点的方法，其特征在于：在漏电失效器件的过电截面上以渐增的方式加载电应力载荷，直到利用显微镜能够观察到该过电截面上出现局部烧蚀区域或局部烧熔区域，从而确定该局部烧蚀区域或局部烧熔区域即为电子器件漏电失效点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢劲松，霍玉杰，刘勤，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，北京绿安依科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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