一种测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种改进的测量系统；它由两个探测设备和一个数字信号处理电路构成，其中一个探测设备负责探测信号的大范围变化，称测到的信号为S0，另一个负责探测信号局部的细节，称测到的信号为S1，然后用数字信号处理电路对后续的信号处理，把这两个结果整合在一起，输出给显示设备。本发明专利技术能够兼顾测量的范围和精度，最大程度的得到原始信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种改进的测量系统，主要应用于电子设备的测量领域。
技术介绍
对于测量设备来说，测量的范围和精度很难同时兼顾，测量大范围信号的探测设备的构造与测量高精度的探测设备一般结构不同。为了同时得到大的信号探测范围和高的信号探测精度，目前一般是分两次测量叠加得到的。这样对于那种很难采集或者变化很快的信号来说，两次不同时刻的测量结果的叠加与原始信号的差异是很大的，无法使用。如何兼顾测量的范围和精度，最大程度的得到原始信号的这两方面信息是本专利技术要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种测量系统，能够兼顾测量的范围和精度，最大程度的得到原始信号。为解决上述技术问题，本专利技术的测量系统，包括：一第一探测设备，用于探测信号的大范围变化，并将测到的信号称为S0；一第二探测设备，用于探测信号的局部细节变化，并将测到的信号称为S1；一数字信号处理电路，对所述信号S0和S1进行整合，输出给显示设备。利用本专利技术的测量系统，可以在显示设备上同时观察信号的整体和局部细节，解决了现有系统无法兼顾测量范围和精度的问题。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明：图1是所述测量系统原理框图。具体实施方式结合图1所示，所述测量系统由两个探测设备和一个数字信号处理电路构成。其中一个探测设备，称T0(即图1中的第一探测设备)，负责探测信号的大范围变化，称测到的信号为S0。另一个探测设备，称T1(即图1中的第二探测设备)，负责探测信号局部的细节，称测到的信号为S1。S0和S1由数字信号处理电路进行整合，输出给显示设备。其中，T0是专门针对探测信号的大范围变化而设计的，T1是专门针对探测信号的高精度而设计的。所述“大范围变化”是指覆盖信号的整个取值空间的范围。所述“局部细节”是指在特定的一个小的取值空间内，更加细节的变化。比如：测量电压，这个电压信号可能在0～100V内变化，那么“大范围变化”指的就是0～100V范围内的变化。如果测量人员特别关心其中50V附近的信号细节，需要以1μV为精度观测50V附近信号附近的信号，那么这个“局部细节”就可以指49.999V到50.001V，在这个区间内以1μV的精度显示信号的测量值。在测量前，首先输入要测哪段范围内信号的局部细节信息，称局部信息的测量范围为W；W一方面控制T1去探测相应段的信号，另一方面送给数字信号处理电路，用于实现信号整合。数字信号处理电路实现信号整合的方法是：在S0上的W范围内，用S1来代替这段范围内的S0信号。所述测量系统通过两个分别针对大范围和高精度而设计的探测设备进行探测，能够得到大范围的信号S0和高精度的局部信号S1。由于探测设备只能在小范围内进行高精度的探测，所以在测量前先要设定局部信息的测量范围W。最后用数字信号处理电路把S0和S1整合起来，输出给显示设备。以上通过具体实施方式对本专利技术进行了详细的说明，但这些并非构成对本专利技术的限制。在不脱离本专利技术原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量系统，其特征在于，包括：一第一探测设备，用于探测信号的大范围变化，并将测到的信号称为S0；一第二探测设备，用于探测信号的局部细节变化，并将测到的信号称为S1；一数字信号处理电路，对所述信号S0和S1进行整合，输出给显示设备。

【技术特征摘要】
1.一种测量系统，其特征在于，包括：一第一探测设备，用于探测信号的大范围变化，并将测到的信号称为S0；一第二探测设备，用于探测信号的局部细节变化，并将测到的信号称为S1；一数字信号处理电路，对所述信号S0和S1进行整合，输出给显示设备。2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于：在测量前，确定信号局部细节变化的测量范围，并将该局部细节变化的测量范围称为W；W一方面...

【专利技术属性】
技术研发人员：王吉健，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31