一种光学厚度检查机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学厚度检查机，包括检查设备和光谱测试仪，所述的检查设备和光谱测试仪之间通过光纤信号线连接；所述的检查设备包括设备平台和光学镜头定位杆；所述的光学镜头定位杆垂直安装在设备平台水平面上；所述的光学镜头定位杆上设有光学镜头，光学镜头通过支撑杆固定在光学镜头定位杆上；所述的光学镜头上设有光纤信号线，光学镜头通过光纤信号线与光谱测试仪相连接；所述的光学镜头定位杆的一侧还设有蓝光面光源区；所述的蓝光面光源区安装在设备平台水平面上。采用本结构对荧光膜的光学厚度进行检查，可根据客户需要的LED特性，选用适合的光学厚度等级的荧光膜进行生产，保证产品的良率在99%以上和客户的使用率在95%以上。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及设备制造领域，应用于半导体行业，具体地是涉及一种光学厚度检查机。
技术介绍
目前半导体行业中像CSP、LED生产工艺过程中主要的原材料是荧光膜，而荧光膜是硅胶和荧光粉的混合物，是通过设备控制其物理厚度制造而成，但是由于不同批次的荧光粉和硅胶的特性有差异，导致同一物理厚度的荧光膜在做成LED后发光时有差异，使得LED的特性要求得不到满足，产品的生产良率和客户的使用率得不到提升，以至产品最后的产量降低，所以为保证产品的产量和质量都得到提高，开发设计一种荧光膜的光学厚度检查机来对每个产品进行光学厚度检查是很有必要的。
技术实现思路
鉴于以上内容，本技术提供了一种光学厚度检查机，本结构对荧光膜的光学厚度进行检查，首先选用和LED芯片相同波长的面光源，对荧光膜的下方进行照射，在荧光膜的上方，安装光谱测试仪的镜头，对荧光膜进行光学测量；其次根据测量结果对荧光膜进行厚度的等级区分。可根据客户需要的LED特性，选用适合的光学厚度等级的荧光膜进行生产，保证产品的良率在99%以上和客户的使用率在95%以上。为达到上述目的，本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种光学厚度检查机，包括检查设备和光谱测试仪，所述的检查设备和光谱测试仪之间通过光纤信号线连接；所述的光谱测试仪位于检查设备的一侧；所述的检查设备包括设备平台和光学镜头定位杆；所述的光学镜头定位杆垂直安装在设备平台水平面上；所述的光学镜头定位杆上设有光学镜头，光学镜头通过支撑杆固定在光学镜头定位杆上；所述的光学镜头上设有光纤信号线，光学镜头通过光纤信号线与光谱测试仪相连接；所述的光学镜头定位杆的一侧还设有蓝光面光源区，蓝光面光源区是荧光膜检测光学厚度的放置区；所述的蓝光面光源区安装在设备平台水平面上，位于光学镜头的正下方；所述的设备平台的一侧面上还包含有蓝光光源电流设定区、蓝光光源电压设定区、机器电源开关和蓝光光源控制开关；所述的机器电源开关设置在设备平台一侧面上的一侧，位于靠近光学镜头定位杆的位置；所述的蓝光光源控制开关设置在设备平台一侧面上的一侧，位于远离机器电源开关的另一侧；所述的蓝光光源电流设定区和蓝光光源电压设定区设置在机器电源开关与蓝光光源控制开关的中间位置，所述的蓝光光源电流设定区位于靠近机器电源开关的一侧，所述的蓝光光源电压设定区则位于靠近蓝光光源控制开关的一侧。进一步地，所述的光学镜头可进行180°旋转。进一步地，所述的光学镜头定位杆上设有松紧装置，用于将光学镜头固定在光学镜头定位杆上，使得光学镜头可在光学镜头定位杆上进行上下移动。进一步地，所述的蓝光面光源区位于设备平台水平表面上的中间位置。由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列有益效果：1、在荧光膜阶段进行测试后，投产后的LED良率达到99%以上。2、可以根据客户的需求，选择所对应的光学厚度的膜，保证产品的客户可使用率达到95%以上。附图说明图1是一种贴膜机结构的结构示意图。图中1、光学镜头定位杆2、蓝光光源电流设定区3、蓝光光源电压设定区4、机器电源开关5、光学镜头6、蓝光面光源区7、蓝光光源控制开关8、光纤信号线9、光谱测试仪10、设备平台。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围：如图1所示的一种光学厚度检查机，包括检查设备和光谱测试仪9，所述的检查设备和光谱测试仪9之间通过光纤信号线8连接；所述的光谱测试仪9位于检查设备的一侧；所述的检查设备包括设备平台10和光学镜头定位杆1；所述的光学镜头定位杆1垂直安装在设备平台10水平面上；所述的光学镜头定位杆1上设有光学镜头5，光学镜头5通过支撑杆固定在光学镜头定位杆1上；所述的光学镜头5上设有光纤信号线8，光学镜头5通过光纤信号线8与光谱测试仪9相连接；所述的光学镜头定位杆1的一侧还设有蓝光面光源区6，蓝光面光源区6是荧光膜检测光学厚度的放置区；所述的蓝光面光源区6安装在设备平台10水平面上，位于光学镜头5的正下方；所述的设备平台10的一侧面上还包含有蓝光光源电流设定区2、蓝光光源电压设定区3、机器电源开关4和蓝光光源控制开关7；所述的机器电源开关4设置在设备平台10一侧面上的一侧，位于靠近光学镜头定位杆1的位置；所述的蓝光光源控制开关7设置在设备平台10一侧面上的一侧，位于远离机器电源开关4的另一侧；所述的蓝光光源电流设定区2和蓝光光源电压设定区3设置在机器电源开关4与蓝光光源控制开关7的中间位置，所述的蓝光光源电流设定区2位于靠近机器电源开关4的一侧，所述的蓝光光源电压设定区3则位于靠近蓝光光源控制开关7的一侧。进一步地，所述的光学镜头5可进行180°旋转。进一步地，所述的光学镜头定位杆上1设有松紧装置，用于将光学镜头5固定在光学镜头定位杆1上，使得光学镜头5可在光学镜头定位杆1上进行上下移动。进一步地，所述的蓝光面光源区6位于设备平台10水平表面上的中间位置。本技术的具体实施例如下：1、首先打开机器电源开关4，在蓝光光源电流设定区2和蓝光光源电流设定区3内设定需要的测试条件；2、将需要测试的荧光膜放到蓝光面光源区6；3、按一下蓝光光源控制开关7，确认蓝光面光源区6处于长亮状态；4、观察光谱测试仪9中的读数，待数据变化稳定后记录CIEY值；5、最后从蓝光面光源区6上取下荧光膜，至此完成测试。6、如果需要进行多次测试，则需重复2、4、5步骤即可。采用本结构对荧光膜的光学厚度进行检查，首先选用和LED芯片相同波长的面光源，对荧光膜的下方进行照射，在荧光膜的上方，安装光谱测试仪的镜头，对荧光膜进行光学测量；其次根据测量结果对荧光膜进行厚度的等级区分。可根据客户需要的LED特性，选用适合的光学厚度等级的荧光膜进行生产，保证产品的良率在99%以上和客户的使用率在95%以上。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并加以实施，并不能以此限制本技术的保护范围，凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学厚度检查机，其特征在于，包括检查设备和光谱测试仪，所述的检查设备和光谱测试仪之间通过光纤信号线连接；所述的光谱测试仪位于检查设备的一侧；所述的检查设备包括设备平台和光学镜头定位杆；所述的光学镜头定位杆垂直安装在设备平台水平面上；所述的光学镜头定位杆上设有光学镜头，光学镜头通过支撑杆固定在光学镜头定位杆上；所述的光学镜头上设有光纤信号线，光学镜头通过光纤信号线与光谱测试仪相连接；所述的光学镜头定位杆的一侧还设有蓝光面光源区，蓝光面光源区是荧光膜检测光学厚度的放置区；所述的蓝光面光源区安装在设备平台水平面上，位于光学镜头的正下方；所述的设备平台的一侧面上还包含有蓝光光源电流设定区、蓝光光源电压设定区、机器电源开关和蓝光光源控制开关；所述的机器电源开关设置在设备平台一侧面上的一侧，位于靠近光学镜头定位杆的位置；所述的蓝光光源控制开关设置在设备平台一侧面上的一侧，位于远离机器电源开关的另一侧；所述的蓝光光源电流设定区和蓝光光源电压设定区设置在机器电源开关与蓝光光源控制开关的中间位置，所述的蓝光光源电流设定区位于靠近机器电源开关的一侧，所述的蓝光光源电压设定区则位于靠近蓝光光源控制开关的一侧。...

【技术特征摘要】
1.一种光学厚度检查机，其特征在于，包括检查设备和光谱测试仪，所述的检查设备和光谱测试仪之间通过光纤信号线连接；所述的光谱测试仪位于检查设备的一侧；所述的检查设备包括设备平台和光学镜头定位杆；所述的光学镜头定位杆垂直安装在设备平台水平面上；所述的光学镜头定位杆上设有光学镜头，光学镜头通过支撑杆固定在光学镜头定位杆上；所述的光学镜头上设有光纤信号线，光学镜头通过光纤信号线与光谱测试仪相连接；所述的光学镜头定位杆的一侧还设有蓝光面光源区，蓝光面光源区是荧光膜检测光学厚度的放置区；所述的蓝光面光源区安装在设备平台水平面上，位于光学镜头的正下方；所述的设备平台的一侧面上还包含有蓝光光源电流设定区、蓝光光源电压设定区、机器电源开关和蓝光光源控制开关；所述的机器电源开关设置在设备平台一侧面上的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王智勇，
申请(专利权)人：昆山琉明光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32