测量方法及系统技术方案

技术编号:13302297 阅读:79 留言:0更新日期:2016-07-09 19:34
本发明专利技术揭示一种测量方法及系统。该测量方法包括:发射若干超声信号至被测流体;接收从被测流体中的颗粒反射或散射回来的回波信号;根据所述回波信号计算与颗粒属性有关的R参数的计算值;确定所述与颗粒属性有关的R参数的理论曲线;及根据所述R参数的计算值和所述R参数的理论曲线确定流体中颗粒的平均直径;根据所述颗粒的平均直径确定流体中颗粒的体积浓度。本发明专利技术也提供了一种测量系统,用来测量颗粒的平均直径和体积浓度。

【技术实现步骤摘要】
201410769173

【技术保护点】
一种测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:发射若干超声信号至被测流体;接收从被测流体中的颗粒反射或散射回来的回波信号;根据所述回波信号计算与颗粒属性有关的R参数的计算值;确定所述与颗粒属性有关的R参数的理论曲线;及根据所述R参数的计算值和所述R参数的理论曲线确定流体中颗粒的平均直径;根据所述颗粒的平均直径确定流体中颗粒的体积浓度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:梅艳袁龙涛牛冉尚卫华叶菁瞿鑫
申请(专利权)人:通用电气公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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