一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法技术
ITO line reflection checking method for OGS touch screen
The invention discloses a touch screen OGS ITO line reflective inspection method, in the ITO line of adjacent line blank hollow rectangular array is provided, in order to eliminate the reflective inspection ITO go line shadow, then check the reflection. The invention can eliminate the shadow of the line, improve the quality of the OGS touch screen, and improve the reliability of the inspection.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及OGS触摸屏检测方法领域，具体是一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法。
技术介绍
OGS触摸屏中ITO走线中，由于ITO走线整体面积较大，线路之间空白较多，因此在点亮OGS触摸屏时易出现线路阴影。同时，在对OGS触摸屏的ITO走线进行反光检查时，也会由于相对的原因出现线路阴影，影响产品的整体品质和检查效果。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，以解决现有技术OGS触摸屏ITO走线线路阴影导致的问题。为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案为：一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：在ITO走线相邻线路之间空白处、每个线路内部空白处分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列减小ITO走线面积，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。所述的一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：相邻线路之间空白处设置的空心长方形阵列为多行多列空心长方形阵列。所述的一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：线路内部空白处的空心长方形阵列为单列多行空心长方形阵列。本专利技术在相邻线路空白处和每个线路内部空白处，分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列占据ITO走线空白处，以减小ITO走线面积，从而可消除线路的阴影，提高了OGS触摸屏的品质，并提高了检查可靠性。附图说明图1为本专利技术原理示意图。具体实施方式如图1所示，一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，在ITO走线相邻线路1之间空白处、每个线路1内部空白处分别设置空心长方形阵列2，利用空心长方形阵列2减小...
【技术保护点】
一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：在ITO走线相邻线路之间空白处、每个线路内部空白处分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列减小ITO走线面积，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。
【技术特征摘要】
1.一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：在ITO走线相邻线路之间空白处、每个线路内部空白处分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列减小ITO走线面积，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。2.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖新煌，林钟泉，
申请(专利权)人：晟光科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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