光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法。可以简单且短时间地检查具备光源、图像读取传感器、以及读取光学系统的光学托架的特性。如下那样构成在具有读取开口（１１）的托架框架（１５）中，搭载有光源（９）、图像读取传感器（８）、以及将来自光源的反射光导入到图像读取传感器的反射镜（１０）和透镜（７）的光学托架（Ｃ）的检查装置。具备：保持托架框架的托架支撑台（２１）；保持测试图板的图板支撑台（２５）；使其移动位置的驱动单元（２８）；控制该驱动单元的控制单元（控制器）（３０）；以及对从传感器输出的读取信号与基准值进行比较的判别单元（计算机）（３５）。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光学托架的检查装置，其特征在于，在具有读取开口的托架框架中，搭载有：光源、图像读取传感器、以及将来自光源的反射光引导到图像读取传感器的反射镜和透镜，所述光学托架的检查装置具备：保持上述托架框架的托架支撑台；保持具备规定的检查图像的测试图板的图板支撑台；使上述图板支撑台移动位置的驱动单元；控制单元，控制上述驱动单元，以使上述图板支撑台移动位置而通过上述图像读取传感器读取上述检查图像；以及判别单元，对从上述图像读取传感器输出的读取信号与预先设定的基准值进行比较判别，上述托架支撑台由以使上述读取开口成为朝向下方的方式支撑上述托架框架的两侧端部的左右一对载置面构成，上述图板支撑台构成为能够在与支撑...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：河野博夫，加贺美有一，
申请(专利权)人：立志凯株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]