具有半导体性质Ⅱb型金刚石单晶的人工生长方法及装置制造方法及图纸

技术编号:15103696 阅读:152 留言:0更新日期:2017-04-08 14:07
一种具有半导体性质Ⅱb型金刚石单晶的人工生长方法及装置,该方法是向作为碳源的石墨中掺加氮化硼,使金刚石晶体在生长过程中有硼原子掺杂,高温高压条件下,将金刚石晶种置于金属触媒的底部,利用温度梯度法生长;生长装置包括导电片、导电石墨环、耐火保温套、石墨管、绝缘槽和导电石墨片,导电石墨片和绝缘槽设置在石墨管内,导电石墨片与绝缘槽形成金刚石单晶生长的封闭空间,石墨管的外侧设置有耐火保温套及端盖,端盖内设置有导电石墨环,端盖的外侧设置有导电片,导电石墨环的两端分别与石墨管和导电片接触。本发明专利技术采用高温高压条件,以掺加硼的石墨为碳源,利用温度梯度法生长出了粒径大于10mm且具有半导体性质的Ⅱb型的金刚石单晶。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种HPHT(高温高压)条件下,以掺加硼的石墨为碳源,利用温度梯度法生长具有半导体性质的Ⅱb型大颗粒金刚石单晶的方法及装置,属于Ⅱb型金刚石单晶生长

技术介绍
Ⅱb型金刚石是目前自然界已发现的最优的半导体材料,它的高导热系数、高电子和空穴迁移率、高介电击穿场、低介电损耗和宽带隙,是其它任何材料所不能比拟的。自然存在的具有半导体性质的Ⅱb型金刚石非常稀有,以至于已公开的研究、技术或方法都是将自然存在相对数量较大的或人工生长的Ⅱa型金刚石作为衬底材料,进行半导体晶片加工,所述的半导体晶片加工是指电子束照射、步进器,硅或其它常用半导体的微结构中采用的其它此类技术。中国专利文献CN1840472B公开的《金刚石单晶衬底的制造方法和金刚石单晶衬底》,是将HTHP方法生长的厘米级金刚石单晶机械加工后,按晶面和角度拼接以作为具有较大表面积的金刚石种衬底,在金刚石种衬底上通过化学气相沉积法外延生长具有较大表面积的金刚石晶体,并将其作为衬底材料进行半导体晶片加工。日本专利文献11-1392A公开的方法中半导体金刚石的制造是由低折射率平面组成的金刚石单晶制作大表面积的金刚石衬底,通过化学气相沉积在该平面上同相外延生长金刚石,作为金刚石半导体的衬底材料。日本专利文献3-75298A公开的方法是通过处理具有基本上相互同相的晶体取向的许多高压相物质,形成其具有化学气相生长的晶核作用的衬底,并通过化学气相沉积在衬底上生长单晶,从而得到大单晶。上述方法是基于人工HTHP方法生长的Ⅱa型金刚石单晶仅有厘米级,以其作为衬底很难采用为直径数英寸的晶片设计的加工装置,以及难以克服后续的抗光蚀层涂覆步骤的外围步骤中遇到的困难。上述CN1840472B公开的《金刚石单晶衬底的制造方法和金刚石单晶衬底》中描述的方法虽然克服了两个日本专利文献所述方法中的一些缺陷,但其指导思想和半导体金刚石的制备原理是一致的,都是先将多个较小表面积的单晶加工后拼接成具有较大表面积的晶体,以此作为种衬底,再利用化学气相沉积法在该种衬底上生长出较大表面积的金刚石晶体为衬底,进行金刚石半导体晶片加工。采用上述化学气相沉积法(CVD法)在金刚石晶体种衬底上生长具有较大表面积的金刚石晶体,并以此金刚石晶体为衬底进行金刚石半导体晶片加工,虽然能够适合现有的半导体晶片的加工装置,但在CVD法生长金刚石晶体时具有较大的困难。(1)已公知的技术表明金刚石单晶各个晶面在相同的温度、压力条件下的生长速度是不一致的,晶体的{100本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有半导体性质Ⅱb型金刚石单晶的人工生长方法,其特征是:向作为碳源的石墨中掺加氮化硼,使金刚石晶体在生长过程中有硼原子掺杂,在高于石墨与金属触媒共晶点温度10℃‑30℃以及压力5.6GPa‑5.9GPa的高温高压(HTHP)条件下,采用粒径0.5‑1mm的Ⅰa型金刚石晶种的一个{100}面或{110}面作为生长面,将金刚石晶种置于金属触媒的底部,利用温度梯度法生长,温度差20℃‑40℃,晶体沿生长面逐渐长大。

【技术特征摘要】
1.一种具有半导体性质Ⅱb型金刚石单晶的人工生长方法,其特征是:
向作为碳源的石墨中掺加氮化硼,使金刚石晶体在生长过程中有硼原子掺杂,在高于石墨...

【专利技术属性】
技术研发人员:王笃福王盛林王希江潘子明王希玮徐昌
申请(专利权)人:济南中乌新材料有限公司
类型:发明
国别省市:山东;37

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