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文档序号:13302297
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本发明揭示一种测量方法及系统。该测量方法包括:发射若干超声信号至被测流体;接收从被测流体中的颗粒反射或散射回来的回波信号;根据所述回波信号计算与颗粒属性有关的R参数的计算值;确定所述与颗粒属性有关的R参数的理论曲线;及根据所述R参数的计算值...
该专利属于通用电气公司所有,仅供学习研究参考,未经过通用电气公司授权不得商用。
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