一种防止测量偏差的治具及其制造方法技术

本发明专利技术提供一种防止测量偏差的治具及其制造方法，该治具包括：一治具本体；和一真空吸附装置；其中，所述治具本体具有至少一定位槽，适于容纳至少一COF工件，形成一底部；所述治具本体还具有多个开孔，设置于所述凹槽所在所述底部，所述开孔与所述真空吸附装置形成真空吸附结构，以吸附所述COF工件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及摄像模组行业一种测量治具的设计，更进一步，涉及一种防止测量偏差治具的设计，该测量偏差治具的设计将真空吸附技术应用于COF测量治具的设计，使得COF稳定固定，解决了业界对于COF测试准确性的问题。
技术介绍
随着手机摄像模组的像素越来越高，对于各部件的制造的精确度以及工件的性能检测的要求也越来越高，几乎每个部件都要通过严格的检测才能被应用于产品中，因此测试过程的准确性以及可靠性对于部件的质量具有至关重要的把关作用。要得到性能优越的产品，先要保证测试过程中的准确性，任何一个小小的偏差都有可能使得一个合格品变为次品，造成产品资源的浪费，也有可能使得一个次品成为一个合格品而应用于整个产品的生产中，从而影响产品的整体性能。因此，不管是哪一种偏差，都会带来不良的结果。在COF(ChiponFPC柔性线路板芯片)工件测试的过程中，一直存在的一个问题就是COF工件的固定问题，无法稳定的固定COF工件，严重影响测试过程的准确性。在现有技术中，主要通过以下两种方式来解决COF工件的固定问题：其中一种方式是，使用高温胶将COF工件贴付于治具表面，测试完之后，再逐一将高温胶撕掉。很容易可以看到，这种方式虽然可以固定COF工件，可是存在众多问题，在高温胶粘贴过程需要耗费额外的人力与时间，增加了生产的成本，而在测试完之后，撕掉高温胶又需要耗时费力，而且如果贴付的高温胶没有清理干净，平整度不一致，就会直接影响下一个COF工件的测试，此外，对于高温胶的施加也要求较高，需要保证一定的平整度，其中仍然存在影响测量偏差的干扰，还有，产品的取放过程，可能会沾染高温胶，或者存在损伤COF测试工件的危险。另一种方式是，制作专用治具进行固定，也就是说，根据不同的测试产品，分别制作不同的固定治具。在这种方式中，由于治具无法完全统一，因此治具之间的通用性不强，而且治具的设计以及制造过程，都大大增加了工作量，相对于上一种解决方式，这种方式成本更高。因此，现有的解决方式中，并没有很好的解决COF工件测试过程中的固定问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其形成一种真空吸附结构，可以稳定固定COF测试工件，从而提高了COF测试的准确性和可靠性。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有至少一定位槽，适于容纳COF测试工件，从而稳定固定测试工件，在测试开始或者测试结束的过程中，防止外部因素使得COF工件不必要的滑动。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有至少一定位槽，适于容纳COF测试工件，适合不同工位的工作，也就是说，水平放置，倾斜放置，或者竖直放置等不同测试工位时，都可以使得COF稳定固定地完成测试过程。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体和一真空吸附装置，所述治具本体具有多个开孔，和真空吸附装置形成真空吸附结构，利用真空吸附技术，使得COF工件稳定地固定。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体和真空吸附装置，所述治具本体具有多个开孔，形成真空吸附结构，在测试开始与结束过程中，用于固定的吸附力可以快速形成和撤消，可以快速的完成工件的测试，连续的测试过程之间，互相不会产生影响。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，结构简单，操作方便，连续的测试过程相对独立。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，减少了不必要的手工作业，节省了工作时间，提高了工作效率。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有多个定位槽，适于不同COF测试工件的测试。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有一组耳朵槽，方便COF工件的取放。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有多个相互连通的定位槽，适于不同COF工件，充分利用治具本体，提高通用性，同时，方便不同测试工件的取放。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一治具本体，具有多个均匀分布的开孔，形成均匀的吸附作用，使得COF工件在测试过程中，受到均匀的吸附力，保证COF工件的平整度。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一种治具本体，具有多个开孔与真空吸附装置形成真空吸附结构，通过气体吸附力固定COF工件，不需要添加其他物体，如胶水等而影响COF工件的平整度，从而保证了COF工件测试的准确性。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一种方法，形成真空吸附结构，解决了COF工件在测试过程中的固定问题，提高了COF测试的准确性。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一种方法，对普通COF测量治具进行改进，利用真空吸附技术，解决业界COF测试准确性问题。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，其提供一种方法，提供一治具本体，具有至少一定位槽，适于容纳COF测试工件。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差的治具，提高测量准确性，操作方便，通用性强，降低生产成本投入，提高了生产效率。本专利技术的另一目的在于提供一种防止测量偏差治具的设计方法。为了实现以上专利技术目的，本专利技术提供一种防止测量偏差的治具的方法，包括如下步骤：(A)提供一治具本体，设置至少一定位槽于所述治具本体，形成一底部；(B)在所述定位槽所在的所述底部，设置多个开孔；(C)提供一真空吸附装置，连接于所述治具本体，与所述多个开孔形成真空吸附结构。根据本专利技术的一优选实施例，所述防止测量偏差的治具及其制造方法，还包括如下步骤：(D)在所述治具本体，开至少一组耳朵槽。根据本专利技术的一优选实施例，所述步骤(A)中的所述定位槽形状适于容纳一COF工件，所述定位槽与所述COF工件相匹配。根据本专利技术的一优选实施例，所述防止测量偏差的治具及其制造方法中，所述步骤(B)中的所述开孔均匀设置于所述底部。根据本专利技术的一优选实施例，所述防止测量偏差的治具及其制造方法中，其提供多个所述定位槽，相互独立，适于容纳多个所述COF工件。根据本专利技术的一优选实施例，所述防止测量偏差的治具及其制造方法中，其提供多个所述定位槽，相互连通，适于不同形状的COF工件测试。根据本专利技术的一优选实施例，所述防止测量偏差的治具及其制造方法中，所...

【技术保护点】
一种防止测量偏差治具的制造方法，其特征在于，包括如下步骤： (A)提供一治具本体，设置至少一定位槽于所述治具本体，形成一底部； (B)在所述定位槽所在的所述底部，设置多个开孔； (C)提供一真空吸附装置，连接于所述治具本体，与所述多个开孔形成真空吸附结构。

【技术特征摘要】
1.一种防止测量偏差治具的制造方法，其特征在于，包括如下步骤：
(A)提供一治具本体，设置至少一定位槽于所述治具本体，形成一底部；
(B)在所述定位槽所在的所述底部，设置多个开孔；
(C)提供一真空吸附装置，连接于所述治具本体，与所述多个开孔形成真空吸附结构。
2.如权利要求1所述方法，还包括如下步骤：
(D)在所述治具本体，开至少一组耳朵槽。
3.如权利要求1或2所述方法，所述步骤(A)中的所述定位槽形状适于容纳一COF工件，所述定位槽与所述COF工件相匹配。
4.如权利要求3所述方法，所述步骤(A)包括：提供多个阻挡板，连接于所述治具本体，形成一定位槽和一底部。
5.如权利要求3所述方法，所述步骤(B)中的所述开孔均匀设置于所述底部。
6.如权利要求3所述方法，其提供多个所述定位槽，相互独立，适于容纳多个所述COF工件。
7.如权利要求3所述方法，其提供多个所述定位槽，相互连通，适于不同形状的COF工件测试。
8.如权利要求2或4所述方法，所述步骤(C)中的真空吸附装置，包括一开关元件，控制所述真空吸附装置的工作。
9.如权利要求8所述方法，所述开关元件具有一打开状态和一闭合状态，当所述开关元件处于打开状态时，所述真空吸附装置工作，所述COF工件吸附于所述治具本体，当所述开关元件闭合状态时，所述真空吸附装置不工作，所述COF工件不受吸附力作用。
10.如权利要求3所述方法，所述定位槽的尺寸约为170mm*70mm。
11.如权利要求3所述方法，所述开孔的孔径内径约为2mm。
12.如权利要求4至7任一所述方法，所述定位槽为一凹槽，内凹地形成于所述治具本体。
13.一种防止测量偏差的治具，其特征在于，包括：
一治具本体；和
一真空吸...

【专利技术属性】
技术研发人员：王碧涛，周志阳，樊利权，王燕山，刘锋利，白军伟，李燃，宋丙献，何益君，
申请(专利权)人：宁波舜宇光电信息有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33